Cтраница 4
Причина этого заключается в том, что измеряемые потенциалы мало специфичны по отношению к некоторым веществам, чтобы удовлетворять требованиям анализа состава воздуха. Другая трудность, которая, правда, имеет место и при колориметрическом анализе, заключается в логарифмической зависимости между измеренной разностью потенциалов и искомой концентрацией вредного вещества, что затрудняет обработку результатов измерений. [46]
Электродный потенциал представляет собой фактически дискретную разность потенциалов между поверхностью электрода и объемом раствора, окружающего электрод. Для всех методов измерения необходимо замыкание электрической цепи; следовательно, возникает вторая поверхность раздела электрод - раствор. Таким образом, эти измерения дают разность между двумя разностями потенциалов на двух поверхностях раздела и есть не что иное, как измерение электродвижущей силы в ячейке. Поэтому электродный потенциал выражается измеренной разностью потенциалов между рассматриваемым электродом и произвольно выбранным стандартом. [47]
Катодная защита возможна только в том случае, когда защищаемая конструкция и анодное заземление находятся в электронном и электролитическом контакте: первое достигается с помощью металлических проводников, а второе - благодаря наличию электролитической среды ( грунта), в которую погружаются защищаемая конструкция и анодное заземление. Катодная защита регулируется путем поддержания необходимого защитного потенциала, который измеряется между конструкцией ( или датчиком поляризационного потенциала) и ЭС. Потенциал между ЭС и защищаемой конструкцией, измеряемый высоко-омным вольтметром, включает в себя кроме поляризационной составляющей омическое падение напряжения IR, обусловленное прохождение катодного тока / через эффективное сопротивление R между электродом сравнения и защищаемой конструкцией. Поэтому критериями защищенности являются минимальный и максимальный защитные поляризационные потенциалы. Таким образом для точного регулирования поляризационного потенциала защищаемой конструкции по отношению к электроду сравнения из измеренной разности потенциалов должна быть иллюминирована ( исключена) величина омической составляющей. [48]
Такой предел точности определяется тем обстоятельством, что для решения вопроса о существовании элементарного заряда указанная точность может считаться вполне достаточной, повышение же точности отдельного измерения за 0.5 % чрезвычайно усложнило бы получение длинных серий. Время, необходимое для компенсации частички, растет с требуемой точностью. Так, например, для того, чтобы убедиться, что частичка скомпенсирована с точностью до 0.5 %, нужно, чтобы частичка, проходящая 1 деление в 1.5 сек. Прежде чем такая компенсация будет достигнута, необходим ряд пробных компенсаций, сужающих пределы искомой разности потенциалов. Таким образом, каждое измерение требует-не менее 10 мин. За это время тепловые влияния начинают заметно сказываться, приходится несколько изменить наклон конденсатора, что уже изменяет на несколько десятых процента компенсирующую разность потенциалов. Указанная точность измерения является поэтому естественным пределом, доступным без существенного усложнения опыта. В табл. 2 приведен ряд наблюдений с заданной точностью компенсации в 1 %; в табл. 3 - более длинный ряд наблюдений, являющийся типичным для всех наблюдений над фотоэлектрическим эффектом, где вопрос о точности компенсации отступает на задний план. Наконец, в табл. 6 целиком приведены данные всей серии наблюдений с одной и той же частичкой. Для оценки точности результатов здесь приведены 3 различные системы: в табл. 1, 2 и 3 указано, с какой точностью удовлетворяется постоянство произведения разностей потенциалов на ряд целых чисел, пропорциональных заряду частички; отклонения выражены в процентах. В приведенных уже предварительных опытах сравниваются измеренные разности потенциалов с теми, которые должны были бы получиться, если бы заряды выражались целыми кратными элементарного заряда. [49]
Такой предел точности определяется тем обстоятельством, что для решения вопроса о существовании элементарного заряда указанная точность может считаться вполне достаточной, повышение же точности отдельного измерения за 0.5 % чрезвычайно усложнило бы получение длинных серий. Время, необходимое для компенсации частички, растет с требуемой точностью. Так, например, для того, чтобы убедиться, что частичка скомпенсирована с точностью до 0.5 %, нужно, чтобы частичка, проходящая 1 деление в 1.5 сек. Прежде чем такая компенсация будет достигнута, необходим ряд пробных компенсаций, сужающих пределы искомой разности потенциалов. Таким образом, каждое измерение требует не менее 10 мин. Зажато время тепловые влияния начинают заметно сказываться, приходится несколько изменить наклон конденсатора, что уже изменяет на несколько десятых процента компенсирующую разность потенциалов. Указанная точность измерения является поэтому естественным пределом, доступным без существенного усложнения опыта. В табл. 2 приведен ряд наблюдений с заданной точностью компенсации в 1 %; в табл. 3 - более длинный ряд наблюдений, являющийся типичным для всех наблюдений над фотоэлектрическим эффектом, где вопрос о точности компенсации отступает на задний план. Наконец, в табл. 6 целиком приведены данные всей серии наблюдений с одной и той же частичкой. Для оценки точности результатов здесь приведены 3 различные системы: в табл. 1, 2 и 3 указано, с какой точностью удовлетворяется постоянство произведения разностей потенциалов на ряд целых чисел, пропорциональных заряду частички; отклонения выражены в процентах. В приведенных уже предварительных опытах сравниваются измеренные разности потенциалов с теми, которые должны были бы получиться, если бы заряды выражались целыми кратными элементарного заряда. [50]