Cтраница 4
Схема получения электронно-микроскопических препаратов различными методами. [46] |
Дисперсные структуры двухфазных и более сложных сплавов, практически наиболее важных, лучше исследовать с помощью полупрямого метода. Надежное решение ряда металловедческих вопросов возможна лишь при использовании полупрямого метода в сочетании с электронографическим анализом исходных образцов и препаратов с частицами второй фазы. Применение полупрямого метода во многих случаях делает излишним изучение формы и размеров частиц осадка, выделенного при электролитическом растворении образца и требующего диспергирования довольно сложными приемами, часто не дающими должного эффекта. [47]
Образец кратковременно протравливают по режиму, применяемому для количественного разделения фаз данного сплава. Кристаллическая решетка и химический состав получаемого при этом разделении осадка должны предварительно проверяться методами рентгеновского или электронографического анализа. [48]
Принципиальная оптическая схема электронографа. [49] |
Точность определения периодов кристаллической решетки по злект-ронограмме невелика по сравнению с точностью, достигаемой в рентге-ноструктурном анализе. Преимуществом электронографии является то, что в связи с малостью длины волны и сильным взаимодействием электронов с веществом электронографическим анализом можно получить резкие и интенсивные рефлексы при меньших размерах кристалликов и при меньшем количестве вещества, чем это возможно в рентгенографии. [50]
Расположение донорных атомов в комплексе [ U02 ( NOs ( H20 2 ]. 4HaO. [51] |
Как и рентгенографический анализ, этот метод основан на дифракции. В связи с тем что длины волн для пучка электронов могут быть меньше, чем у рентгеновского излучения, Электронографический анализ может применяться для исследования кристаллов значительно меньшего размера, исследуются также тонкие пленки, порошки, поверхностные слои массивных образцов. [52]
В природе бесконечный орнамент встречается в расположении чешуи рыб, клеточек в биологических тканях, ячеек в пчелиных сотах, чешуек в шишках хвойных деревьев. Мы, конечно, не видим непосредственно это расположение, но можем судить о нем на основании структурного рентгенографического или электронографического анализа или растровой микроскопии. [53]
Поскольку поток нейтронов создается в реакторе, соответствующая дифракционная аппаратура конструктивно значительно более громоздка и сложна, чем аппаратура для адекватного по эффективности рентгеноструктурного и электронографического анализа. Впрочем, с дальнейшим совершенствованием техники это различие ( если не касаться самого источника лучей) постепенно уменьшается. [54]