Центральное пятно

Cтраница 2

Точечный источник S и его изображение S.| Распределение ампли.| Распределение интенсивности в картине дифракции на круглом отверстии. [16]

В ной имеется очень яркое центральное пятно, окруженное последовательностью светлых и темных колец. Нетрудно видеть, что амплитуда нечетных светлых колец отрицательна. [17]

Ро руется в центральном пятне и в первом светлом кольце. [18]

На регистрирующей фотопластинке кроме центрального пятна появляется большое количество пятен расположение которых характерно для данного кристалла и угла поворота его к направлению рентгеновского луча. [19]

Схема опыта Лауэ. [20]

На регистрирующей фотопластинке кроме центрального пятна появляется большое количество пятен, расположение которых характерно для данного кристалла и угла поворота его к направлению рентгеновского луча. [21]

Схема опыта Лауэ. [22]

На регистрирующей фотопластинке кроме центрального пятна появляется большое количество пятен, расположение которых; характерно для данного кристалла и угла поворота его к направлению рентгеновского луча. [23]

В случае совпадения индексы центрального пятна данной стандартной проекции и являются индексами атомной плоскости, параллельной плоскости прокатки, а индексы нормалей на стандартной проекции, совпадающие с выходами направлений вдоль ( НП) и поперек ( ПП) прокатки на полюсной фигуре, являются индексами кристаллографических направлений в решетке, совпадающих соответственно с направлениями НП и ПП. В случае многокомпонентной текстуры параллельно плоскости прокатки устанавливаются в одних кристаллитах плоскости с одними индексами, а в других - с другими. [24]

По мере приближения к центральному пятну дифракцион-ой картины среднее значение функции возрастает. [25]

Ньютона, причем на центральном пятне можно наблюдать полное внутреннее отражение без контактной жидкости. Он может быть полезен при измерении показателей преломления сильнопреломляющих твердых тел, когда трудно подыскать контактную жидкость с достаточно высоким показателем преломления. При работе с интенсивно окрашенными веществами следует иметь в виду, что в области поглощения понятие предельного утла теряет определенность. [26]

Ньютона, причем на центральном пятне можно наблюдать полное внутреннее отражение без контактной жидкости. Он может быть полезен при измерении показателей преломления сильнопреломляющих твердых тел, когда трудно подыскать контактную жидкость с достаточно высоким показателем преломления. При работе с интенсивно окрашенными веществами следует иметь в виду, что в области поглощения понятие предельного угла теряет определенность. [27]

Рассчитаем АК установки с ИФП, центральное пятно интерференционной картины которого выделяется с помощью круглой диафрагмы. Центр диафрагмы совпадает с центром интерференционной картины. При смещении диафрагмы относительно последнего возможны искажения АК установки. Мы ограничимся случаем круглой диафрагмы, установленной строго в центре интерференционной картины. [28]

Принципиальна. схема электронографа. [29]

Получаемая на фотопластинке элсктронограмма состоит из центрального пятна, образованного электронами, не претерпевшими отклонения, и из колец различной интенсивности, обусловленных рассеянием электронов под различными углами 9 ( относительно первоначального направления пучка) Распределение дифракционных колец на электронограмме и их интенсивность являются строго определенными и зависят от строения молекул исследуемого вещества. [30]

Страницы: 1 2 3 4 5