Cтраница 1
Применение электронографии для исследования полимеров основано на тех же принципах, что и применение рентгенографии. Одинаков и характер29 информации, получаемой этими методами. Вследствие меньших значений К для быстрых - электронов ( - 0 1 А) искажения, вносимые конечными размерами кристаллитов, начинают сказываться при меньших d ( - 100 А), но рефлексы значительно интенсивнее и экспозиции, требуемые для получения четких электронограмм, весьма невелики. Элек-тронограммы можно наблюдать непосредственно на светящихся экранах, а исследование производить в тонких образцах, что исключает необходимость учета многократного рассеяния в толще вещества. Приспособления для получения электронограмм имеются во всех современных электронных микроскопах. В последнее время проведены работы, в которых для исследования полимеров использован метод электронографии под малыми углами. [1]
Основные области применения электронографии связаны с особенностями рассеяния электронов. [2]
Обсуждены возможности применения электронографии к изучению структуры кристаллических полимеров. [3]
Нас интересует не столько применение электронографии, сколько сам факт дифракции электронов. Возвращаясь к нему, поставим самый важный вопрос: какова длина волны электронного пучка. На этот вопрос отвечает опыт. [4]
Одна из особенностей, предопределяющих область применения электронографии, - относительно малая проникающая способность электронного луча в материал. [5]
Наконец, скажем несколько слов о применении электронографии в заводской практике. Такого рода применение мало доступно даже для рентгенографии, являющейся более развитой и менее сложной по своей методике отраслью науки. Сведения о применениях электронографического контроля полированных изделий уже появлялись в зарубежной литературе; тем не менее использование электронографического метода для исследования больших количеств изделий встречает существенные затруднения. Необходимость введения образцов в эвакуированное пространство и регулировки пучка электронов, применение высокого напряжения - все это значительно осложняет использование электронографии в заводской практике. Все же характеристика структуры поверхности настолько существенна для некоторых промышленных изделий, что преодоление трудностей внедрения электронографического метода в производственный контроль - неотложная и важная задача. [6]
Конечно, этими примерами не ограничиваются все возможные области применения электронографии; можно было бы перечислить здесь и многие другие. Однако общие итоги исследовательских работ показывают, что электронография пока, в сравнении с рентгенографией, еще недостаточно проявила себя на практике. Трудности электронографических исследований еще не преодолены. [7]
За пятнадцать лет работы Лаборатории структуры поверхностных слоев Института физической химии АН СССР накоплено много материала по применению электронографии к исследованию поверхности твердого тела. Крупный раздел этой работы относится к проблемам строения и механизма образования окисных пленок на металлах. [8]
Кроме того, еще недостаточно разработаны приемы исследования кристаллических фаз в стеклах и не подготовлен материал, нужный для составления справочных таблиц, необходимых для применения электронографии и инфракрасной спектроскопии в методах сравнения. [9]
Применение электронографии в этой области было первоначально связано с тем, что при рентгенографических, исследованиях целлюлозы, каучука и других высокополимерных веществ получаются рентгенограммы, состоящие из сравнительна малого числа широких размытых линий. [10]
Сильное и неравномерное размытие немногочисленных интерференционных пятен и линий на рентгенограмме е-карбида не дало возможности однозначно расшифровать структуру этой фазы. Окончательно вопрос был решен путем применения электронографии ( гл. [11]
Выбор же той или иной области, где возможно применение электронографии, обусловлен особенностями диффракции электронов по сравнению сдиффракцией рентгеновских лучей. Прежде всего электроны как носители электрического заряда сильно взаимодействуют с веществом, поэтому проникающая способность электронных пучков сравнительно мала. [12]
Методы рентгенографии [33-37] относятся к наиболее точным методам исследования кристаллической структуры твердых гел, не требующим, как правило, тщательной подготовки образца, и, что особенно важно, являются неразрушающими. Тонкие поверхностные пленки толщиной до 100 нм могут изучаться с применением электронографии [38-40], однако процесс подготовки образца оказывается довольно сложным, так как пленку необходимо отделить от подложки и укрепить на сетчатом держателе электронного микроскопа. [13]
Разумеется, несмотря на то что все три дифракционных метода достаточно самостоятельны, каждый из них следует применять для решения таких задач, которые именно данным методом будут решены наиболее эффективно. При этом наиболее универсальным ( хотя и имеющим свои ограничения) является рентгенографический метод более ограничено поле применения электронографии и наиболее узок ( удобен для решения лишь некоторых задач) метод нейтро-нографический. [14]
Метод электронографии не всегда может быть использован для установления структуры молекул. Как уже указывалось, он с трудом определяет положение атомов водорода. Применение электронографии встречает большие затруднения в случае сложных молекул, содержащих много различных групп атомов. [15]