Наибольшее разрешение - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Железный закон распределения: Блаженны имущие, ибо им достанется. Законы Мерфи (еще...)

Наибольшее разрешение

Cтраница 1


1 Схематическое изображение уст. [1]

Наибольшее разрешение может быть достигнуто при мини - 2 мальной длине волны электронов.  [2]

С наибольшим разрешением спектр комбинационного рассеяния газообразного трихлорметана был получен Уэлшем с сотрудниками [4202], которые определили достаточно надежные значения основных частот СНС13, находящиеся в согласии со значениями этих величин, найденными другими исследователями. Значения частот va, vg, v5, ve, найденные в работе 14202 ], являютсяболее точными, чемнайденные в других работах при исследовании спектра комбинационного рассеяния и инфракрасного спектра газообразного трихлорметана. Значения частот v4 1218 и 1 3032 см 1, найденные в работе [4202], практически совпадают с несколько более точными значениями v4 1218 9 и vl 3034 4 см 1, найденными Дженкинсом и Стрейли [2238] при изучении инфракрасного спектра.  [3]

С наибольшим разрешением тонкой структуры полос инфракрасный спектр CH3J в области основных частот был получен в работах [743, 638, 2516], в которых использовались спектрометры с дифракционными решетками. Приведенные в монографии Герцберга [152] значения основных частот молекулы CH3J основаны на данных из этих работ. Герцбергом [152] впервые указано, что между частотами колебаний vx и 2v6 молекулы CH3J имеет место резонанс Ферми.  [4]

5 Зависимость числа элементов разложения от диаметра апертуры луча ( а 1Д 0 633 мкм. [5]

Из формулы ( 72) видно, что для наибольшего разрешения необходимо увеличивать D и Э, однако их увеличение носит противоречивый характер: увеличение 6 приводит к увеличению времени на сканирование, а увеличение D - к уменьшению плотности лучистого потока. Выражение ( 72) является фундаментальным при определении разрешающей способности сканирующей системы и не зависит от особенностей оптики, сопряженной с дефлектором.  [6]

Другое преимущество стратосферных обсерваторий заключается в возможности получения снимков с наибольшим разрешением, близким к его теоретическому значению для оптики данного размера.  [7]

В случае сферической решетки радиуса R, освещаемой параллельным пучком ( аналог схемы Водсворта), наибольшее разрешение достигается в дальнем, сагиттальном, фокусе, изображение в котором имеет вид астигматической линии, перпендикулярной к плоскости дисперсии.  [8]

При измерении спектров флуоресценции в различных пределах длин волн целесообразно пользоваться такими монохрома-торами, которые дают в исследуемой области наибольшее разрешение.  [9]

Значение DETECT сообщает библиотеке о том, что тип имеющегося видеоадаптера надо определить ей самой и выбрать для него режим наибольшего разрешения.  [10]

Первый максимум наблюдается при почти нулевом поле в ионизационной камере и связан с ионным пучком, близким к моноэнергетическому и, следовательно, соответствует наибольшему разрешению. Найдено, что более стабильные условия получаются тогда, когда источник работает при втором, более пологом максимуме и эти условия рекомендуются обычно для проведения анализа углеводородов.  [11]

Фиксировано значение пикового коэффициента отражения R0 const. Требуется МИС с наибольшим разрешением.  [12]

Если случайный процесс является стационарным и эргодическим, то требуемые наборы реализаций можно получить из одной реализации путем разбиения ее по времени на части нужного интервала. Длина реализации определяется на основании требуемого наибольшего разрешения по частоте.  [13]

14 Схемы приборов для спектрального анализа по вторичному характеристическому излучению. а - рентгеновский флюоресцентный. б - рентгеновский бескристальный. в - одноканальный v-спектрометтг е-многоканальный спектрометр. / - источник излучения. 2 - анализируемый образец. 3 - коллиметр. 4. [14]

Для решения этих задач могут быть использованы выпускаемые промышленностью источники излучений и детекторы. Выбор источников и детекторов должен производиться так, чтобы получить наибольшее разрешение в областях важнейших спектральных линий определяемых элементов.  [15]



Страницы:      1    2