Режим - просвечивание
Cтраница 1
 |
График экспозиции для стали F 60.| График экспозиции для алюминия. F 50 Пленка чувствительностью 400 по XD. Без. [1] |
Режим просвечивания выбирают исходя из химического состава просвечиваемого сплава, толщины изделия, допустимой чувствительности, а также требований экономичности и условий организации производства. [2]
 |
Влияние величины фокуса на четкость изображения. [3] |
Режим просвечивания выбирают, исходя из химического состава просвечиваемого сплава, толщины изделия, допустимой чувствительности, а также требований экономичности и условий организации производства. [4]
Выбор режима просвечивания состоит в определении анодного напряжения U на рентгеновской трубке, фокусного расстояния F и экспозиции It. Анодное напряжение на трубке выбирают в зависимости от толщины контролируемого изделия и от требуемой производительности контроля. Выбор фокусного расстояния также обусловлен толщиной контролируемого изделия и, кроме того, требуемым полем облучения. Как говорилось ранее, для получения более четкого снимка следует брать большие фокусные расстояния. Но это, в свою очередь, невыгодно с точки зрения производительности контроля, так как при больших фокусных расстояниях время экспозиции возрастает прямо пропорционально квадрату фокусного расстояния. На практике фокусное расстояние выбирают в зависимости от времени просвечивания или размеров контролируемого изделия и принимают его в пределах 300 - 1000 мм. [5]
 |
Система радиационной безопасности при промышленной дефектоскопии. [6] |
При безаварийном режиме просвечивания изделий служба ра-иационной безопасности контролирует индивидуальные дозы об-аучения персонала; уровни излучения на рабочих местах: эффективность радиационной защиты ( дефектоскопических лабораторий, хранилищ источников излучения, радиационных головок дефектоскопов); исправность системы блокировки и сигнализации. [7]
 |
График экспозиции для стали F 60.| График экспозиции для алюминия. F 50 Пленка чувствительностью 400 по XD. Без. [8] |
На практике режим просвечивания для изделия данного химического состава и толщины ориентировочно находят с помощью условий фокусировки, чувствительности графиков экспозиции, экспериментально по - пленки и наличия экранов. [9]
На практике режим просвечивания для изделия данного химического состава и толщины ориентировочно находят с помощью графиков экспозиции, экспериментально полученных для отдельных металлов и сплавов. [10]
 |
Номограмма экспозиций для просвечивания стали на электрографические пластины. [11] |
Хорошим считался тот режим просвечивания, которому соответствовали наилучшие чувствительность и выявляе-мость дефектов при хорошей общей проработке снимка. [12]
 |
Схема просвечивания рентгеновскими лучами изделия. [13] |
В зависимости от режима просвечивания ( при толщине металла до 50 мм), качества пленки и правильности дальнейшей ее обработки удается выявить дефекты размером 1 - 3 % от толщины контролируемых деталей. [14]
 |
Схема просвечивания рентгеновским излучением изделия. [15] |
Страницы: 1 2 3