Cтраница 1
Схема КЗЭ. а начальное. [1] |
Наилучшее разрешение получается, когда ионы движутся против ЭОП. Высокое напряжение также приводит к улучшению разрешения. [2]
Электростатическая электронная линза и ее оптический аналог. Цилиндры при различных потенциалах Уа и W. [3] |
Наилучшее разрешение, которое удается достигнуть в электронном & ик ] юскопе, составляет 2 - 5 А. [4]
Контуры спектральных линий. а-ширина спектральной линии. [5] |
Наилучшее разрешение двух близких длин волн можно получить, строго говоря, при бесконечно узкой ширине щели. Однако в этом случае количество энергии, попадающее в прибор, будет ничтожно мало. Необходимо, следовательно, установить, какова должна быть ширина входной щели прибора, чтобы правильно оценить разрешающую способность прибора. [6]
Наилучшее разрешение двух спектральных линий с близкими значениями длин волн можно получить при бесконечно узкой щели, однако интенсивность линий будет ничтожно мала. [8]
Наилучшее разрешение для белков типа БСА и овальбумнна, а также BrCN-пептидов глобина получали на матрицах с размером пор около 300 А. Для белков с М 100 000 следует предпочесть силикагели со средним размером пор - порядка 1000 А. Достаточной прочностью обладает силикагель марки Vydac TP. Силика-гель Lichrospher Si-300 выдерживает давление лить до 130 атм, что в указанных условиях хроматографии оказывается недостаточным. Впрочем, как уже указывалось, фракционирование белков, по-видимому, следует вести при относительно малых скоростях элю-ции и соответственно умеренных перепадах давления; тогда прочность любой силикагелевой матрицы окажется достаточной. [9]
Наилучшее разрешение при этом ухудшается ( напр. [10]
Схема КЗЭ. а начальное. [11] |
Наилучшее разрешение получается, когда ионы движутся против ЭОП. [12]
Наилучшее разрешение электронного микроскопа соответствует апертурному углу не более 10 - 2 рад. В этих условиях теоретический предел разрешения электронного микроскопа составляет 1 43 А. Практически на лучших электронных микроскопах с применением тонких и контрастных объектов можно достигнуть разрешение около 2 А, что почти в 500 раз больше разрешающей способности светового микроскопа. Это означает, что у объекта, едва различимого в световом микроскопе в виде точки, в электронном микроскопе можно рассмотреть 500 деталей в каждом из двух взаимно перпендикулярных направлений, а количество информации при этом увеличивается в 500 х 500 250 000 раз. [13]
Наилучшее разрешение электронного микроскопа соответствует апертурному углу не более 10 2 рад. В этих условиях теоретический предел разрешения электронного микроскопа составляет 1 43 А. [14]
Поиски наилучшего разрешения учебных задач ведутся давно как в нашей стране, так и в зарубежных социалистических и капиталистических странах. [15]