Рассеяние - рентгеновское излучение
Cтраница 3
На рис. 37.3 представлены фотографии дифракционных картин, полученных при рассеянии рентгеновского излучения пластинкой алюминия и пучка электронов, прошедших сквозь гонкие пленки золота и меди. [31]
На рис. 37.3 представлены фотографии дифракционных картин, полученных при рассеянии рентгеновского излучения пластинкой алюминия и пучка электронов, прошедших сквозь тонкие пленки золота и меди. [32]
Теоретическую основу этой статьи составляют три крут по ирисов: I) рассеяние рентгеновского излучения поверхностью нелуо. [33]
Фрактальная размерность геля двуокиси кремния была найдена в работах [117 118] при исследовании интенсивности рассеяния рентгеновского излучения на геле при разных длинах волн. [34]
 |
Фрактальная размерность поверхностей по измерениям молекулярной адсорбции. [35] |
Недавно Рожански и др. [185] исследовали мезопористый сили-кагель методами адсорбции, электронного энергообмена и рассеяния рентгеновского излучения на малые углы. [36]
Если же в качестве излучения применяют электроны, то в уравнение (3.54) вместо атомного фактора рассеяния рентгеновского излучения следует подставить атомный фактор рассеяния электронов, оставив все остальные члены без изменения. [37]
Фаулер, приняв эффективный радиус молекулы Н2О равным 1 4 А, рассчитали кривые интенсивности рассеяния рентгеновского излучения для трех типов распределения молекул: плотнейшей упаковки, структуры кварца и льда-тридимита. С изменением температуры эти непрерывно переходят друг в друга. [38]
Точность рентгенографического определения постоянной решетки Да ограниченна вследствие тепловых колебаний атомов, а также дисперсионных особенностей рассеяния рентгеновского излучения. [39]
 |
Упрощенная схема энергетических переходов в атоме, вызывающих появление спектральных линий в рентгеновских спектрах. [40] |
Интенсивность дифракционных максимумов рассеяния зависит от электронной плотности у атомов тех кристаллических плоскостей, на которых происходит рассеяние рентгеновского излучения. Наблюдение дифракционных максимумов различного порядка позволяет определить структуру кристаллического вещества, в частности расстояние d между плоскостями кристаллической решетки, если известна длина волны рентгеновского излучения. [41]
Сравнение (2.43) с (2.20) показывает, что рассеяние электронов теми же атомами почти в 106 раз больше рассеяния рентгеновского излучения. Этим обусловливается быстрота получения электронограмм. Экспозиции электронографических исследований измеряют секундами, в то время как при рентгенографических - минутами и часами. К тому же для наблюденияо картины дифракции электронов достаточно взять пленку в 200 - 300 А, тогда как толщина слоя вещества при рентгенографических исследованиях около 1 мм. [42]
Для количественного описания координационного ближнего порядка в жидких кристаллах Б. К. Ванштейном и И. Г. Чистяковым был применен метод Фурье-анализа кривых интенсивности рассеяния рентгеновского излучения. [43]
Мы считаем, что последовательное применение подхода Андронова-Леонтовича, систематическое сопоставление теории с экспериментом, выбор на этой основе длины волны зондирующего излучения позволят создать надежные количественные методы диагностики шероховатостей сверхгладких поверхностей по рассеянию рентгеновского излучения. [44]
 |
Картина электрон - казано на, из которого ной дифракции монокристалла видно, что угол ш пластинчатого кри-полиэтилена. т г. [45] |
Страницы: 1 2 3 4