Процесс - просвечивание - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Пока твой друг восторженно держит тебя за обе руки, ты в безопасности, потому что в этот момент тебе видны обе его. Законы Мерфи (еще...)

Процесс - просвечивание

Cтраница 1


Процесс просвечивания рентгеновыми лучами заключается в следующем. Под сварной шов плотно укладывают фотопленку в специальной кассете. Затем через шов пропускают лучи.  [1]

Процесс просвечивания любого изделия начинается только-после проведения всей подготовительной работы, установки кассет с пленками на объекте и подготовки средств закрепления источника излучения. Рентгеновские аппараты и гамма-установки должны быть установлены на определенном фокусном расстоянии от объекта, центрованы по отношению кассеты с пленкой, установленной на объекте просвечивания, и полностью подготовлены к работе.  [2]

После этого начинается сам процесс просвечивания, который практически заключается в выдержке времени экспозиции.  [3]

Для механизации и в дальнейшем автоматизации процесса просвечивания в МВТУ была собрана опытная установка по схеме, представленной на фиг.  [4]

В работе Е. Д. Кремнева описано программное устройство, позволяющее механизировать процесс просвечивания на пленку кольцевых и продольных сварных соединений цилиндрической формы. Применение этого устройства позволяет в 3 - 4 раза повысить производительность труда на этой операции по сравнению с ручным способом.  [5]

Из графика видно, что максимальная чувствительность к выявлению дефектов в процессе просвечивания на ЭОП достигается при наблюдении дефектов в бинокулярную лупу при токе на трубке 3 ма, напряжении от 70 до 150 кв, в зависимости от толщины, и фокусе трубки 0 4 мм.  [6]

7 Зависимость полных эффективных сечений взаимодействия нейтронов с различными веществами от энергии нейтронов. [7]

При прямой экспозиции изображение на фотографическом или другом материале получается непосредственно в процессе просвечивания объекта пучком нейтронов. В этом случае на детектор воздействуют не только нейтроны, но и другие излучения, в основном уизлучение, которое всегда присутствует в нейтронных пучках, а также возникает в материалах объекта и окружающих конструкций. Данный способ регистрации нейтронных изображений целесообразно применять в тех случаях, когда воздействие фонового у-излучения на детектор мало по сравнению с воздействием нейтронов. Воздействие фонового у-излуче-ния на детектор можно снизить, применив соответствующие фильтры или выбрав детектор с низкой чувствительностью к фоновому излучению.  [8]

9 Зависимость массовых сечений., взаимодействия тепловых нейтронов ( Еп 0 025 МэВ и у-излучения от атомного номера вещества ( при естественном составе изотопов. [9]

При прямой экспозиции изображение на фотографическом или другом материале получается непосредственно в процессе просвечивания объекта пучком нейтронов, В этом случае на детектор воздействуют не только нейтроны, но и другие излучения, в основном у-излучение, которое всегда присутствует в нейтронных пучках, а также возникает в материалах объекта и окружающих конструкций.  [10]

11 Зависимость массовых сечений. т взаимодействия тепловых нейтронов ( Е 0 025 МэВ и у-излучения от атомного номера вещества ( при естественном составе изотопов. [11]

При прямой экспозиции изображение на фотографическом или другом материале получается непосредственно в процессе просвечивания объекта пучком нейтронов. В этом случае на детектор воздействуют не только нейтроны, но и другие излучения, в основном у-излучение, которое всегда присутствует в нейтронных пучках, а также возникает в материалах объекта и окружающих конструкций. Данный способ регистрации нейтронных изображений целесообразно применять в тех случаях, когда воздействие фонового у-излучения на детектор мало по сравнению с воздействием нейтронов.  [12]

Развитие методов гамма-дефектоскопии идет по пути повышения надежности гамма-дефектоскопов, механизации и автоматизации процесса просвечивания для снижения трудоемкости операций, дальнейшего улучшения условий труда дефектоскопистов и объективности контроля, снижения себестоимости гамма-дефектоскопов, а также правильного сочетания методов гамма-дефектоскопии с.  [13]

Значительно проще протекает процесс контроля с помощью ионизационных методов, когда регистрация дефектов происходит непосредственно в процессе просвечивания. Этот метод позволяет автоматизировать процесс контроля и значительно повысить его производительность.  [14]

Процесс просвечивания на рентгеновскую пленку связан со значительной затратой времени.  [15]



Страницы:      1    2    3