Cтраница 2
Основные ограничения в эту величину вносят дифракция, обусловленная конечной длиной дебройлевской волны электронов [ при ускоряющем напряжении 100 кв эта величина равна 0 004 нм ( 0 04 А) ], и сферич. Разрешение лучших серийных микроскопов практически достигло теоретич. [16]
Основные ограничения в эту величину вносят дифракция, обусловленная конечной длиной дебройлевской волны электронов [ при ускоряющем напряжении 100 кв эта величина равна 0 004 ил ( 0 04 А) ], и сферич. Разрешение лучших серийных микроскопов практически достигло теоретич. [17]
Масштаб изображения обратно пропорционален фокусному расстоянию О. Предел разрешения микроскопа е, - мин. ХМ, где А - числовая апертура О, равная произведению показателя преломления среды, находящейся между объектом и О. [18]
Явление дифракции от краев диафрагм, ограничивающих пучок лучей, вызывает понижение разрешающей способности. Для определения предела разрешения микроскопа применяются тес-объекты ( диатомеи), для зрительных труб и фотообъективов - штриховые миры. [19]
В последние годы внимание общественности все чаще привлекают сравнительно новые науки - молекулярная биология и клеточная биология, но никто не задумывается о том, что наряду с ними должна бы развиваться и мезобиология, изучающая содержимое клетки между уже знакомыми нам объектами. А нужно-то для этого разрешение микроскопа всего-навсего 10 7 м ( характерный масштаб мезомира) - далеко не рекордное по нынешним временам. Каковы детали ДНК в таких масштабах - вот, пожалуй, главный вопрос, не ответив на который, не достичь исчерпывающего понимания механизмов самовоспроизведения и передачи информации в клетке на уровне спаривания оснований. Пока же наши представления на этот счет остаются фрагментарными. [20]
Наблюдаемый в этом случае зародыш, вероятно, нельзя рассматривать как критический. Величина последнего может быть меньше разрешения микроскопа. Далее под зародышем иногда подразумевается скопление атомов с размерами, достаточными для его экспериментального наблюдения. [21]
При указанных в таблице допусках разрешение микроскопа составляет около 1 мкм. С увеличением разрешения на оси до 0 1 мкм эти допуски на порядок уменьшаются. [22]
Одной из важных проблем электронной микроскопии и электронографии является создание электронных микроскопов с энергиями электронов до II Мэв и выше. При таких энергиях электронов легче получить большее разрешение микроскопа, лучшую контрастность изображения, упрощается технология получения тонких срезов изучаемых объектов и др. Использующиеся для этой цели электростатические генераторы высоких напряжений громоздки, сложны в эксплуатации, дороги, немобильны и, как результат этого, уникальны. Основными трудностями в этой задаче окажутся вопросы повышения стабильности частоты и амплитуды высокочастотных генераторов, создающих ускоряющее поле, а также ряд практических вопросов по стабилизации параметров ускорителя. Но с помощью современной радиотехники и автоматики подобная задача, по-видимому, разрешима. [23]
Весьма важным примером фрактальной кривой является траектория броуновской частицы. Ее фрактальность проявляется в том, что, увеличивая разрешение микроскопа и уменьшая время между фиксациями местоположениями броуновской частицы, мы вновь получим подобные друг другу блуждания. График зависимости координаты броуновской частицы от времени ( винеровский процесс) является самоаффинной кривой и также нигде не дифференцируется. [24]
А - 0 001 - 0 01) предел разрешения почти в 100 раз превышает предел разрешения микроскопов, работающих в видимом свете. [25]
СПЭМ имеет ряд потенциальных преимуществ особенно в отношении легкости детектирования прошедших и дифрагированных пучков, их анализа и действия с ними и возможности гибкого управления изображением путей изменения электрического сигнала - непосредственного результатата действия микроскопа. Более того, если сканирование прекратить, то при дифракции в сходящемся пучке получается картина от участка почти такого же диаметра, что и предел разрешения микроскопа. [26]
Предельное разрешение микроскопа после исключения хроматических ошибок и астигматизма определяется сферической аберрацией и дифракционными явлениями. Повышение ускоряющего напряжения до 300 кВ вызывает резкое убывание потерь энергии электронов в объекте. Существенно повысить разрешение микроскопа можно применяя криогенные линзы, позволяющие уменьшить сферическую аберрацию по сравнению с аберрацией обычных объективов, либо корректируя сферическую аберрацию при помощи дополнительных октупольных элементов линз. [27]
Явление дифракции от краев диафрагм, ограничивающих световой пучок лучей, поступающих в прибор, вызывает понижение разрешающей способности. Наименьшее расстояние между двумя светящимися точками ( или прямыми линиями), которые еще могут быть различимы, является мерой разрешающей силы оптического прибора. Для определения предела разрешения микроскопа применяются тест-объекты ( диатомеи), для зрительных труб и фотообъективов - штриховые миры. [28]
В реальных условиях освещение объектов в микроскопах производится широкими пучками лучей различных направлений. Поэтому величину, определяемую соотношением ( 16), можно рассматривать как предел разрешения микроскопа, обусловленный волновой природой света. [29]
Хром был одним из первых металлов, получивших всеобщее признание. Он легко испаряется, но из-за его малого атомного номера и невысокой плотности приходится наносить сравнительно толстые слои ( до 50 А) для получения достаточной контрастности изображения. Никель обладает весьма малой зернистостью в слоях тоньше 20 А, но он сплавляется с вольфрамом, что весьма затрудняет его испарение. Хотя уран также слегка сплавляется с вольфрамом, его все же нетрудно испарить из вольфрамовой спирали и в связи с высокими атомным номером и плотностью он является одним из лучших материалов для выявления очень тонкой структуры. В связи с тем, что уран окисляется на воздухе, эффективная плотность его слоя может быть несколько понижена. Наилучшими слоями в отношении контрастности, зернистости, химической устойчивости и устойчивости во время электронной бомбардировки являются, вероятно, слои из чистой платины. Платина сплавляется с вольфрамом, поэтому возникают трудности при ее испарении. Платину лучше испарять не из спирали, как обычно принято, а с [ / - образной вольфрамовой проволоки, на которую навешивается кусочек платиновой проволоки. При этом на объекте образуются не кристаллики платины, а мельчайшие частицы окиси платины, размеры которых находятся за пределом разрешения микроскопа. Если не имеется готового сплава, то на вольфрамовую нить наносят кусочки металлов в соотношении Pt: Pd как 3: 1 по весу. При нагревании первым плавится палладий, который затем сплавляется с платиной и предотвращает взаимодействие платины с вольфрамом. Слои палладия обладают достаточной рассеивающей способностью, но под действием интенсивного электронного облучения в них протекают процессы грануляции. В начальной стадии развития метода отте-нения часто применяли золото, пока не была замечена его тенденция также образовывать зернистую структуру под действием электронного пучка. Эта тенденция может быть ослаблена сплавлением золота с марганцем. Что касается толщины наносимых слоев платины, ее сплава с палладием и урана, то в зависимости от объекта ее варьируют в пределах от 3 до 15 А. [30]