Cтраница 2
Электронограммы СС 4 ( а и CS2 ( б. [16] |
Распределение интенсивности / почернения пленки на электронограмме является строго определенным и зависит от строения молекул исследуемого веще ства. Расшифровка электронограммы дает возможность определить структуру молекулы. [17]
Современный электронографический эксперимент представляет собой целый комплекс процедур, связанных с переработкой большого объема информации, и не возможен без самого широкого использования быстродействующих электронных вычислительных машин. Наиболее трудоемкая стадия - расшифровка электронограмм молекул - осуществляется в три этапа: 1) первичная обработка - выделение и уточнение экспериментальной молекулярной составляющей интенсивности рассеяния электронов sM3KCn ( s); 2) предварительная интерпретация sM3Kcn ( s) или ее синус-преобразования Фурье с точки зрения структуры исследуемой молекулы ( поиск предварительной модели молекулы); 3) уточнение структурных параметров изучаемой молекулы. [18]
В случае сложных молекул, где возможно много вариантов структуры, становится трудным отыскать тот, который отвечает истинному строению молекулы. Существуют и другие методы расшифровки электронограмм, не содержащие такой неопределенности, но их изложение не может быть приведено в этой книге. Однако большое число данных, имеющих принципиальное значение для химической науки, было получено в результате расшифровки электронограмм методом проб и ошибок. [19]
Электронограммы СС1, ( а и CS2 ( б. [20] |
Распределение интенсивности / почернения пленки на электронограмме является строго определенным и зависит от строения молекул исследуемого вещества. На рис. 1.25 в качестве примера показаны электронограммы для ССЦ и CSj. Расшифровка электронограммы дает возможность определить структуру молекулы. [21]
Недостатком метода проб и ошибок является необходимость заранее задаваться той или иной моделью молекулы. Для сложных молекул, где возможно много вариантов структуры, становится трудным отыскать тот, который отвечает истинному строению молекулы. Существуют и другие методы расшифровки электронограмм, не содержащие такой неопределенности, но их изложение не может быть приведено в этой книге. Однако большое число данных, имеющих принципиальное значение для химической науки, было получено в результате расшифровки электронограмм методом проб и ошибок. [22]
В случае сложных молекул, где возможно много вариантов структуры, становится трудным отыскать тот, который отвечает истинному строению молекулы. Существуют и другие методы расшифровки электронограмм, не содержащие такой неопределенности, но их изложение не может быть приведено в этой книге. Однако большое число данных, имеющих принципиальное значение для химической науки, было получено в результате расшифровки электронограмм методом проб и ошибок. [23]
Основными задачами при изучении текстуры являются: определение вида текстуры, индексов оси текстуры, положения этой оси относительно плоскости подложки и определение угла рассеяния текстуры. Как указывалось ранее, в большинстве пленочных образцов встречается аксиальная текстура. Поэтому расшифровку электронограммы с такими признаками следует начинать с предположения о наличии в образце именно этого вида текстуры. Позже это предположение проверяется. [24]
В течение 1929 - - 1930 гг. первым методом была определена длина связи СС1 сначала 0 22 нм, а затем 0 183 нм. Однако через три года в результате электронографических исследований это значение как для кристаллического, так и для газообразного четыреххлори-стого углерода было снижено до 0 175 нм. Первоначальное подтверждение электронографическим методом неточных результатов, полученных с помощью рентгенографии, объясняется тем, что расшифровка электронограмм производилась с ориентировкой на рентгенографические данные. [25]
В течение 1929 - 4930 гг. первым методом была определена длина связи СС1 сначала 0 22 нм, а затем 0 183 нм. Однако через три года в результате электронографических исследований это значение как для кристаллического, так и для газообразного четыреххлори-стого углерода было снижено до 0 175 нм. Первоначальное подтверждение электронографическим методом неточных результатов, полученных с помощью рентгенографии, объясняется тем, что расшифровка электронограмм производилась с ориентировкой на рентгенографические данные. [26]
Недостатком метода проб и ошибок является необходимость заранее задаваться той или иной моделью молекулы. Для сложных молекул, где возможно много вариантов структуры, становится трудным отыскать тот, который отвечает истинному строению молекулы. Существуют и другие методы расшифровки электронограмм, не содержащие такой неопределенности, но их изложение не может быть приведено в этой книге. Однако большое число данных, имеющих принципиальное значение для химической науки, было получено в результате расшифровки электронограмм методом проб и ошибок. [27]
Электронография основана на явлении дифракции электронов на ядрах атомов. Метод применяется для изучения структуры различных веществ в газообразном состоянии. Дифракционная картина взаимодействия быстрых электронов с веществом фиксируется на фотопластинке в виде электронограммы. Она состоит из центрального пятна, образованного неотклонившимися электронами, и колец различной интенсивности, являющихся результатом действия рассеянных электронов. Характер колец и их интенсивность обусловлены строением исследуемого соединения. Расшифровка электронограмм путем использования определенных математических соотношений дает возможность установить геометрическую форму, расположение атомов, межъядерные расстояния и валентные углы несложных молекул. В случае сложных соединений применение электронографии затруднено. [28]
Способы, описанные выше, дают представление о средней толщине пленки окисла и его рельефе. Принцип этого способа не отличается от рентгеноструктурного изучения кристаллических тел. Но жесткие рентгеновы лучи проходят на значительную глубину под поверхность и отражаются от кристаллических плоскостей, расположенных в глубине объекта. Пучку же электронов можно сообщить достаточно малую скорость, так что он не будет проникать глубоко в твердое тело, отражаясь от плоскостей, лежащих вблизи поверхности. Расшифровка электронограмм не отличается принципиально от обработки рентгенограмм. Электронографический способ исследования показывает, что окисные пленки часто представляют собой кристаллы с такой же решеткой, как у обычных окислов. Определив кристаллическую структуру окисной пленки, можно установить, какой именно окисел закрывает поверхность металла. [29]
Изменение параметра осадка с увеличением толщины. [30] |