Плохое разрешение

Cтраница 2

В настоящее время серьезным недостатком интерферометриче-ского метода является плохое разрешение. Спектры, показанные на рис. 6 - 20 и 6 - 21, были получены путем вычитания спектра фона из спектров образцов. Из-за различий в - относительных интенсив-ностях такие спектры не совсем пригодны для сравнения с обычными спектрами, получаемыми на двухлучевых спектрометрах. Эти различия в интенсивностях возникают из-за того, что в спектре, полученном путем вычитания, интенсивность зависит от спектральной характеристики самого источника. [16]

Чтобы избежать возможных ошибок при интерпретации спектров и плохого разрешения, не следует использовать для измерений растворители и другие среды при длинах волн ниже их предела пропускания даже в тех случаях, когда применяется компенсирующая кювета с чистым растворителем. Большинство перечисленных в табл. 85 растворителей поступает в продажу в высокоочищенпом или, как говорят, в спектроскопически чистом виде; пределы пропускания для них приведены в расчете на толщину слоя 1 и 10 мм. [17]

Анализ формы основных компонент экспериментальных спектров, соответствующих плохому разрешению суперСТС, показывает, что в условиях быстрого вращения радикала компоненты спектра действительно имеют форму, промежуточную между гауссовой и лоренцевой, причем с понижением частоты вращения радикала форма приближается к лоренцевой. [18]

Схема отражательного микроскопа. О, - угол облучения, - угол наблюдения. [19]

При больших углах ф изображение поверхности получается с плохим разрешением при любом угле наблюдения, из-за большого разброса по скоростям рассеянных электронов, что приводит к большой хрома-тич. Весьма малое в этих условиях отношение числа рассеянных электронов к числу упавших приводит еще и к очень слабой плотности тока в изображении. [20]

Если трудно расшифровать спектр в области тяжелых масс из-за плохого разрешения пиков, надо уменьшить напряжение высокой частоты. [21]

Если в области тяжелых масс расшифровать спектр трудно из-за плохого разрешения пиков, то необходимо уменьшить напряжение высокой частоты. [22]

Стронг, Банди и Ларсон предположили, что при плохом разрешении полное обращение будет наблюдаться, когда сумма площадей А и А равна площади В ( фиг. [23]

Одна из трудностей работы с такими счетчиками заключается в свойственном им плохом разрешении вследствие эффекта Ландау ( см. гл. Один такой счетчик толщиной 0 5 г / см может произвести отбор 5: 1 в описанном выше пучке протонов и л-мезонов. [24]

Зависимость радиационной ширины Гг от атомного веса ядра-мишенп.| Распределение делительных ширин уровней.| Зависимость полного сечения Hg от энергии нейтронов. [25]

На рис. 7 показана зависимость полного сечения Hg, измеренного в области плохого разрешения. [26]

Использование чистых хиральных детергентов в качестве мицеллобразователей во многих случаях приводит к плохому разрешению из-за несимметричности пиков и плохой эффективности. [27]

Относительный отклик фотопроводимости в расчете на один падающий фотон для.| Схема уровней, предложенная для акцепторов группы III в Si. Показаны уровни, энергии которых были определены из низкотемпературных спектров поглощения. [28]

Результаты, полученные в ранних исследованиях, лимитировались низким качеством образцов Si, плохим разрешением спектрометров и электроникой. [29]

Сернистый цинк обладает большим разбросом импульсов а-частиц по амплитуде и, следовательно, имеет плохое разрешение по энергиям. [30]

Страницы: 1 2 3 4 5