Режим - работа - рентгеновская трубка
Cтраница 1
Режим работы рентгеновской трубки, необходимый для контроля конкретных изделий, обеспечивает блок питания трубки БПТ. С помощью механизма установки изделия МУ изделие КО закрепляется и может перемещаться с одной или несколькими степенями свободы. Рентгеновское излучение, прошедшее сквозь изделие КО, попадает на входную мишень рентгеновидикона РВ и преобразуется в последовательно считываемый электрический видеосигнал. Считывание потенциального рельефа с мишени, образованного падающим рентгеновским излучением, поэлементно определяют блоки развертки БР и БС, которые управляют движением луча по вертикали - кадровая развертка и по горизонтали - строчная развертка. [1]
Переключатель Па управляет режимом работы рентгеновской трубки. В положении 3 рентгеновская трубка отключена. Два режима ( положения переключателя 2 к 4) являются подготовительными, когда включен накал рентгеновской трубки, поскольку анодное напряжение надо подавать при прогретом катоде. При установке переключателя / Уз в положения / и 5 на трубку подано высокое напряжение и производится экспозиция. В положении 1 устанавливается один из стандартных режимов по цепи накала ( резистор R2, переключатель Яг), а выдержка осуществляется с помощью реле времени РВ. Ток накала в положении 5 переключателя устанавливается оператором путем регулировки сопротивления реостата Rs, а выдержка производится также оператором путем замыкания контактов кнопкой ВВ. Одновременно с этим замыкается контакт Kz, включающий лампу Jit ( красный цвет), которая сигнализирует о работе трубки в режиме излучения. Основные электрические цепи защищены плавкими предохранителями Пр - Пръ. Кроме того, в цепь подачи высокого напряжения последовательно включены контакты Ki, отключающие эту цепь при перегреве или неправильной работе системы охлаждения. [2]
Анализ проводят в режиме работы рентгеновской трубки 15 ма и 40 кв при экспозициях от 10 до 30 мин. Стандартные смеси экспонируются перед л после съемки образцов, и все спектры регистрируются на одной спектрограмме. Если при рассмотрении последних выясняется, что интенсивности аналитических линий образцов и эталонов существенно отличаются друг от друга, то при повторной съемке варьируют продолжительность их экспозиции или производят замену стандарта. В том случае, когда при одновременном определении элементов концентрация одного из них более чем на порядок превосходит содержание другого, аналитическая линия его, во избежание переэкспонировки, ослабляется алюминиевым поглотителем толщиной 0 5 или 1 мм. [3]
 |
Принципиальное устройство прибора для определения содержания водорода методом, основанным на поглощении 3-лучей. [4] |
Поэтому при работе с рентгеновской аппаратурой следует тщательно контролировать режим работы рентгеновской трубки, которая является источником рентгеновских лучей со сплошным спектром излучения. К-захвата электронов испускают характеристическое рентгеновское излучение. [5]
 |
Принципиальное устройство прибора для определения содержания водорода методом, основанным на поглощении ( 3-лучей. [6] |
Поэтому при работе с рентгеновской аппаратурой следует тщательно контролировать режим работы рентгеновской трубки, которая является источником рентгеновских лучей со сшюшным спектром излучения. Вместо рентгеновской трубки в качестве источника излучения применяют также радиоактивные изотопы, которые в результате К-захвата электронов испускают характеристическое рентгеновское излучение. [7]
 |
Принципиальное устройство прибора для определения содержания водорода методом, основанным на поглощении р-лучей. [8] |
Поэтому при работе с рентгеновской аппаратурой следует тщательно контролировать режим работы рентгеновской трубки, которая является источником рентгеновских лучей со сплошным спектром излучения. Вместо рентгеновской трубки в качестве источника излучения применяют также радиоактивные изотопы, которые в результате К-захвата электронов испускают характеристическое рентгеновское излучение. [9]
 |
Интенсивность Ха-линий флуоресценции элементов, возбужденных от различных анодов при различных напряжениях на трубке. [10] |
Отсюда следует, что основное внимание необходимо обратить на выбор материала анода и режима работы рентгеновской трубки. Если силу анодного тока желательно иметь наибольшей, то этого нельзя сказать про напряжение. [11]
Для повышения надежности результатов и усреднения характеристик фотоэмульсии используют несколько повторных снимков. Полученные при несколько отличном режиме работы рентгеновской трубки спектрографа или в течение различного времени экспозиции, снимки могут быть использованы для построения серии смещенных относительно друг друга по оси абсцисс кривых почернения, характеризующих выбранный сорт эмульсии. После этого усреднение результатов эксперимента по многим десяткам точек легко осуществляется путем параллельного переноса и совмещения всех кривых с одной, произвольно выбранной за основную. [12]
Основной недостаток полихроматического метода связан с тем, что все дифрагируемые кристаллом лучи pqr имеют разную длину волны, а это означает, что интенсивности дифракционных лучей в этом методе зависят не только от структуры кристалла, но и от распределения интенсивности по Л в спектре первичного пучка. Последнее к тому же зависит от режима работы рентгеновской трубки. Эта и ряд других особенностей полихроматического метода резко сужают его возможности в структурном анализе. Фактически он используется в основном для решения одной из побочных ( предварительных) задач рентгеноструктурного анализа - для определения ориентации кристаллографических осей в исследуемом монокристалле. Такая задача возникает, во-первых, в тех случаях, когда исследуется обломок кристалла, не имеющий правильного габитуса, и, во-вторых, в тех случаях, когда для повышения прецизионности исследования кристаллу путем обкатки придается сферическая форма ( см. гл. Именно неподвижное положение исследуемого образца в камере Лауэ и делает полихроматический метод незаменимым для решения этой задачи. [13]
Основной недостаток полихроматического метода связан с тем, что интенсивности дифракционных лучей зависят в этом случае не только от структуры кристалла, но и от распределения интенсивности по А, в спектре первичного пучка. Последнее к тому же зависит от режима работы рентгеновской трубки. Это, а также ряд других особенностей полихроматического метода делают его неудобным для решения задач структурного анализа кристаллов. Таким образом, в структурном анализе полихроматический метод, так же как и метод порошка, играет лишь вспомогательную роль. [14]
Основной недостаток полихроматического метода связан с, тем, что интенсивности дифракционных лучей зависят в этом случае не только от структуры кристалла, но и от распределения интенсивности по К в спектре первичного пучка. Последнее к тому же зависит от режима работы рентгеновской трубки. Это, а также ряд других особенностей полихроматического метода делают его неудобным для решения задач структурного анализа кристаллов. Таким образом, в структурном анализе полихроматический метод, так же как и метод порошка, играет лишь вспомогательную роль. [15]
Страницы: 1 2