Разрешение - прибор
Cтраница 2
Об оптимальном положении датчика судят по увеличению амплитуды и сужению линий наблюдаемого спектра, что свидетельствует об улучшении разрешения прибора, а также по смещению спектра, обусловленному увеличением напряженности магнитного поля. [16]
При этом точность определения масс ионов ( обычно требуется не менее трех значащих цифр после запятой) зависит от разрешения прибора ( см. гл. [17]
Метод применим только к веществам, которые образуют в ионизационной камере стабильные ионизированные молекулы; возможности его использования ограничиваются также разрешением прибора. [18]
По абсолютной величине константы спин-спиновой связи принимают значения от нуля до нескольких тысяч герц, причем нижний предел определяется, по существу, разрешением приборов. Кроме того, теория, в согласии с экспериментом, предсказывает, что константы связи могут быть положительными или отрицательными. Последние возникают, когда в сложной молекуле взаимная параллельная ориентация двух ядерных спинов оказывается более-энергетически выгодной, чем антипараллельная. [19]
Метод электронной микроскопии используется во многих областях науки и технологии, поскольку величину и форму частиц, размеры которых находятся в пределах от 10 мкм до нескольких десятых долей нанометра, можно определять со степенью надежности, которая прямо пропорциональна отношению размера образцов и разрешения прибора. [20]
 |
Спектр КР кристалла BaF2 - H при 16 К.| Положение колебательных уровней энергии иона Н - в кристалле фторида бария по данным измерения ИК - и КР-спектров при 77 К. [21] |
Справа - фундаментальная частота, слева - вторые гармоники мод А, и Тг. Разрешение прибора указано в каждом случае. [22]
 |
Оптическая схема стилометра СТ-1. [23] |
Линейная дисперсия прибора в области 6000 А составляет около 40 А / мм, в области 4000 - 8 А / мм. Разрешение прибора достаточно, чтобы разделить спектральные линии железа с длинами волн 5167 49 и 5168 90 А. [24]
 |
Основные часта системы, использующейся для эмиссионной спектроскопии. [25] |
Качество диспергирующей системы характеризуется двумя основными параметрами - разрешением и дисперсией. Разрешение прибора показывает, каково может быть минимальное различие по длине волны ( ДА) для двух линий, которые можно еще отличить друг от друга. [26]
Нахождение оптимальной ширины решетки для каждой конкретной схемы прибора не представляет практического интереса. За предел разрешения прибора принимается полуширина кривой его АФ - разность абсцисс, которым соответствуют ординаты, равные половине максимальной. [27]
На качестве масс-спектра сказываются некоторые рабочие характеристики прибора, которые необходимо постоянно контролировать и менять в зависимости от природы образца и условий съемки. К ним относятся: 1) разрешение прибора, 2) уровень фоновых сигналов, 3) усиление и скорость развертки спектра, 4) стабильность вещества в системе напуска. [28]
Как уже указывалось выше, при большом разрешении прибора и исследовании веществ в газовой фазе колебательно-вращательные полосы обнаруживают вращательную структуру. [29]
Теоретическая разрешающая способность системы почти не изменится, поскольку уменьшится ширина а выходящего из нее пучка лучей. Но в тех случаях, когда предел разрешения прибора определяется не дифракционными явлениями, а шириной щели и аберрациями объективов, система Малышева может дать некоторый выигрыш в разрешающей способности: меридиональное увеличение ее равно 1, так что ширина изображения щели, а следовательно, и полуширина Ье кривой АФ в формуле (1.38) не изменяется, а дисперсия возрастает. Вместе с тем увеличиваются, однако, и потери на отражение. [30]
Страницы: 1 2 3 4