Величина - кристаллит
Cтраница 1
Величина кристаллитов является важным фактором, влияющим на электрические свойства. Так как свойства переноса в графитной системе почти полностью обусловлены механизмами основного плана, достаточно рассматривать размер слоев и их рост с увеличением Td. [1]
Величина кристаллитов не слишком сильно растянутых образцов полиэтилена при деформациях решетки, приблизительно равных деформациям в нерастянутом состоянии, составляет 170 А, а более сильно растянутого линейного полиэтилена - около 250 А. Ширина линий серии ( 002) ( sin ( / Я 0 394) дает возможность судить о соотношении размеров кристаллитов в направлении растяжения и направлении молекулы. По всем данным эта ширина линии больше зависит от степени разветвления, чем от величины растяжения. Следовательно, ширина линий интерференции зависит лишь от величины кристаллитов в направлении цепей. [2]
Уменьшение величины кристаллитов приводит к увеличению доли межзеренных областей с повышенным содержанием дефектов решетки, наличием чужеродных атомов и нескомпенсированных связей. Поэтому величина энергии хемосорбции для поверхности с малой величиной кристаллитов значительно увеличивается, что ведет к возрастанию каталитической активности поверхности в реакции рекомбинации атомов газа. Аномально большую скорость взаимодействия атомов водорода на поверхности электродного графита можно объяснить большой пористостью материала ( до 30 %), т.е. увеличением истинной поверхности реакции. [3]
Изменение величины кристаллитов при термической обработке различных углеродсодержащих природных продуктов показано на рис. 4 раздельно по осям параметров а и с. Явно выраженные на рисунке отклонения для торфяного кокса и антрацита от изложенной выше общей картины карбонизации объясняются повышенной зольностью этих продуктов; на структуру антрацита влияет также явление растрескивания, которое происходит в интервале 500 - 1000 и вызывает уменьшение высоты кристаллитов при этих температурах. [4]
Влияние величины кристаллитов на упругость и пластичность олова при кручении, Журнал прикл. [5]
Если же величина кристаллитов превосходит 500 мкм, то сведения о текстуре целесообразно получать, используя дифракцию тепловых нейтронов, глубина проникновения которых в материал достигает 0 2 - 2 см. Тогда число зерен в облучаемом объеме соизмеримо с тем, которое имеется в образце с размером кристаллитов на порядок меньше, если он исследуется с помощью рентгеновских лучей. Из-за малой глубины проникновения в материал дифракцию электронов применяют для изучения текстур тонких пленок ( от 10 нм) и неоднородности текстуры по толщине образца. [6]
Сопоставление изменения величины кристаллитов и обратной величины поверхности показывает, что при отклонении условий получения от оптимальных величина поверхности изменяется сильнее, чем следовало бы ожидать на основании изменения среднего размера кристаллитов. [7]
 |
Электронно-микроскопический снимок и электронограмма поликристаллической пленки платины, напыленной на стекло при 273 К. [8] |
Кроме того, величина кристаллитов увеличивается при повышении температуры подложки в процессе напыления пленки; это сопровождается также снижением величины R вследствие общего сглаживания поверхности пленки и исчезновения щелей между кристаллитами. [9]
Сделать вывод о величине кристаллитов можно лишь в том случае, если шероховатость поверхности вызвана естественным ростом плоскостей кристаллов с различной ориентацией, либо же применяя травление, что иногда является нежелательным. [10]
Литературные данные о величине кристаллитов в предельной окисной пленке на железе не противоречат приведенным здесь результатам. Например, Нельсон [12], пренебрегая геометрическими и другими факторами, влияющими на ширину линии, находит, что в большей своей части кристаллы окиси имеют размеры больше 15 А. Хауль и Шун [35] находят для кристаллов окиси величину 19 А. Почти такая же величина получается и из измерений по микрофотограмме в статье Винкеля и Хауля [31]; пересчет приводимых ими данных показывает, что ими была допущена ошибка1 и что, вместо указанной ими величины 9 А, следует брать вдвое большую. [11]
 |
Преобразованные полуширины линий различных. [12] |
Поэтому надежное суждение о величине кристаллитов и деформации решетки становится невозможным. [13]
Рассмотрим теперь вопрос о величине кристаллитов и зерен в слоях, полученных напылением. По мере подвода материала образовавшиеся вначале островки растут и здесь можно различать два крайних случая. [14]
По данным ряда исследователей, величина кристаллитов очень мала и не выходит за пределы 4 - 10 элементарных кристаллических ячеек. В подходящих температурных условиях размеры кристаллитов могут увеличиваться до образования зародышей кристаллов. [15]
Страницы: 1 2 3 4