Рентгеновский пучок
Cтраница 2
Баркла показал, что составляющзя рентгеновского пучка, достигающая ионизационной камеры, не зависит от угла и характерна для элемента, использованного в качестве вторичного излучателя. [16]
Полная мощность или интегральная интенсивность 1 рентгеновского пучка в ваттах выражается произведением эффективности ( эмпирической) возбуждения рентгеновских лучей и мощности iV катодного пучка [ 6, стр. [17]
Угловая ширина дифрагированного в толстом кристалле рентгеновского пучка пропорциональна структурной амплитуде и, как правило, порядка нескольких угловых секунд или 10 - 5 рад. Следовательно, очень небольшие отклонения в ориентации плоскостей решетки могут вызвать большие изменения интенсивности. Уже много лет известно, что слабые деформации в толстом кристалле, возникающие, например, при наличии температурного градиента, вызванного тем, что вблизи кристалла держали палец, будут изменять дифракционную интенсивность на несколько порядков величины. Методы рентгеновской топографии, развитые Лангом [278], применяются для регистрации полей деформаций, обязанных отдельным дислокациям или агрегатам примесей в почти совершенных кристаллах. [18]
Сканирование может быть осуществлено перемещением образца относительно рентгеновского пучка. [19]
 |
Схема двухкристального спектрометра. [20] |
Падающий на первый кристалл или кристалл-монохроматор А рентгеновский пучок после выхода из трубки проходит через две параллельные щели, в результате чего он характеризуется двумя значениями расходимости или плоскими углами: а - горизонтальная расходимость, соответствующая ширине щелей ( в плоскости чертежа), и ср - вертикальная расходимость, соответствующая высоте щелей. [21]
При фиксировании ориентации кристалла относительно направления падения рентгеновского пучка выполнение вышеприведенных условий более чем для нескольких дифракционных максимумов маловероятно, если только, как в первоначальном опыте, не используется непрерывный спектр рентгеновских волн. Однако отсутствие информации о длине волны, ответственной за какой-либо конкретный дифракционный максимум, является очевидным недостатком. Если не считать исследований определенных типов, теперь в практике повсеместно используется квазимонохроматическое излучение и при просвечивании рентгеновским пучком наклон кристалла постепенно меняется с тем, чтобы обеспечить выполнение условий Лауэ. Здесь нет необходимости касаться детально того, как это осуществляется на практике. Достаточно сказать, что существует возможность получения трехмерной дифракционной картины от кристалла. Она образует трехмерную структуру, которая взаимосвязана со структурой кристалла, как и в случае двухмерных решеток, рассмотренных в предыдущем разделе. [22]
 |
Схема съемки рентгенограммы по Вейссенбергу.| Угловые соотношения на рентгенограмме Вейссенберга. [23] |
Рассмотрим рис. 1.21.1. Здесь X - направление рентгеновского пучка, Л О - ось вращения, а окружность - экваториальное сечение сферы отражения. [24]
 |
Схема съемки рент - [ IMAGE ] Угловые соотношения генограммы по Вейссенбергу. на рентгенограмме Вейссенберга. [25] |
Рассмотрим рис. 1.21.1. Здесь X - направление рентгеновского пучка, АО - ось вращения, а окружность - экваториальное сечение сферы отражения. [26]
Дальнейшая регулировка осуществляется вращением насадок, которые выделяют параллельный рентгеновский пучок и благодаря эксцентричности отверстий насадок коллиматора позволяют перемещать его в небольших пределах. [27]
Гониометрическое устройство, с помощью которого осуществляются фокусировка рентгеновского пучка на поверхность образца и измерение углов падающего и дифрагированного лучей во время съемки. [28]
В связи с большим различием интенсивностей при дифракции рентгеновского пучка, рассчитанной теоретически в предположении идеальной решетки и наблюдаемой на опыте, была высказана гипотеза о мозаичной структуре кристалла. Расхождение между теоретической и действительной величиной скалывающего напряжения было объяснено с помощью представлений о дислокационной структуре. Для объяснения механизма диффузии было введено понятие о вакансиях в кристаллической решетке вещества. [29]
После центровки может быть проверено расположение образца в центре рентгеновского пучка. Для этого на выходе рентгеновского пучка из камеры устанавливают трубку 17, закрытую флюоресцирующим под действием рентгеновских лучей экраном. При правильной установке камеры в аппарате, которая достигается вращением винтов 1 - 2, на экране наблюдается светящееся пятно от рентгеновского луча и в центре его тень от образца. [30]
Страницы: 1 2 3 4 5