Cтраница 3
![]() |
Зависимость периода. [31] |
Следовательно, при нагружении образца происходит пространственный поворот кристаллитов до совпадения осей молекул ( осей Сэл. То, что величины межплоскостных расстояний dwo и d020 [1,7, 12] одинаковы для ПА и исследованных нами ПУ, позволило в случае нагружения, когда все рефлексы лежат на слоевых линиях, произвести индицирование и установить параметры элементарной ячейки для полиуретана ТЭГ ГМДИЦ. [32]
На пленке измеряют углы рассеяния ft с некоторой неизбежной ошибкой измерения Aft. Посмотрим, как отражается величина этой ошибки на определении величины межплоскостного расстояния. [33]
![]() |
Грани куба ( а и им соответствующие кристаллический ( б и полярный ( в комплексы и их сферические ( г, д и стереографические ( е, ж проекции. [34] |
Важнейшим признаком кристаллографически идентичных плоскостей является то, что они обладают одинаковым межплоскостным расстоянием. Поэтому число кристаллографически идентичных плоскостей ( семейств плоскостей) для любой совокупности равно числу возможных перестановок местами и знаками индексов, входящих в данную совокупность, не изменяющих величины межплоскостного расстояния. [35]
![]() |
Рентгенограммы замороженного масла из печени трески ( справа и вощеной бумаги ( слева, полученные на плоской пленке. [36] |
Брэгга, и тогда дифракция ( отражение) происходит во всех возможных направлениях, лежащих под соответствующим углом к падающему пучку. Таким образом, в поликристаллическом образце с беспорядочной ориентацией кристаллов каждый набор атомных плоскостей ( hkl) кристаллической структуры дифрагирует конус рентгеновских лучей, в котором угол между образующей и осью, 20, зависит от величины межплоскостного расстояния в данном наборе плоскостей. [37]
При сравнении величин d на полученной и эталонной рентгенограммах следует иметь в виду, что их значения в определенных пределах могут отличаться друг от друга. Это объясняется не только ошибками самого анализа, но и тем, что в справочной литературе приводятся данные, как правило, для чистых веществ, а в многофазовых смесях возможно образование твердых растворов, что связано с изменением величин межплоскостных расстояний. При отсутствии заметной растворимости с достаточной для практики точностью можно принять, что допустимые отклонения величин межплоскостных расстояний на рентгенограмме исследуемой смеси составляют 1 % от величины d на эталонной рентгенограмме. [38]
Для исследования силикатных материалов пользуются обычно медным антикатодом с выделением с помощью фильтра излучения Ка - В большинстве справочных изданий межплоскостные расстояния приведены в ангстремах ( А), 1 А 0 1 нм. Все эти установки дают спектр отражений, записанный на диаграммной ленте, на которой помечены углы ( обычно 20), которым соответствуют отражения. Пересчет в величины межплоскостных расстояний производится по формуле, с помощью таблиц либо специальной линейки. Предпочтительно, чтобы расчет межплоскостных расстояний выполняли специалисты, работающие в рентгеновской лаборатории. [39]
![]() |
Три участка из интервала 2 531 - 2 507 ключа в определителе В. И. Михеева. [40] |
Приступаем к определению состава исследуемого образца. Предпочтение оказываем линии при большем угле &, где величина межплоскостного расстояния определяется более точно. [41]
При сравнении величин d на полученной и эталонной рентгенограммах следует иметь в виду, что их значения в определенных пределах могут отличаться друг от друга. Это объясняется не только ошибками самого анализа, но и тем, что в справочной литературе приводятся данные, как правило, для чистых веществ, а в многофазовых смесях возможно образование твердых растворов, что связано с изменением величин межплоскостных расстояний. При отсутствии заметной растворимости с достаточной для практики точностью можно принять, что допустимые отклонения величин межплоскостных расстояний на рентгенограмме исследуемой смеси составляют 1 % от величины d на эталонной рентгенограмме. [42]
Во многих случаях эта задача однозначно не решается и желательно провести хотя бы качественный химический анализ. Если данных о химическом составе нет, то неоднозначность определения объясняется тем, что изо-структурные вещества могут давать близкие рентгенограммы, мало различающиеся по величинам межплоскостных расстояний и относительным интенсивностям. [43]
До недавнего времени считали, что любая форма углерода при нагреве до достаточно высокой температуры переходит в форму графита. Он показал, что в способных к графитиза-ции углеродах графитообразные слои группируются в параллельные пакеты, внутри которых ориентированные и неориентированные слои углеродных атомов располагаются произвольно. В неграфитизированных углеродах межплоскостные расстояния равны 3 44А, а в графитизированных-3 354 А. Величина межплоскостных расстояний изменяется обратно пропорционально температуре графитизации. [44]
Из всего сказанного отнюдь не следует, что электронно-микроскопические измерения недостоверны. Не следует лишь придавать им чрезмерного значения и нужно помнить об ограничениях метода. Новые работы приносят и новые доказательства высокой точности, которую могут дать электронно-микроскопические исследования. Так, величины межплоскостных расстояний в кристаллических решетках некоторых соединений, измеренные на электронных микрофотографиях, оказались в очень хорошем согласии с данными, полученными рентгеновским путем ( см. стр. [45]