Cтраница 4
Схема рентгеновской приставки к установке ИМАШ-22-71. [46] |
Для расширения диапазона исследований предусмотрена также возможность вращения и качания кассеты с рентгеновской пленкой до 15 вокруг оси рентгеновского пучка с помощью двигателя РД-09 с редуктором. [47]
Из сравнения (2.63) и (2.69) видно, что при уменьшении скачка 1 - е влияние шероховатостей на отражение рентгеновского пучка уменьшается. [48]
Схема строения монокристаллического мата ( а и рентгенограммы в больших ( б и малых ( в углах. [49] |
О таком расположении ламелярных кристаллов в мате свидетельствуют в первую очередь картины болыпеуглового рентгеновского рассеяния [28], полученные при пропускании рентгеновского пучка через образец перпендикулярно толщине мата. Рентгенограммы демонстрируют отчетливую с-текстуру. Малоугловая рентгенограмма мата дает характерную картину рассеяния от стопки. [50]
В этом методе почти совершенный кристалл германия устанавливается под углом Брэгга, так чтобы обеспечить высокую параллельность и строгую монохроматичность рентгеновского пучка ( см. фиг. Второй кристалл устанавливается так, чтобы получилось то же самое брэгговское отражение. Тогда весьма небольшая разориентировка или очень небольшое изменение параметра решетки в некоторой области второго кристалла может ввести эту область в отражающее положение или вывести из него. Распределение интенсивности пучка, отраженного от второго кристалла, регистрируется на фотопластинке, установленнЬй близко от образца и параллельно ему. [51]
Разложение угловых поправок на компоненты по дугам гониометрической головки дифрактометра с геометрией Вайсен-берга ( вид сверху. [52] |
Выбирают отражения на оси - 6 с углом у между 60 и 90, устанавливают щель счетчика приблизительно на 2 мм, включают рентгеновский пучок и медленно изменяют угол ф до тех пор, пока отражение не будет зарегистрировано. [53]
Качественно неоднородность пучка обнаруживается опытом со стеклянной пластинкой ( см. 1.25), потемнение которой заметно неоднородно и определяется плотностью излучения отдельных участков рентгеновского пучка. Таким способом можно быстро проконтролировать распределение интенсивности в прямом пучке рентгеновского излучения и определить область с постоянной плотностью излучения для установки небольших образцов в границах этой области. [54]
Очевидно, в экспериментальных исследованиях получают кривую отражения при покачивании исследуемого кристалла вблизи среднего значения ( у 0) при падении на него рентгеновского пучка после отражения от монохроматора. Кривая отражения является, следовательно, наложением, точнее, сверткой функции R ( &) для двух ( или трех) кристаллов. Она не может быть непосредственно сопоставлена с теоретически вычисленным динамическим максимумом для одного исследуемого кристалла. Заметим, что в этой главе через ф обозначается переменный скользящий угол падения на данную отражающую плоскость в области максимума. [55]
Сужение на кристалле делалось для того, чтобы наметить место, где начинается переход через предел упругости; именно это место кристалла вводилось в рентгеновский пучок. Нагрузка создавалась при помощи ртути, которую можно было вливать как угодно медленно или откачивать в эвакуированный сосуд. Для нагрева применялась описанная выше кварцевая печь. [56]
При экспонировании образцов на различных гранях анода следует обращать особое внимание на сохранение строгого постоянства угла поворота а зеркала анода по отношению к оси рентгеновского пучка, так как вследствие некоторого поглощения излучения ( особенно более длинноволновой линии тантала) в анализируемом веществе величина этого угла за-заметно сказывается на регистрируемой интенсивности, а также на зависимости результатов анализа от валового состава пробы. Оптимальное значение угла а было найдено равным 25 - ЗО1 ( см. [4], стр. [57]
Приготовленную к съемке камеру устанавливают на пути рентгеновских лучей, выходящих из окошка рентгеновской трубки, так, чтобы в центре флюоресцирующего экрана был виден рентгеновский пучок и посредине его тень от образца. [58]
В результате рентгеновский пучок, падающий на кристалл, распространяется от кристаллов в определенных направлениях в зависимости от соотношения между длиной волны, размерами решетки и углом падения рентгеновского пучка. Это соотношение носит название условия Брегга. [59]
Потери в спектрографе с плоским кристаллом при анализе одноатомного слоя кабальта. [60] |