Cтраница 2
Расчет рентгенограммы кристаллов средней сингонии аналогичен расчету рентгенограммы кристаллов кубической сингонии. [16]
В главе 3 приведены данные, необходимые для индицирования рентгенограмм кристаллов кубической, тетрагональной, гексагональной, ромбоэдрической и ромбической систем. [17]
Прямолинейный график Бьерстрема для индицирования рентгенограмм кристаллов гексагональной системы. [18] |
Для больших индексов отражения и в ряде других случаев индицирова-ние рентгенограмм кристаллов гексагональной системы удобно проводить по различным вариантам логарифмических графиков. [19]
Рентгенограммы холесгерических и смектических образцов расшифровываются так же, как и рентгенограммы нематических кристаллов. Заметим лишь, что на рентгенограммах смектических образцов в малых углах всегда присутствует рефлекс d, для которого межплоскостное расстояние, вычисленное по формуле Брегга - Вульфа: 2 d sin & пК, равно примерно длине молекулы. Это является доказательством наличия в смектическом кристалле слоев, образованных молекулами, длинные оои которых приблизительно перпендикулярны плоскости слоя. [20]
Для построения атомной модели кристалла нужно измерить интенсивность интерференционных пятен на пленке, но рентгенограмма неподвижного кристалла не дает истинной картины интенсивности из-за наложения волн различной длины. Таким образом, методом неподвижного монокристалла выполняют неполный рентгеноструктурный анализ. [21]
Некоторые характеристики ряда металлов в точке плавления. [22] |
Дебаеграммы жидкостей, изученных при температурах, близких к температурам кристаллизации, сходны с рентгенограммами кристаллов; они отличаются лишь размытостью колец, которая возрастает с температурой. [23]
В табл. 3 - 27а приведено число линий, на которые расщепляются первые линии на рентгенограммах кристаллов с гранецентрированной структурой, а в табл. 3 - 276 - индексы этих линий. [24]
Одновременно подобный анализ рентгенограммы помогает выделить группы отражений типа МО, что весьма существенно облегчает дальнейшие операции индицирования рентгенограмм кристаллов средних сингоний. [25]
Кроме таблиц межплоскостных расстояний приведена таблица значений 1 / d2, что должно облегчить дальнейшую обработку рентгенограммы, в особенности при индицировании рентгенограмм кристаллов средних сингоний. [26]
Сущность этого метода заключается во введении в строго определенные участки полипептидной цепи белка атомов тяжелых металлов ( например, атомов ртути) и сравнении рентгенограмм кристаллов свободного белка и изоморфных замещенных структур. Расшифровка получаемых карт электронной плотности позволяет создать трехмерную картину молекулы белка. [27]
Когда Ларк-Горовиц и Миллер получили аналогичные рентгенограммы для расплава и кристаллической фазы, предполагалось, что на рентгенограммах стекла максимумы, соответствующие максимумам на рентгенограммах кристалла, должны были бы быть шире их. [28]
Фазовый анализ смеси тетрагональных соединений проводится в следующем порядке: 1) наносят значения межплоскостных расстояний d и относительных интенсивностей на полоску бумаги и масштабе графиков, 2) путем совмещения полоски со шкалой индексов рентгенограмм кристаллов кубической системы, приведенной выше, убеждаются, что исследуемое вещество не принадлежит к кубической системе, 3) путем последовательного совмещения полоски со схемами рентгенограмм рис. 117 - 120 находят, к какому структурному типу принадлежит исследуемое вещество, 4) индицируют рентгенограмму с помощью графика Хэлла ( индексы расположены под схемой рентгенограммы), 5) вычисляют периоды решетки исследуемого материала, 6) по периодам решетки с помощью табл. 5 - 46 - 1 и 5 - 46 - 2 находят фазовый состав исследуемого вещества, 7) проверяют результаты исследования с помощью качественного спектрального анализа или капельного химического анализа. [29]
Расчет кривых интенсивности позволяет определить следующие параметры: по положению максимумов функции радиального распределения - наиболее вероятное расстояние между ближайшими атомами; по площади, ограниченной максимумами, - координационное число; по ширине главного и побочного максимумов - размеры упорядоченных областей; по соответствию максимумов расположению линий на рентгенограмме кристалла - связь между структурами жидкого и твердого состояния. [30]