Cтраница 1
Разрешение спектрометра должно быть, конечно, достаточным, чтобы выявить все детали спектра. [2]
Разрешение спектрометра контролируется по спектрам газов СС2, аммиака и др. В качестве рабочего эталона пользуются пленкой полистирола, удобной как для проверки градуировки по частотам, так и по разрешению. [3]
Отсюда видно, что разрешение спектрометров с ППД на один-два порядка превосходит разрешение сцинтилляционных спектрометров. Однако предельное значение разрешения не достигается из-за потери носителей в ППД в процессе их сбора. Важное воздействие на разрешение оказывают различные примеси и дефекты, влияющие на условия дрейфа. В спектрометрах вклады различных шумовых источников обычно суммируются как квадраты их величин. Это законно, если источники шума независимы. [4]
Расположение проводника с током в шиммах прямоугольной конфигурации. [5] |
Вг неоднородного поля влияет на разрешение спектрометра. Исключив из рассмотрения поперечные компоненты Вх и Ву. [6]
При завышенном питающем напряжении ухудшается разрешение спектрометра за счет влияния темновых токов ФЭУ. Питающее напряжение не должно быть выше напряжения, соответствующего минимальному отношению амплитуд темновых импульсов к коэффициенту усиления ФЭУ. [7]
При анализе препаратов со сложным спектром у-излучеиия очень велика роль разрешения спектрометра. Кроме уже отмеченной потери точности низкое разрешение приводит к дополнительным затруднениям в определении энергии даже интенсивных линий в результате эффектов наложения. [8]
Аппаратурный спектр у-излучения, измеренный детектором с кристаллом Nal ( T1), и действительное уполе различаются из-за рлияния комптоновского рассеяния ИЗЛУчения в детекторе, эффективности детектора и разрешения спектрометра. [9]
В спектре отыскивают синглетную линию ( или, точнее, предположительный синглет), оценивают его ширину Avi / 2, пользуясь известным масштабом, и сравнивают эту величину с паспортным разрешением спектрометра ( А чг2) о - Если Avi / 2 существенно больше ( Avi) o, то разрешение считается плохим. При анализе причин плохого разрешения следует проверить раствор на наличие парамагнитных примесей, а также твердых нерастворимых примесей. [10]
В отдельных случаях становится заметным влияние шумов электронных устройств. Разрешение спектрометра зависит от энергии регистрируемого излучения и улучшается с ростом последней согласно приблизительному соотношению Ei / з - а Ь / у Еизл, где а и Ь - постоянные величины, характерные для данного спектрометра. [11]
Величина сигнала полупроводникового детектора довольно мала ( на уровне милливольт), поэтому к входным параметрам предусилителя ( входная емкость, уровень шумов) предъявляются весьма жесткие требования. Для понижения уровня шумов предусилителя, которые могут положить предел разрешению спектрометра, его также приходится охлаждать до низкой температуры. [12]
В сомнительных случаях для повышения надежности идентификации, как правило, требуется привлечь некоторые дополнительные сведения. Для этого, например, проверяют, соответствует ли полуширина разрешению спектрометра в данном энергетическом интервале. Если полуширина пика будет больше, чем необходимо, то это свидетельствует о том, что пик состоит из двух или большего числа у-линий близкой энергии. Этот же факт подтверждает искажение формы пика. [13]
Рассмотрим несколько наиболее распространенных способов расчета концентраций нуклидов по аппаратурным спектрам. Применение того или иного способа зависит от активности проб, уровня мешающих излучений, разрешения спектрометра и полноты сведений о возможном нуклидном составе. Методы расчета активности по спектрам излучений различных типов близки между собой. Условно их можно разделить на две группы: аналитические ( матричный и амплитудный методы, метод наименьших квадратов) и графические. [14]
Теоретически для строго заданного угла рассеяния спектральная форма бриллюэновского рассеяния, следующая из (7.53), является дельта-функцией. На практике пик оказывается уширенным из-за экспериментальных факторов, таких как конечный угол сбора рассеянного света и разрешение спектрометра. Помимо этих внешних факторов существуют собственные механизмы уширения, например, время жизни фонона и непрозрачность образца. [15]