Разрешение - микроскоп
Cтраница 1
Разрешение микроскопа ограничивается угловым размером объектива относительно фокуса. [1]
 |
Данные, которые м / жно получить методом СЭМ при бомбардировке образца пучком электронов [ О. 66 ]. [2] |
Разрешение микроскопа зависит от толщины пучка электронов и площади образца, испускающей вторичные электроны. [3]
Увеличив разрешение микроскопа и временное разрешение, с которым регистрируется движение, мы вновь получим подобное случайное блуждание. Как мы увидим ниже, броуновское движение самоподобно. Если время рассматривать как дополнительное измерение, то зависимость положения частицы как функция времени, называемая диаграммой движения, является не самоподобной, а самоаффинной. [4]
Предел разрешения микроскопа определяется дифракционными явлениями, возникающими в плоскости предметов, микроструктура которых действует на световые волны подобно дифракционной решетке. [5]
Предел разрешения микроскопа определяется дифракционными явлениями, возникающими в плоскости предмета, микроструктура которого действует на световые волны подобно дифракционной решетке. [6]
Теоретический предел разрешения микроскопа зависит: от длины волны света, используемого для освещения и от апер-турного угла, связанного с объективом. Окуляр в отличие от объектива не влияет на разрешающую способность микроскопа. [7]
Учитывая наличие предела разрешения микроскопа и предела разрешения глаза, вводят понятие полезного увеличения микроскопа. [8]
При исследовании гетерогенных сплавов разрешение микроскопа реализуется, если используют отпечатки с фиксированными частицами исследуемых фаз. [9]
Методы различаются сферами применения, определяемыми разрешением микроскопа. [10]
Ионизация газов в сильном электрическом поло на металлических остриях и разрешение ионного микроскопа. [11]
Полезное увеличение микроскопа - такое увеличение, при котором предмет, имеющий размер, равный пределу разрешения микроскопа, имеет изображение, размер которого равен пределу разрешения глаза. [12]
Если интерференции дифрагированных пучков с прошедшим пучком или между собой препятствует ограничение, накладываемое апертурой объективной линзы, или если при данных условиях эксперимента разрешение микроскопа недостаточное, изменение интенсивности прошедшего пучка на светлопольном изображении будет зависеть от положения. На темнопольных изображениях, полученных от отдельных дифрагированных пучков, от положения будет зависеть изменение интенсивности-дифрагирован-ных пучков. Совершенные плоскопараллельные кристаллы ( однородной толщины) не будут давать контраста, однако любой дефект, изгиб или изменение толщины кристалла могут привести к его возникновению. [13]
В электронных микроскопах ( X 0 1 - - 1 нм и А 0 001 - - 0 01) предел разрешения почти в 100 раз превышает предел разрешения микроскопов, работающих в видимом свете. [14]
Теневое изображение объекта получается в теневых электронных микроскопах, в которых тонкий электронный пучок, облучающий образец, остается неподвижным. Разрешение теневого микроскопа определяется диаметром пучка и дифракционными явлениями. На образование изображения влияют различия в рассеянии и поглощении электронов разными участками образца. Яркость изображения значительно ниже, чем в просвечивающем микроскопе. Для ее увеличения возможно применение электронно-оптических преобразователей. [15]
Страницы: 1 2