Разность - ход - лучая
Cтраница 1
Разность хода лучей в данной точке экрана имеет определенное значение только в случае точечного источника. При переходе от одной точки протяженного источника к другой разность хода меняется. Если разность хода изменится на А / 2, то условие максимума превратится в условие минимума, т.е. наложение интерференционных картин от разных участков протяженного источника приводит к смазыванию общей интерференционной картины. [1]
Разность хода лучей зависит от толщины пленки d, показателя преломления п материала пленки, угла i падения лучей и длины волны Л падающего света. [2]
Разность хода лучей измеряют в середине заготовки в направлении ее наибольшего размера в нм на 1 см пути луча в стекле. Ниже приведено значение двойного лучепреломления для различных стекол. [3]
 |
Лазерный способ возбуждения ( слева и приема ( справа УЗ-волн. [4] |
Разность хода лучей в плечах интерферометра выставлена так, чтобы она была равна нечетному числу четвертей световой волны. Длина этой волны выбирается довольно большой, например 0 6328 мкм для гелий-неонового лазера. Тогда при незначительных колебаниях поверхности ОК косинусоидальный закон изменения интенсивности интерферирующих лучей аппроксимируется линейной зависимостью при амплитуде до 3 10 - 8 мм. [5]
 |
Место компьютера в фурье-спектрометре. [6] |
Разность хода лучей в плечах интерферометра может меняться при поступательном перемещении одного из зеркал по известному закону - при необходимости под управлением компьютером. При перемещении зеркала через детектор проходят последовательно яркие и темные полосы, так называемые интерференционные полосы. Если источник обладает широким спектром излучения, интерференционная картина получается очень сложной. Кривая зависимости интенсивности сигнала детектора от разности хода называется интерферограммой. Подсоединенный к детектору компьютер лереводит интерферограм-мы в оптический спектр ( зависимость интенсивности от частоты) при помощи методов фурье-преобразования. Одно из главных различий между спектрами этого типа и обычными приборами заключается в том, что на исследуемую пробу воздействует излучение одновременно всех длин волн, присутствующих в спектре источника, а не происходит последовательное изменение длин волн излучения, действующего на образец. [7]
Разность хода лучей в интерференционных микроскопах создается за счет лучей, отраженных от измеряемой поверхности и от плоского металлического зеркала. Если зеркалу придается небольшой наклон по отношению к измеряемой поверхности, то в окуляре наблюдается интерференционная картина - ряд полос равной ширины. [8]
Разность хода лучей Дг, как видно из рисунка, зависит от высот AI и / iz и от расстояния R вдоль Земли. Это и есть результат интерференции двух лучей. [9]
Разность хода лучей Па и Нб и смещение их относительно друг друга b пропорциональны толщине пленки. [10]
Если разность хода лучей А содержит четное число световых полуволн, то в данной точке экрана наблюдается максимум освещенности. Если разность хода лучей содержит нечетное число световых полуволн, то в данной точке экрана наблюдается минимум освещенности. Во всех остальных случаях наблюдается частичное усиление или ослабление интенсивности световых колебаний. [11]
Поэтому разность хода лучей, проходящих в хлоре и в вакууме, равна / л - / / ( п - 1) kK, где / - длина трубки. [12]
Принцип измерения разности хода лучей методом компенсации состоит в том, что к разности хода лучей, создаваемой моделью, добавляется компенсатором разность хода, равная по величине искомой, но обратная по знаку. В этом случае результирующая разность хода лучей равна нулю, и при скрещенных поляроидах наблюдается затемнение в измеряемой точке модели. [13]
Качественная оценка разности хода лучей из-за двулучепреломления в этих средах производится по интерференционной окраске наблюдаемой картины. Количественная оценка производится измерением разности хода с помощью метода Сенармона, изложенного на ее. [14]
 |
Общий вид рефрактометра ИРМ-1. [15] |
Страницы: 1 2 3 4 5