Пучок - рентгеновские лучей
Cтраница 3
Рассмотрим прохождение через кристалл пучка рентгеновских лучей с длиной волны К. Ввиду значительной проникающей способности рентгеновского излучения большая часть его проходит через кристалл. Отраженные лучи интерферируют друг с другом, в результате чего происходит их взаимное усиление или погашение. Очевидно, что результат интерференции зависит от разности хода б лучей, отраженных от соседних параллельных плоскостей. Усиление происходит в том случае, когда б равно целому числу длин волн, тогда отраженные волны будут в одинаковой фазе. [31]
 |
Схема, поясняющая вывод уравнения Брегга - Вульфа. [32] |
Рассмотрим прохождение через кристалл пучка рентгеновских лучей с длиной волны К. Ввиду значительной проникающей способности рентгеновского излучения большая часть его проходит через кристалл. Отраженные лучи интерферируют друг с другом, в результате чего происходит их взаимное усиление или погашение. Очевидно, что результат интерференции зависит от разности хода б лучей, отраженных от соседних параллельных плоскостей. Усиление происходит в том слу чае, когда 8 равно целому числу длин волн, тогда отраженные волны будут в одинаковой фазе. Как видно из рис. 1.77, луч Si отраженный от плоскости атомов PI, проходит меньший путь, чем луч 5г, отраженный от соседней плоскости Р % разность этих путей равна сумме длин отрезков АВ и ВС. [33]
Рентгенограммы, полученные, когда пучок рентгеновских лучей параллелен потоку испаряемых частиц, показывают, что в Этом случае система полностью симметрична относительно вращения вокруг оси С, так что в плоскости, параллельной подложке, нет никакой преимущественной ориентации. Для того, чтобы выяснить происхождение орйейтации этих пленок, требуются дальнейшие исследования. [34]
Первое заключалось в необходимости получить пучок рентгеновских лучей, который по спектральному разбросу и угловой расходимости отвечал бы тому приближению падающей плоской волны, которое лежит в основе теорий Дарвина и Эвальда. Решение этой задачи потребовало более полувека, если учесть пионерскую работу Комптона [19] 1917 г., который использовал кристалл-монохроматор, и принять во внимание, что и в настоящее время превосходные схемы для получения указанных пучков, использованные Реннингером, Отье, Бубаковой, Хильдебрандтом и Бат-терманом и Коора [20], все еще требуют усовершенствования по тем или иным причинам. [35]
Можно показать далее, что обычный пучок рентгеновских лучей с мощностью дозы - 50 рад / сек и максимальной энергией кванта 1 Мэв эквивалентен кратковременному скачку температуры 108 К. [36]
Это условие выполняется при падении монохроматического ненаправленного пучка рентгеновских лучей на ряд геометрически подобных параллельных плоскостей в кристалле под таким углом, что отраженные лучи от каждого слоя усиливают друг друга и в результате получается интенсивный дифрагированный луч. При других углах отражение от каждого слоя интерферирует с отражающимся лучом каждого другого слоя и любой полученный в результате луч обладает более слабой интенсивностью. [37]
При применении дифракции рентгеновских лучей часто пучок рентгеновских лучей полностью закрывают в защитной камере, которую периодически проверяют на утечку радиации. При определенных обстоятельствах не эффективно содержать пучок рентгеновских лучей в полностью заблокированной камере. В этом случае операторы должны носить дозиметры для измерения уровня радиации. [38]
Он установил, что при прохождении пучка рентгеновских лучей через слой вещества возникает рассеянное рентгеновское излучение с частотой v, меньшей частоты первичного пучка. [39]
После фокусировки прибора в том месте пучка рентгеновских лучей, где должна быть измерена доза излучения, прибор считается готовым для использования. [40]
Комптон установил, что при прохождении пучка рентгеновских лучей через слой вещества возникает рассеянное рентгеновское излучение с частотой v, меньшей частоты v первичного пучка. [41]
Такой вид получается после прохождения через шину пучка рентгеновских лучей и регистрации на детекторе числа прошедших фотонов. Разница между числом фотонов, выпущенных рентгеновским источником и прошедших через шину и попавших на детектор, является мерой плотности шины на пути их прохождения. Рентгеновские лучи пропускаются под различными углами путем вращения либо шины, либо установки; полученные данные анализируются ЭВМ, которая выдает двухмерную карту плотностей среза шины. В качестве рентгеновского источника может использоваться либо изотоп иридий - 192, либо рентгеновская трубка высокого напряжения. [42]
 |
Расположение дислокаций в стальной фольге после 3 - 105 циклов переменного напряжения 2200 кГ / см -. X 10 000. [43] |
Метод основан па получении рентгенограммы при дифракции пучка рентгеновских лучей на металлическом образце. [44]
Регулярное расположение атомов в кристалле вызывает дифракцию пучка падающих рентгеновских лучей. Получающаяся дифракционная картина может быть записана на фотопленке и проанализирована компьютером, и в результате можно получить очень точную информацию о положении атомов в кристалле. Таким путем можно установить детальную картину молекулы: ее общие размеры, а также точные длины связей и углы между связями. Этот метод известен как рентгеновская кристаллография или дифракция рентгеновских лучей. [45]
Страницы: 1 2 3 4