Знак - структурная амплитуда
Cтраница 1
Знак структурной амплитуды /; расчетный. [1]
Определение знаков структурных амплитуд начинается с выбора знаков, характеризующих положение начала координат в элементарной ячейке. Далее, при помощи метода структурных произведений, неравенств или статистического метода устанавливаются связи между структурными амплитудами небольшой группы самых сильных отражений, что дает возможность определить знаки некоторых из этих отражений. На основе полученной таким образом системы опорных знаков при помощи статистических связей выявляются знаки остальных структурных амплитуд. [2]
Выч - знак структурной амплитуды, рассчитанной, согласно (6.24), для пробной структуры. Если все рассчитанные знаки правильны, распределение р ( г) будет давать хорошо очерченные, связанные симметрией пики, которые соответствуют положениям атомов, и равномерный фон. Если при этом наблюдаются какие-либо отклонения, то следует внести изменения в принятую модель. [3]
Прямой метод определения знаков структурных амплитуд оснот ван на следующих соображениях. [4]
Работа начинается с угадывания знаков структурных амплитуд. [5]
Существуют и иные варианты определения знаков структурных амплитуд. [6]
Полученные соэтяо - пгния между знаками структурных амплитуд действительны для значений f / l 5i 0 30, где з - среднеквадратичная величина единичных структурных амплитуд. Отсюда видна ограниченная область применения этих методов определения знаков структурных амплитуд. [7]
Для центросимметричного кристалла требуется определить лишь знаки структурных амплитуд. [8]
Несколько проще обстоит дело с нахождением знаков структурных амплитуд в центросимметричных структурах. Это означает, что на фотографии, полученной в дифракционном спектроскопе, области максимумов, следующие друг за другом, должны чередоЕоться по знаку. [9]
В такой форме вопрос о нахождении знаков структурных амплитуд был поставлен в 1952 г. одновременно Сайре, Кокренбм и Захариа-сеном, причем последний предложил воспользоваться соотношением ( ЗЗа) в качестве общего метода определения знаков. [10]
Если оставить в стороне возможность определения знаков структурных амплитуд из соотношений между их модулями ( метод, рассмотренный нами в гл. II), то отправной точкой для получения сведений о координатах атомов могут быть только структурные факторы F ( hkl) 2 - величины, не зависящие от начальных фаз отражений. [11]
 |
Вероятностное распреде - [ IMAGE ] Расположение центров ление структурных произведений инверсии в центросимметричной Хн н по их величине структуре с примитивной ре. [12] |
Практическое значение этого соотношения ясно, если знаки структурных амплитуд некоторых наиболее сильных отражений уже определены. [13]
Поэтому можно быть уверенным в том, что знаки структурных амплитуд почти всех отражений, за исключением некоторых самых слабых и дальних по sin Ф, должны быть положительны. [14]
 |
Проекция межатомной функции ( функции Паттерсона [ Pt ( NH8 2 С14 ] - цис на плоскость у г. [15] |
Страницы: 1 2 3 4