Cтраница 2
Книга предназначена для студентов металлургических, политехнических и машиностроительных вузов по специальностям: металловедение, физика металлов, полупроводники и диэлектрики, физико-химические исследования, обработка металлов давлением, литейное производство и металлургия черных и цветных металлов, технология специальных материалов электронной техники. Она может быть также использована сотрудниками научно-исследовательских институтов и заводских лабораторий, работающими в области рентгеноструктурного, электронографического и электронномикроскопического анализа материалов. [16]
Тем не менее Э. М. Рабинович [209, 210], рассматривая процесс гетерогенной кристаллизации стекол с точки зрения общей теории кристаллизации на примесях [211-213], без достаточных оснований утверждает, что кристаллизация литиевосиликатных, в том числе светочувствительных и натрийфосфатных стекол, обусловлена исключительно кристаллографическим соответствием между Pt, Аи, Ag или Си и кристаллами соответствующих фаз, а не микрорасслаиванием стекла или образованием в нем микронеоднородных структурных групп, как это было установлено экспериментально в рассмотренных выше исследованиях Вейля, Каркханавалы, Рин-дона, Фогеля и Герта и теоретически обосновано Вейлем. Недостаточность своих доводов признает и сам автор [209], сообщая об отсутствии у него данных, подтверждающих предположение о кристаллографическом механизме кристаллизации фосфатов на частицах Pt в натрийфосфатных стеклах. Образование микроликва-ционных областей или субмикронеоднородных структурных групп в результате предпочтительной адсорбции на частицах Pt катионов-модификаторов как стадия, предшествующая ориентированному росту кристаллов в стеклах, содержащих добавки благородных металлов, убедительно подтверждена электронномикроскопическим анализом, измерением электрических свойств, травлением этих стекол в плавиковой кислоте и другими методами. После завершения этой стадии следует ориентированный, или эпитаксиальный, рост кристаллов основной выделяющейся фазы на образовавшихся центрах кристаллизации критических размеров. [17]
Сперр, Эрат и Майерс [126] на основании данных рентгено-структурного анализа фенольных смол в различных стадиях отверждения приходят к выводу о том, что в начальных стадиях отверждения образуются главным образом короткие цепные молекулы и из рентгенограммы смолы находится характеристическое межмолекулярное расстояние, наблюдаемое на моделях при параллельном расположении цепей. Отверждение, связанное с дальнейшим сшиванием и разветвлением полимера, приводит к менее плотной упаковке. Общая усадка смолы приписывается потере летучих и исчезновению относительно крупных пустот. Те же авторы [127] исследовали процесс отверждения с помощью электронномикроскопического анализа тонких лепестков смолы, сверхтонких срезов ( Ч) 1 мк) и пленок смолы, нанесенных на стекло. При увеличениях до 90 000 поверхность многих образцов состояла из глобулярных частиц ( мицелл) довольно однородных размеров ( - 400А), иногда наблюдались линейные образования из мицелл. [18]
Основной процесс гидратации, по-видимому, начинается на границах зерен цементного клинкера. Размеры пор гелевых структур имеют порядок 20 А. Кроме того, в этой массе образуются капиллярные пустоты. В процессе кристаллизации, происходящей вне зерен цемента, создаются дендритообразные, нитевидные и другой формы новообразования, которые взаимно переплетаются и прорастают. Элементы новообразований обнаруживаются при электронномикроскопическом анализе новообразований цементного камня. [19]
Автоион-нын микроскопический анализ - единственный метод анализа, позволяющий получать непосредственное изображение атомной плоскости кристалла с увеличением порядка 10е, но объектом исследования должно быть очень тонкое острие металла. Дислокационную структуру в кристаллах изучают наблюдением индивидуальных дислокаций ( см. Фигур травления анализ, Электронномик-роскопический анализ, Рентгенотопо-графический анализ); сюда же относится метод декорирования дислокаций. Применяют также косвенные методы, основанные на влиянии дефектов решетки на различные физ. Применение того или иного метода зависит от плотности дефектов и природы материала. Простейшим методом изучения зоренной и субзеренной структуры вещества ( см. Субструктура металла) является металлографический анализ - выявление границ зерен методом травления с последующим просмотром в оптическом микроскопе. Рештеното-пографический и электрониомикро-скопический анализы позволяют, кроме вида и размера субзерен, определять их взаимную разориентацию и детали строения границ. Метод выбирают в зависимости от размеров субзерен и величины разориентации. Применение рентгенотопографиче-ского анализа целесообразно для субзерен размером 1 - 10 см и раз-ориентации порядка угловых минут, электронномикроскопического анализа - для субзерен размером около 10 см и разориентации в несколько градусов. Методами металлографического анализа устанавливают также вид и расположение различных фаз в многофазных материалах. Весьма тонкодисперсные фазы обнаруживают с помощью электронномикроскопического анализа. Для изучения распределения химических элементов на поверхности образца применяют методы микрорентгеноспектраль-ного анализа и масс-спектрального анализа. [20]
Автоион-нын микроскопический анализ - единственный метод анализа, позволяющий получать непосредственное изображение атомной плоскости кристалла с увеличением порядка 10е, но объектом исследования должно быть очень тонкое острие металла. Дислокационную структуру в кристаллах изучают наблюдением индивидуальных дислокаций ( см. Фигур травления анализ, Электронномик-роскопический анализ, Рентгенотопо-графический анализ); сюда же относится метод декорирования дислокаций. Применяют также косвенные методы, основанные на влиянии дефектов решетки на различные физ. Применение того или иного метода зависит от плотности дефектов и природы материала. Простейшим методом изучения зоренной и субзеренной структуры вещества ( см. Субструктура металла) является металлографический анализ - выявление границ зерен методом травления с последующим просмотром в оптическом микроскопе. Рештеното-пографический и электрониомикро-скопический анализы позволяют, кроме вида и размера субзерен, определять их взаимную разориентацию и детали строения границ. Метод выбирают в зависимости от размеров субзерен и величины разориентации. Применение рентгенотопографиче-ского анализа целесообразно для субзерен размером 1 - 10 см и раз-ориентации порядка угловых минут, электронномикроскопического анализа - для субзерен размером около 10 см и разориентации в несколько градусов. Методами металлографического анализа устанавливают также вид и расположение различных фаз в многофазных материалах. Весьма тонкодисперсные фазы обнаруживают с помощью электронномикроскопического анализа. Для изучения распределения химических элементов на поверхности образца применяют методы микрорентгеноспектраль-ного анализа и масс-спектрального анализа. [21]