Cтраница 2
Чтобы получить численные решения, составляется таблица разностей для dQ / dx и с ( dH / dx), включающая, при необходимости, разности третьего и четвертого порядков. [16]
Для нахождения третьего сближения применяем трехчленные формулы, которые получаются из формулы ( 5) при i 0, из формулы ( 3) при tl и формулы ( 2) при 1 2 после откидывания разностей третьего порядка. [17]
Для нахождения третьего сближения применяем трехчленные формулы, которые получаются из формулы ( 5) при г0, из формулы ( 3) при i - и формулы ( 2) рри 1 2 после откидывания разностей третьего порядка. [18]
В то время как разности второго порядка измеряют отклонение следа от прямой, разности третьего порядка характеризуют отклонение следа от окружности произвольного радиуса ( кривой постоянной кривизны), а разности четвертого порядка - отклонение от кривой с равномерно меняющейся кривизной. Таким образом, разности третьего или четвертого порядка не зависят соответственно от постоянной или линейно изменяющейся кривизны, обусловлены ли эти искажения дисторсиеи эмульсии или непрямолинейностью движения столика микроскопа. [19]
В то время как разности второго порядка измеряют отклонение следа от прямой, разности третьего порядка характеризуют отклонение следа от окружности произвольного радиуса ( кривой постоянной кривизны), а разности четвертого порядка - отклонение от кривой с равномерно меняющейся кривизной. Таким образом, разности третьего или четвертого порядка не зависят соответственно от постоянной или линейно изменяющейся кривизны, обусловлены ли эти искажения дисторсиеи эмульсии или непрямолинейностью движения столика микроскопа. [20]