Cтраница 3
В работе [9] обнаружена зависимость низкочастотной диэлектрической проницаемости от pil. Эти факты говорят о том, что одна только модель постоянных диполей недостаточна для объяснения данных о низкочастотной дисперсии диэлектрической проницаемости. Кроме того, количественная интерпретация данных о низкочастотной диэлектрической проницаемости па основе представления о диполыюй ориентации сильно осложняется, так как существующие теории не учитывают экранирования макродиполей диффузной атмосферой, образованной свободными зарядами проводящей среды. Этот фактор в случае, когда дебаевский радиус экранирования меньше характерных линейных размеров диполя, должен значительно уменьшать величину диэлектрического инкремента, обусловленного ориентацией постоянных диполей. [31]
В качестве примера эти результаты представлены на рис. 12.5 для алкилоламида ундециловой кислоты. Аналогичный характер зависимостей обнаружен и для других исследованных соединений. Это, в принципе, требует введения поправки на поверхностную проводимость [59], что особенно существенно для рассматриваемых случаев разбавленных растворов электролитов при uaxl, где 1 / х - дебаевский радиус экранирования, а - радиус микрообъектов. Однако ввиду постоянства ионной силы раствора для всех точек кривых / и 2 ( рис. 12.5) учет поверхностной проводимости качественно не изменит картины и, кроме того, такой учет может быть проведен лишь приблизительно вследствие неопределенности формы и размера микрообъектов. [32]
Однако при изучении микроэлектрофореза пузырьков воздуха и частиц стекла было установлено значительное, немонотонное изменение - потенциала при добавлении к дисперсионной среде алкилолами-дов. В качестве примера эти результаты представлены на рис. 12.5 для алкилоламида ундециловой кислоты. Аналогичный характер зависимостей обнаружен и для других исследованных соединений. Это, в принципе, требует введения поправки на поверхностную проводимость [59], что особенно существенно для рассматриваемых случаев разбавленных растворов электролитов при ха 1, где 1 / х - дебаевский радиус экранирования, а - радиус микрообъектов. Однако ввиду постоянства ионной силы раствора для всех точек кривых 1 к 2 ( рис. 12.5) учет поверхностной проводимости качественно не изменит картины и, кроме того, такой учет может быть проведен лишь - приблизительно вследствие неопределенности формы и размера микрообъектов. [33]