Профилограмм - поверхность
Cтраница 2
Для оценки параметров шероховатости на профилограмме поверхности проводится средняя линия так, чтобы в пределах базовой длины среднее квадратичное отклонение профиля от этой линии было минимальным. Часть микронеровности, расположенная выше средней линии, называется выступом. Помимо средней линии проводятся также линия выступов и линия впадин - прямые, проходящие соответственно через вершину самого высокого выступа и нижнюю точку самой глубокой впадины параллельно средней линии профиля поверхности. [16]
На рис. 116, 117 приведены профилограммы поверхностей и соответствующие данные измерений микротвердости в сечении поверхностных слоев. Анализ влияния ПАВ на изменение величин сил трения и износа позволяет выделить две стороны их действия - положительную и отрицательную. [18]
На практике нахождение уравнения профиля по профилограмме поверхности представляет значительную трудность. [19]
 |
Поверхностное упрочнение стальных деталей при механической обработке. [20] |
В табл. 6.1 показаны внешний вид и профилограммы поверхностей деталей после их механической обработки различными методами. [21]
Профилографы советских инженеров Левина и Аммона позволяют записывать профилограммы поверхностей с большим увеличением, достигающим 18 000 раз. [22]
 |
Виды шероховатости подложки при адгезии частиц.| Профилограммы стальных поверхностей ( увеличение горизонтальное ХЮ50, вертикальное - Х2000. [23] |
При помощи профилометра - профилографа Калибр ВЭИ были получены профилограммы поверхностей. [24]
Образование таких неровностей на поверхностях колец из силицированного графита подтверждается профилограммами поверхностей ( рис. 8.19), а также их стереоскопическим фотографированием с помощью сканирующего электронного микроскопа. [26]
Этот вывод подтверждается выполненными рентгеновскими исследованиями, изучением фотографий субмикроструктуры и профилограмм поверхности образцов с никель-фосфорным покрытием. [27]
 |
Распределение микротвердости по поверхности шлифа. [28] |
Для учета влияния неровностей поверхности на величину вертикального перемещения алмазной пирамиды предварительно записывается профилограмма поверхности по намеченной трассе, а далее по этой же трассе определяется микротвердость царапанием. [29]
При обследовании коллектора очень мощной машины, при большой величине его диаметра, полезно построить профилограмму поверхности коллектора. [30]
Страницы: 1 2 3 4