Поверхностная примесь - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Если человек знает, чего он хочет, значит, он или много знает, или мало хочет. Законы Мерфи (еще...)

Поверхностная примесь

Cтраница 1


Более стойкие поверхностные примеси могут быть физически удалены с поверхности бомбардировкой ионами благородного газа ( напр. Обычно бомбардировка хорошо устраняет примеси, но часто она сопровождается нарушением порядка в расположении поверхностных атомов. Например, примесь углерода или серы можно удалить с поверхности ( 100) оксида никеля путем бомбардировки ионами Аг с энергиями 200 эВ, но поверхность оксида никеля разупорядочивается в ходе бомбардировки. Поверхность может быть снова упорядочена с помощью отжига, но это опять может привести к появлению примеси вследствие диффузии из объема кристалла - так называемая поверхностная сегрегация. Следует эмпирически подбирать такие условия чередования бомбардировки и отжига, которые очищают поверхность и так восстанавливают порядок на ней, чтобы уровень загрязнения примесями оставался минимальным.  [1]

Те поверхностные примеси, которые образуют дипольный слой того же знака, что и слой, образованный самими адсорбированными атомами, уменьшают теплоту хемосорбции и вызывают увеличение энергии активации.  [2]

Поэтому всякая акцепторная поверхностная примесь должна затруднять адсорбцию любого акцепторного газа и, наоборот, облегчать адсорбцию любого донор-ного газа. Иначе говоря, адсорбционная способность поверхности по отношению к данному газу может быть увеличена или уменьшена в результате примешивания к данному газу другого газа.  [3]

Массовая доля поверхностных примесей в хорошо очищенных алмазах незначительна ( табл. 82), однако они существенно изменяют электрокинетические и адсорбционные свойства алмазов. Изменяя качественный и количественный состав поверхностных примесей, можно управлять свойствами поверхности алмазов, в частности варьировать в нужном направлении их гидрофильность и гидрофобность.  [4]

5 Расположение электродов при исследовании поверхностных загрязнений. [5]

Поскольку концентрации поверхностных примесей незначительны, их анализ проводится на большой площади образца.  [6]

7 Микроэкстракторы. Горбаха ( а, капиллярный ( б, Вазицкого ( в и Кол грей ва ( г. [7]

Для экстракции поверхностных примесей с тщательно растертой твердой фазы применяют приборы Вазицкого ( рнс. На дне сосуда 2 кипит подогреваемый растворитель.  [8]

При трактовке хемосорбированных частиц как поверхностной примеси стирается сколько-нибудь принципиальное различие между хемосорбированными частицами и биографическими структурными дефектами, присутствующими на всякой реальной поверхности. Различие состоит лишь в том, что хемосорбированные частицы способны уходить с поверхности в газовую фазу и приходить из нее на поверхность, в то время как биографические дефекты можно считать прочно связанными с поверхностью и не обменивающимися с газовой фазой.  [9]

Среди других комплексообразователей наиболее подробно изучено действие на поверхностные примеси дитизона и ди-этилдитиокарбамата натрия.  [10]

11 Сравнение спектральных зависимостей коэффициента поглощения k кристалла антрацена ( пунктирная линия, данные работы и вероятности фотоинжекции носителей Ф из 1 М водного раствора NH4OH в кристалл антрацена, содержащий 10 моль / моль тетрацена ( сплошная линия. В обоих случаях свет поляризован вдоль кристаллической оси /. Ордината спектра возбуждения фотопроводимости дает число носителей чаря-да во внешней цепи на каждый квант, поглощенный а кристалле. [11]

Диссоциация экситонов на границе с электродом или на поверхностной примеси может приводить к инжекции положительных или отрицательных носителей заряда в органический кристалл ( см. разд. Измеряя спектральные зависимости квантового выхода фотоионизации, можно определять длины диффузии экситонов ( см. разд. Из выражения (1.7.8.08) следует, что вероятность инжекции носителя в кристалл Ф изменяется пропорционально коэффициенту поглощения света k, если диффузионная длина меньше глубины поглощения света. В экспериментах, представленных на рис. 3.1.6 и 3.1.7, в кристалл преимущественно инжектируются носители какого-либо одного знака.  [12]

На положение фотоэлектрической границы существенно влияют имеющиеся на катоде поверхностные примеси.  [13]

Причину возникновения перекисей на поверхности благородных металлов усматривают в действии поверхностных примесей. Менее прочно связанные друг с другом поверхностные атомы металла еще более разрыхляются некоторыми примесями. При этом энергия атомизации благородного металла снижается до величины, близкой к теплоте атомизации кислорода, и образуются перекисные соединения.  [14]

15 Зависимость логарифма. [15]



Страницы:      1    2    3    4