Пример - рассмотрение
Cтраница 2
Взаимосвязь химической кинетики и условий диффузии ( диффузионная кинетика) может быть выявлена на примере рассмотрения реакции на поверхности, участки которой в диффузионном отношении можно считать одинаково доступными, при этом условно принимается, что диффузионный перенос не зависит от протекания химической реакции на поверхности. [16]
Мы попытаемся предложить здесь все же такое определение и обсудим вытекающие из него выводы на примере рассмотрения двух существенно различающихся по атомному строению материалов: полимеров и кристаллов. [17]
По полноте и научному уровню изложения эта глава, дополненная и отредактированная профессором П. Ф. Папковичем, может служить примером глубокого и всеобъемлющего рассмотрения вопроса. [18]
Результаты подобных исследований в области проектирования и анализа разработки нефтяных месторождений могут представлять определенный интерес, в чем можно убедиться на примере рассмотрения истории проектирования разработки пластов АЗ и А4 Кулешовского месторождения, краткого анализа их разработки и сопоставительного анализа проектных и фактических характеристик вытеснения. [19]
Возмущающим параметром, как упоминалось выше, может быть температура, концентрация, какое-либо поле. Уравнение (1.3) подтверждено на примере рассмотрения смесей высокомолеку - лярных соединений нефти в работах / 6 7 / и углеводородных смесей процессов пиролиза. [20]
Силикаты редко имеют идеальный состав простого химического соединения. Это очень хорошо видно на примере рассмотрения типичного образца роговой обманки. [21]
Настоящая глава в основном посвящена детерминированным задачам оптимального управления. Основная цель при этом - на примере рассмотрения относительно простых задач выделить основные идеи, с помощью которых могут успешно решаться как эти задачи, так и задачи других более сложных классов. [22]
Первым и наиболее важным из этих факторов является величина максимального перемещения подвижного зеркала. Роль такого перемещения может быть понята на примере рассмотрения спектра, состоящего из двух близко расположенных спектральных линий vi и V2 - Соответствующая интерферограмма представляет собой сумму двух волн косинусоид, генерируемых этими линиями, и чем ближе расположены частоты линий, тем большей должна быть оптическая разность хода, необходимая для появления различий в фазах волн и возникновения биений в интерферо-грамме. На этом основан метод Майкельсона, использовавшийся в его первых работах. [23]
Вероятностный характер такой системы легко продемонстрировать на примере рассмотрения дифракции светового луча при прохождении узкой щели. Если за щелью поместить фотографическую пластинку, то после необходимой экспозиции получается дифракционная картина, на которой будут видны темные и светлые области, соответствующие высокой и низкой интенсивности. Если рассмотреть луч с очень малой интенсивностью, то очевидно, что мы не сможем точно указать, в какое место пластинки попадают фотоны. [24]
Аналогичным образом влияет на способность осуществлять пространственную фильтрацию неоднородность чувствительности приемника, характеризуемая величинами а и Р, определяющими корреляционный масштаб чувствительности. Даже для идеального случая фильтрации, когда а Р 0, но отличны от нуля аир, фильтрующая способность приемника ухудшается, поскольку и в этом случае имеет место несовпадение нулей функций приемника и фильтруемого процесса. Таким образом, на примере рассмотрения возможности организации пространственной фильтрации с помощью единичного приемника давления видно, что глубина фильтрации ограничивается физическими свойствами фильтруемого процесса и конструктивными особенностями преобразователя, искажающими однородность распределения чувствительности в пределах его площади. [25]
Это уравнение показывает, что имеется определенная связь между плотностью частиц и квадратом волновой функции. Вероятностный характер такой системы легко продемонстрировать на примере рассмотрения дифракции светового луча при прохождении узкой щели. Если за щелью поместить фотографическую пластинку, то после соответствующей экспозиции получается дифракционная картина, на которой будут видны темные и светлые области, соответствующие высокой и низкой интенсивности. Там, где интенсивность падающих на пластинку фотонов велика, после экспозиции появится темная область, а там, где интенсивность мала, - светлая. Если рассмотреть луч с очень малой интенсивностью, то очевидно, что мы не сможем точно указать, в какое место пластинки попадают фотоны. В наиболее темных местах пластинки вероятность попадания фотонов будет, конечно, наибольшей. [26]
Это уравнение показывает, что имеется определенная связь между плотностью частиц и квадратом волновой функции. Вероятностный характер такой системы легко продемонстрировать на примере рассмотрения дифракции светового луча при прохождении узкой щели. Если за щелью поместить фотографическую пластинку, то после необходимой экспозиции получается дифракционная картина, на которой будут видны темные и светлые области, соответствующие высокой и низкой интенсивности. Там, где интенсивность падающих на пластинку фотонов велика, после экспозиции появится темная область, а там, где интенсивность мала, - светлая. Если рассмотреть луч с очень малой интенсивностью, то очевидно, что мы не сможем точно указать, в какое место пластинки попадают фотоны. В наиболее темных местах пластинки вероятность попадания фотонов будет, конечно, наибольшей. Однако каждая область ограничена нерезко, что приводит к бесконечному множеству точек, в которых фотон мог бы удариться о пластинку. Итак, наши знания о местоположении фотона могут быть выражены с помощью вероятности, и мы приходим к заключению, что квадрат волновой функции выражает вероятность нахождения фотона в данном элементарном объеме. Безусловно, имеется аналогия между дифракцией светового луча и дифракцией пучка электронов. Можно было ожидать, что квантовая интерпретация, приемлемая для фотона, окажется применимой и для электрона. Поэтому можно постулировать, что квадрат волновой функции электрона пропорционален вероятности нахождения электрона в элементарном объеме dxdydz. Такое толкование - это просто постулат, который может оказаться соответствующим или несоответствующим действительности. До сих пор такая интерпретация, по-видимому, отвечает экспериментальным наблюдениям. Одним из наиболее значительных подтверждений применимости этого постулата является направленность связи в молекулах. [27]
Это уравнение показывает, что имеется определенная связь между плотностью частиц и квадратом волновой функции. Вероятностный характер такой системы легко продемонстрировать на примере рассмотрения дифракции светового луча при прохождении узкой щели. Если за щелью поместить фотографическую пластинку, то после соответствующей экспозиции получается дифракционная картина, на которой будут видны темные и светлые области, соответствующие высокой и низкой интенсивности. Там, где интенсивность падающих на пластинку фотонов велика, после экспозиции появится темная область, а там, где интенсивность мала, - светлая. Если рассмотреть луч с очень малой интенсивностью, то очевидно, что мы не сможем точно указать, в какое место пластинки попадают фотоны. В наиболее темных местах пластинки вероятность попадания фотонов будет, конечно, наибольшей. [28]
 |
Зависимость от скорости сдвига напряжения сдвига ( кривые течения ( а и вязкости ( 6 для различных жидкостей. [29] |
Характер течения жидкостей оценивается с помощью зависимости напряжения сдвига от скорости сдвига или скорости деформации. Эта зависимость может быть представлена графически или в виде аналитической функции - реологическим уравнением состояния. Применимость его для анализа реологических свойств наиболее просто проследить на примере рассмотрения вязких жидкостей. [30]
Страницы: 1 2 3