Пучок - рентгеновские лучей
Cтраница 2
Если же считать пучок рентгеновских лучей состоящим из отдельных частиц - фотонов, летящих со скоростью света и способных испытывать столкновения с другими частицами, то следует допустить возможность обмена фотонов с электронами энергией и импульсом. Тогда результаты опытов Комптона легко объяснить. [16]
Падающий на кристаллы пучок рентгеновских лучей отражается от узловых плоскостей, причем каждое межплоскостное расстояние выявляется на рентгенограмме в виде отдельной линии. Если образец представляет собой механическую смесь кристаллов разных веществ, то на рентгенограмме получаются линии, характерные для всех веществ, содержащихся в образце, и рентгенограмма выглядит как наложение рентгенограмм, снятых с индивидуальных веществ, входящих в состав образца. [17]
В этой конструкции пучок рентгеновских лучей падает перпендикулярно к плоской поверхности образца, я лучи, отраженные под большими углами, фиксируются иа плоской пленке. [18]
Для получения снимка пучок рентгеновских лучей направляется от трубки на шов, а снизу шва устанавливается кассета с рентгеновской пленкой. [19]
В этой конструкции пучок рентгеновских лучей падает перпендикулярно к плоской поверхности образца, я лучи, отраженные под большими углами, фиксируются иа плоской пленке. [20]
Предположим, что пучок рентгеновских лучей падает на кристалл, а затем, пройдя сквозь него, регистрируется на фотографической пластинке. На пластинке в таком случае обнаруживается дифракционная картина. [21]
Для получения изображения пучок рентгеновских лучей направляется на испытуемый сварной шов ( фиг. Проходя шов, лучи частично поглощаются и, действуя на находящуюся за объектом фотопленку, дают рентгеновское изображение. [22]
В этом случае пучок слабо расходящихся рентгеновских лучей, посылаемый широким фокусом рентгеновской трубки, попадает на выпуклую сторону изогнутого кристалла, пронизывает его и, отразившись от системы плоскостей, образующих небольшой угол с нормалью к поверхности кристалла, собирается вновь в небольшой области пространства на фокальной окружности спектрографа. Таким образом, в отличие от случая, разобранного в предыдущем параграфе, в котором падающие на кристалл рентгеновские лучи отражаются от системы плоскостей, параллельных оси изгиба кристаллов, в спектрографах Кошуа отражающими плоскостями служит система радиально расположенных плоскостей, лежащая в торце тонкой изогнутой кристаллической пластинки. [23]
 |
Интерференция волн, рассеянных под углом 9.| Интерференция волн, рассеянных под углом 9 от двух атомов, находящихся в соседних плоскостях кристаллической решетки. [24] |
Если рассмотреть рассеяние пучка рентгеновских лучей от системы ионов цезия, находящихся в одной плоскости, то в соответствии с общими положениями оптики можно убедиться, что совпадение по фазе во фронте рассеянной волны будет лишь в случае, если оно наблюдается в направлении под углом, равным углу падения исходного пучка на плоскость. Иными словами, интенсивное рассеяние от каждой плоскости по отдельности происходит лишь под углом, соответствующим отраженной электромагнитной волне. Действительно ( рис. 69), нетрудно видеть, что две волны, находящиеся в фазе во фронте падающей волны и рассеянные соответственно атомами А и В, расположенными на расстоянии d друг от друга, пройдут разное расстояние до точки формирования фронта рассеянной волны, а именно d cos 0 для волны, рассеянной атомом А, и dcosG для волны, рассеянной атомом В. При несовпадении угла падения 8 и угла рассеяния 9 волны будут смещены по фазе, и так как рассеянный пучок формируется из огромного числа рассеянных волн с самыми разнообразными сдвигами по фазе, то будут наблюдаться интерференция и гашение рассеянных волн во всех направлениях, не соответствующих углу отражения. [25]
Измерения максимальной энергии пучка рентгеновских лучей могут быть проведены несколькими способами, как прямыми, так и косвенными. Этот метод, хотя и точный, является довольно громоздким и пригоден скорее в качестве абсолютного эталона, нежели для непрерывного мониторирования. Можно также измерять максимальную энергию рентгеновских лучей непосредственно, наблюдая за выходом какой-нибудь известной реакции, например y P n - j - n 1, вблизи ее порога; однако эта процедура обычно весьма затруднительна вследствие малых выходов. [26]
При разработке методики скользящего пучка рентгеновских лучей кроме монтажа основных узлов камеры, обеспечивающих съемку при малом угле наклона первичного пучка лучей к исследуемой поверхности, весьма важны вопросы оценки глубины эффективно рассеивающих слоев, определения геометрической ширины интерференционных линий на рентгенограмме при наклонных съемках, учета микрогеометрических характеристик поверхности исследуемых образцов при анализе дифракционной картины. [27]
 |
Рентгеновский промышленный аппарат. [28] |
Таким образом, если пучок рентгеновских лучей пропустить, например, через кристалл, то произойдет отклонение пучка, дающее на флуоресцентном экране или на фотопластинке дифракционную картину - лауэграмму. В связи с тем что не существует и двух различных материалов, дающих одинаковые дифракционные картины, на основе полученной картины можно определить вид и свойства испытуемого материала. [29]
 |
Схема, поясняющая вывод уравнения Брегга - Вульфа. [30] |
Страницы: 1 2 3 4