Пропускание - прибор
Cтраница 2
 |
Зависимость оптической плотности от толщины слоя /, спектры поглощения 2 и спектры поглощения в поляризованном свете 3, 4 родамина 6Ж. [16] |
Техника измерений при этом аналогична измерениям спектров поглощения на СФ-4. Коэффициент отражения отсчитывают по шкале пропускания прибора в процентах. [17]
Излучение горелки, спектральный состав которого отличен от длины волны исследуемой линии, попадает на фотоумножитель в результате рассеяния в спектральном приборе, а также вследствие того, что спектральный интервал, пропускаемый прибором, как правило, шире, чем ширина линии, излучаемой полым катодом. Для того чтобы уменьшить спектральную полосу пропускания прибора и сохранить при этом достаточную величину светового потока, нужно пользоваться по возможности светосильным монохроматором с большой угловой дисперсией, большой площадью диспергирующего элемента и большой угловой высотой щели. Стандартный монохроматор УМ-2 с этой точки зрения мало подходит, к тому же он дает довольно много рассеянного света. [18]
Например, для уменьшения динамической ошибки один инерционность системы следует делать возможно меньше. Это соответствует тому, что эквивалентная полоса пропускания Асоэ прибора должна быть возможно шире. Однако малая инерционность системы приведет к тому, что она будет хорошо реагировать на шумовые помехи. [19]
Основными параметрами анализатора спектра являются: диапазон частот и полосы обзора, полоса пропускания прибора на уровне 3 дБ ( определяет разрешающую способность, а совместно с диапазоном частот и время анализа), погрешность измерения частоты и частотных интервалов, чувствительность, динамический диапазон, пределы измеряемых напряжений, погрешности измерения напряжений. [20]
Поверка шкалы пропускания спектрофотометров по действующей в СССР системе стандартизации производится по наборам нейтральных светофильтров, аттестованных на образцовом приборе. Пропускание этих фильтров мало зависит от длины волны, поэтому такая поверка характеризует лишь линейность шкалы пропускания прибора и не обеспечивает единства результатов измерений объектов с селективным поглощением. Из-за отсутствия стандартов оптической плотности шкала оптических плотностей в отечественных приборах органами Госстандарта не поверяется. [21]
Поверка шкалы пропускания спектрофотометров по действующей в СХР системе стандартизации производится по наборам нейтральных свеюфпльтров, аттестованных на образцовом приборе. Пропускание этих ( рильтров мало зависит от длины волны, поэтому такая поверка характеризует лишь линейность шкалы пропускания прибора и не обеспечивает единства результатов измерений объектов с селективным поглощением. Из-за отсутствия стандартов оптической плотности шкала оптических плотностей в отечественных приборах органами Госстандарта не поверяется. [22]
В заключение отметим, что иногда в балансных усилителях используют специальные транзисторы, включающие два кристалла и имеющие два входа и выхода. В таком транзисторе согласующие цепи располагаются внутри корпуса ( см. рис. 8.5 6), что обеспечивает большую полосу пропускания прибора. [23]
 |
Угловая дисперсия призм и дифракционных решеток. а - в видимой и ультрафиолетовой областях. б - в инфракрасной области. [24] |
Дифракционные решетки обладают и некоторыми недостатками. Призма дает только один спектр, а решетка - много налагающихся друг на друга спектров различных порядков, и для разделения этих спектров необходимо применение или светофильтров, или дополнительных диспергирующих элементов. Все это снижает пропускание приборов с решетками. Коэффициенты пропускания призменных и дифракционных приборов всреднем примерно одинаковы, но в области прозрачности призмы ее пропускание практически постоянно, тогда как у решетки в пределах спектра одного порядка коэффициент отражения может изменяться более, чем вдвое. Далее диапазон длин волн эффективного использования решетки при работе в одном порядке дифракционного спектра всегда невелик: только в первом порядке он может превышать одну октаву. Наличие в дифракционном спектре ложных линий ( духов) может ввести в заблуждение при анализе мало исследованных спектров. Поэтому применение дифракционных решеток требует всегда более сложной техники эксперимента. [25]
 |
Модификация искрового источника ионов масс-спектрометра MS-7 для анализа с помощью вспомогательных электродов ( Голайтли и др., 1966. [26] |
Результаты совпадают с точностью до коэффициента 3 с данными масс-спектрометрии. Расхождения могут быть связаны с возможной локальной неоднородностью в исследованных областях кристалла, селективным испарением и ионизацией в искровом разряде или неодинаковым пропусканием прибора для ионов различных элементов. [27]
Промывание алюминированных зеркал водой обычно безвредно, а спирт часто вызывает порчу зеркального слоя; удаление пыли с поверхностей стеклянных деталей сухой ваткой или даже мягкой материей приводит обычно к появлению царапин, усиливающих рассеянный свет. Вообще, чистку оптики следует делать как можно реже, только тогда, когда это вызвано необходимостью - появлением заметного количества рассеянного света, ухудшением пропускания прибора. Никогда не следует прикасаться пальцами к рабочим поверхностям оптики. Остающиеся на них дактилоскопические отпечатки очень трудно удаляются, хотя и позволяют легко обнаружить виновника порчи прибора. Иногда отпечатки пальцев могут быть удалены, если слегка протереть захватанное пальцами место кусочком батиста, смоченного спиртом или бензином. Это следует делать сразу после прикосновения к поверхности, старые следы пальцев удалить почти невозможно. [28]
Спектрометр с ромбической диафрагмой имеет контур, как у классического дифракционно-ограниченного монохроматора. Пс сравнению с исходным, аподизация контура вполне удовлетворительна. Расплатой за это является уменьшение пропускания прибора в 2 раза ( так как / 2 площади растра перекрыта) и ухудшение разрешающей способности также вдвое. [29]
Весьма распространен спектрофотометр с дифракционной решеткой СФД-2. Оптическая схема этого прибора отличается от схемы СФ-16 тем, что на месте призмы в этом приборе стоит дифракционная решетка с 600 штрих / мм, которая и является диспергирующим элементом. Изменение длины волны осуществляется поворотом решетки. Электрическая схема и способ измерения пропускания прибора СФД-2 идентичны приб. Поскольку при работе с призмой следует избегать искажений за счет рассеянного света из-за возможного перекрывания спектров двух порядков, применяются несколько светофильтров, которые выделяют довольно узкие спектральные пучки. Дисперсия прибора СФД-2 постоянна во всем спектральном интервале ( 210 - 1100 нм) и равна 31 А / лш. [30]
Страницы: 1 2 3