Величина - кристаллит
Cтраница 2
Искажение решетки усиливается по мере уменьшения величины кристаллитов, причем в рентгенограммах этому обстоятельству сопутствует исчезновение ряда типичных для графита весьма интенсивных интерференционных линий, что указывает на исчезновение свойственной кристаллам трехмерной периодичности; последняя сохраняется лишь в двух измерениях. [16]
В тех редких случаях, когда указывается величина кристаллитов, она была определена по полуширине первой серии интерференции при малых углах преломления, коррегированной на геометрическое расширение. Первые такие измерения были проведены Хенгстенбергом и Марком [61] на нативной целлюлозе и вискозном шелке. Толщина мп-нелл оказалась равной приблизительно 60 и соответственно 40 А, а длина - в первом случае 600, а во втором - 300 А. [17]
В результате деформации е условия сверхпластичности форма и величина кристаллитов мало изменяются, текстура деформации отсутствует. [18]
Может быть использовано несколько методов определения раздельного влияния микронапряжений и величины кристаллитов на расширение линии. [19]
В процессе холодной вытяжки волокна поликапролактама происходит заметное изменение кристалличности и величины кристаллитов. [20]
 |
Увеличение удельной теплоемкости, обусловленное поверхностным плавлением, для кристаллитов различных размеров X. [21] |
Повышение удельной теплоемкости, обусловленное поверхностным плавлением, тем меньше, чем больше величина кристаллитов. Для очень больших кристаллитов ( ламели, образованные вытянутыми цепями) переход второго рода превращается в переход первого рода. [22]
Для однокристальных и поликристаллических тел, у которых а 1 ( I - величина кристаллитов), характеристическим размером является радиус поры. [23]
Поэтому необходимы попытки создания либо новых методов вакуумного испарения, либо способов уменьшения величины кристаллитов оттеняющей пленки, например, сплавляя оттеняющий металл с какими-нибудь добавками. [24]
N ( x) - функции распределения интенсивности в линии, связанные лишь с величиной кристаллитов и микронапряжениями соответственно. [25]
Мы видим, что исследование ширины и состояния линии может дать немало ценных сведений о величине кристаллитов. [26]
Определение величины субмикроскопических кристаллитов, меньших чем 10 см, основано на том что между величиной кристаллитов и шириной линий на рентгенограммах Дебая существует определенная зависимость. С уменьшением размеров кристаллитов линии на рентгенограммах становятся шире, пока, наконец, при величине кристаллитов в несколько атомных слоев они совсем не расплываются на общем фоне рентгенограммы. Для определения размера частиц линии на рентгенограммах исследуемого вещества подвергают ми-крофотометрированию. Каждая линия дает микрофотометрическую кривую, подобную изображенной на фиг. [27]
Температурная зависимость сопротивления в ос-новной плоскости не зависит от таких макроскопических факторов, а определяется по существу величиной кристаллитов и их порядком. Ниже комнатной температуры сопротивление поликристаллического графита увеличивается вследствие рекомбинации носителей. [28]
X) и N ( X) - функции распределения интенсивности в линии, связанные лишь с величиной кристаллитов и микронапряжениями соответственно. [29]
При анализе влияния структурных характеристик на эффект СП обычно оперируют средним размером зерен, хотя в отдельных случаях величина кристаллитов в испытываемом сплаве может различаться на порядок и более. Особенно это относится к промышленным сплавам, в которых при получении мелкого зерна в процессе интенсивной предварительной пластической деформации иногда получаются наряду с мелкозернистой структурой зоны крупных зерен. Наличие разнозернистости, естественно, изменяет свойства сплавов в условиях СП течения, поскольку появление в структуре более крупных зерен должно приводить к снижению эффекта СП. [30]
Страницы: 1 2 3 4