Разрешение - прибор
Cтраница 3
Им особенно удобно пользоваться при экспериментальном определении предела разрешения прибора; для этого достаточно найти его аппаратную функцию. [31]
Каждый прибор измеряет лишь некоторое среднее значение величины по малому промежутку времени, называемому временем разрешения. Результат измерения потока энергии волн в эксперименте зависит от времени разрешения прибора. [32]
Как известно, повышение чувствительности и точности спектрального анализа в основном достигается увеличением разрешающей способности и светосилы спектрального прибора [1], применением фотоэлектрических методов регистрации спектра. Так как величины спектральной ширины щелей и измеряемого потока с увеличением разрешения прибора уменьшаются, то вопросы повышения светосилы приобретают особую актуальность. Показано [2], что благодаря более высокой дисперсии дифракционные приборы с профилированными решетками в видимой и инфракрасной областях спектра имеют многократное преимущество перед призменными по светосиле. Однако это справедливо только для отдельных участков спектра, так как обычные дифракционные приборы не обеспечивают высокого и постоянного пропускания в широкой спектральной области. Распределение интенсивности выделяемого излучения разных длин волн определяется функцией, описывающей дифракцию на отдельной ступени решетки. Приемлемое для работы пропускание прибор Дает в диапазоне углов дифракции ф, соответствующих части угловой ширины главного максимума этой функции. Этому условному критерию соответствует максимальная разность фаз лучей от крайних элементов отражающей поверхности ступени решетки. [33]
Очевидно, достигаемое таким образом расширение интервала сканирования получается за счет ухудшения разрешения прибора. На рис. 4, б показана кривая пропускания интерференционного фильтра. Область призм LiF разбивается на четыре несколько перекрывающихся интервала 5000 - 3500 см - 3600 - 2600 см-1, 2800 - 2200 см-1 и 2200 - 1800 см-1. Уменьшение ширины сканируемого интервала за счет амплитуды колебаний зеркала 5 не ведет к увеличению числа спектров, регистрируемых в единицу времени, но является полезным при количественном изучении изменений, происходящих в узком, наперед известном спектральном интервале. Во-первых, уменьшается скорость сканирования полезного интервала и, следовательно, уменьшаются временные искажения. Во-вторых, при конечной емкости регистрирующего устройства ( экран электронно-лучевой трубки) возрастает количество получаемой полезной информации. Приборы с качающимся зеркалом удобны в сочетании со струйной техникой. [34]
Таким образом, изменение температуры на 1 может быть заметно, если предел разрешения прибора 0 5 А. [35]
Собственные значения становятся разными, если это изменение достаточно общее: этот эффект в физике называется расщеплением уровней, или снятием вырождения. Например, одна спектральная линия может расщепиться на две или больше либо при увеличении разрешения прибора, либо при помещении системы во внешнее поле. [36]
РОЭМ) - приборы, в к-рых при сканировании электронного зонда детектируются оже-электроны из глубины объекта не более 0 1 - 2 нм. При такой глубине зона выхода оже-электронов не увеличивается ( в отличие от электронов вторичной эмиссии) и разрешение прибора зависит только от диаметра зонда. [37]
В действительности любая физ. F, принимающая непрерывные значения, может быть определена только с иск-рой степенью точности Д / 1, зависящей от разрешения прибора. [38]
 |
Изменение пропускания, наблюдаемого на экране осциллографа при измерении в заданной длине волны. [39] |
С помощью описанного метода получается кинетическая кривая реакции в одной длине волны спектра, но остаются неизвестными изменения, происходящие в других областях. Для того чтобы получить информацию об изменениях во всем изучаемом спектральном интервале, необходимо повторить опыт на других длинах волн, число которых выбирается в зависимости от разрешения прибора. [40]
Нессель [199] и Ван-дер - Лаан и др. [200] разработали для спектроскопии плазмы лабораторные трубки ЭОП. В трубках, описанных в работе [199], вместо экрана устанавливается фотоэлектронный умножитель, на вход которого фокусируется щель спектрографа; благодаря этому послесвечение люминофора не ограничивает разрешение прибора во времени. [41]
Из приведенных данных следует, что для R0 / r0 10 и eVT 0 99xm9o / 2 все электроны со скоростью v0 еще достигают внешней сферы, но при eVu - mv % / 2 они задерживаются. Область спада вдоль оси абсцисс, даже в случае моноэнергетического электронного пучка, увеличивается с уменьшением отношения R0 / r0, и, следовательно, это отношение определяет разрешение прибора. [42]
Для гологра-фических систем специально разработаны фотоэмульсии с большим значением числа N ( порядка 1000 - 8000 мм 1), позволяющие добиваться большой разрешающей силы прибора. Если, например, N - 103 мм 1, то величина V2e 1 / 2N 0 5 - 10 - 3 мм оказывается сравнимой с длиной волны, и фотопластинка не очень сильно ухудшает разрешение прибора. [43]
Для голографических систем специально разработаны фотоэмульсии с большим значением числа N ( порядка 1000 - 8000 мм 1), позволяющие добиваться большой разрешающей силы прибора. Если, например, N 103 мм 1, то величина е / 2 1 / 2N 0 5 10 - 3 мм оказывается сравнимой с длиной волнй, и фотопластинка не очень сильно ухудшает разрешение прибора. [44]
 |
Колебательно-вращательная полоса газообразного НС1, полное время регистрации 1 4 мсек. [45] |
Страницы: 1 2 3 4