Cтраница 2
Ускорители заряженных частиц позволяют получать пучки электронов, протонов, а-частиц, легких и тяжелых ионов с варьируемой энергией и скважностью, с заданной поляризацией и др. параметрами. [16]
В электроннолучевых приборах часто используются узкие при-осевые пучки электронов. В этих случаях нет необходимости исследовать поле вдали от оси системы, так как на формирование электронного пучка оказывает влияние лишь приосевая ( параксиальная) область поля. [17]
Маленькое отверстие в аноде вырезает из пучка электронов узкий луч, идущий практически вдоль оси трубки. [18]
Для определения предельной мощности МР - пучка электронов, при котором возникают пластические деформации мишени, вычислялось предельное значение мощности в каждой точке мишени, а затем среди них находилось минимальное. [19]
![]() |
Упрощенная конструкция ПКГ с электронным возбуждением.| Конструкция ПКГ с электронным возбуждением ( вариант с криогенным охлаждением. [20] |
Так, при плотности тока в пучке электронов около 1400 А / см2 при энергии электронов 260 кэВ были зафиксированы световые импульсы мощностью 200 кВт длительностью 3 не. [21]
Выбор угла наклона плоскости излома в пучке электронов зависит от того, на какой угол наклонен столик для образцов камеры объекта используемого РЭМ. Необходимо, чтобы плоскость исследуемого излома ( например в зоне медленного развития трещины) была параллельна плоскости стола камеры объектов. В этом случае фиксируемая по микрометрическому винту длина трещины при перемещении излома соответствует истинному изменению его положения в камере объектов микроскопа. [22]
Очевидно, применяя продольную магнитную фокусировку для пучка электронов, можно увеличить их путь в анодном коробке ионного источника и в результате повысить вероятность ионизации. [23]
Для всех методов, в которых применяют пучки электронов высокой энергии, характерен некоторый нагрев образца. Для большинства металлических образцов, в частности таких, которые исследуют электронным микрозондом или сканирующим электронным микроскопом, нагревание образца обычно невелико; однако неметаллические образцы, теплопроводность которых меньше, нагреваются уже заметно, и это может приводить к возрастанию температуры в объеме, поглощающем электроны, на несколько сотен градусов. [24]
![]() |
Схема электроннолучевой сварки металлов малой ( а и большой ( б толщины. [25] |
При сварке толстолистовых металлов используют острофокус ные пучки электронов. Процесс сварки толстолистового металла состоит из следующих этапов. В начале ввиду высокой концентрации энергии в пятне нагрева и высокого температурного градиента происходит преимущественное испарение металла. Далее, по мере нагрева, металл плавится и образуется сварочная ванна. Потоки паров, истекая в вакуум, силой реакции воздействуют на жидкий металл, вытесняя его из зоны нагрева. При этом оголяемые глубинные слои металла, воспринимая энергию электронов, плавятся, испаряются и вытесняются, пока не наступает динамическое равновесие всех сил, действующих на жидкий металл. [26]
![]() |
Электронно-микроскопическая фотография типичных монокристаллов полиэтилена, полученных кристаллизацией из раствора и ( оттененных металлом [ 341. [27] |
Электро-нограммы от пленок гуттаперчи, ориентированных перпендикулярно пучку электронов, состоят из пятнистых колец. Отсутствие равномерно зачерненных дебаевских колец приводит к выводу о том, что такая пленка должна содержать микроскопические единичные кристаллы. [28]
![]() |
Результаты анализа баланса разрядка по Ф. М. Пеннингу ( пунктир и по С. С. Васильеву ( сплошные линии, переходящие в точечный пунктир. [29] |
Это должно объясняться тем, что в пучке электронов, имеющих близкие и сравнительно малые скорости, быстрые электроны присутствуют в меньшей доле, чем в статистическом ансамбле электронов с максвелловским распределением электронов по скоростям. Но при прохождении через плазму импульсов тока высокого напряжения в нее вводятся электроны с повышенной средней скоростью, в числе которых может быть и большая доля электронов, способных вызвать возбуждение молекул, чем при максвелловском распределении. [30]