Cтраница 4
Для того чтобы построить распределение электронной плотности р ( х, у, г) [ формула (1.21) ] для кристалла с центром симметрии, необходимо знать не только индексы интерференции и значения FhM, но и знаки структурных амплитуд. Для решения этой задачи в рент-геноструктурном анализе разработаны специальные методы. [46]
Решается эта задача при помощи определенного типа неравенств, связывающих структурные амплитуды разных отражений, или на основе некоторых статистических соотношений между амплитудами. После выяснения знаков структурных амплитуд нахождение координат атомов не представляет принципиальных затруднений. Максимумы электронной плотности определяют координаты атомов. [47]
Следующий этап-определение знаков структурных амплитуд путем сопоставления интенсивностей одноименных отражений двух соединений при учете доли, вносимой в амплитуду изоморфно-замещаемым атомом ( детальнее см. § 9, стр. [48]