Cтраница 4
Измерение рентгено-дифракции и двойного лучепреломления кристаллов свидетельствует о том, что они образованы ансамблем сложенных на себя цепочек, ориентированных нормально к поверхности пластинок. Рентгенограмма де-ацетилированных кристаллов соответствует структуре целлюлозы II; это указывает на тот факт, что омыление происходит в объеме кристаллической решетки, а не только с поверхности. Ориентация и конформация цепей целлюлозы остаются такими же, как и в исходных кристаллах триацетата целлюлозы. [46]
Эффективные радиусы атомов и ионов в соединениях определяют по разности межъядерного расстояния d и известного эффективного радиуса одной из частиц. Так, разными методами установлено, что радиус иона F составляет 0 133 нм. Расшифровка же рентгенограмм кристалла NaF дает значение d - 0 231 нм. Следовательно, радиус иона Na равен 0 098 нм. [47]
Схема электронографа. [48] |
Эффективные радиусы атомов и ионов в соединениях определяют по разности межъядерного расстояния и известного эффективного радиуса одной из частиц. Так, разными методами установлено, что ионный радиус иона F составляет 0 133 нм. С другой стороны, расшифровка рентгенограмм кристалла NaF дает значение d - 0 231 нм. Следовательно, радиус иона Na равен 0 098 нм. [49]
Схема электронографа.| Структура некоторых молекул. [50] |
Эффективные радиусы атомов и ионов в соединениях определяют по разности межъядерного расстояния и известного эффективного радиуса одной из частиц. Так, разными методами установлено, что ионный радиус иона F составляет 0 133 нм. С другой стороны, расшифровка рентгенограмм кристалла NaF дает значение d 0 231 нм. Следовательно, радиус иона Na равен 0 098 нм. [51]
Электронограммы СС14 и CS2. [52] |
Если соединение образовано разнородными частицами, эффективные радиусы определяются по разности межъядерного расстояния и известного эффективного радиуса одной из частиц. Так, с помощью разных методов установлено, что радиус иона F - составляет 1 33 А. С другой стороны о расшифровка рентгенограмм кристалла NaF дает значение d2 31 А. Следовательно, радиус иона Na равен 0 98 А. [53]
В методе Дебая при фотографическом способе регистрации кристаллический образец дает на плоской пленке систему интерференционных линий в виде концентрических колец - дебаеграмму. Аморфный образец вызывает появление на пленке диффузного ( размытого) кольца - аморфно. Рентгенограмма одноосно ориентированного полимера напоминает рентгенограмму вращающегося низкомолекулярного кристалла; ее рефлексы располагаются на так называемых слоевых линиях, соответствующих определенным системам плоскостей кристаллической решетки. Методы с фотографической регистрацией трудоемки, длительны и сложны в расшифровке рентгенограмм. Поэтому в последнее время применяют преимущественно дифрактометрический метод. [54]
Поэтому кристалл ведет себя по отношению к рентгеновскому лучу как дифракционная решетка. Рентгено-структурный метод исследования основан на том, что рентгеновские лучи, проходя через кристалл, отклоняются или отражаются вполне закономерным образом в зависимости от параметров кристаллической решетки. Помещая на их пути фотопленку, получают рентгенограмму кристалла в виде точечных пятен для упорядоченных структур или в виде тонких дуг для волокнистых и порошкообразных структур. [55]
При этом между длиной волны излучения, углом падения лучей и постоянной дифракционной решетки существуют простые соотношения, вытекающие из волновой теории света. Именно эти закономерности и лежат в основе так называемых дифракционных методов изучения структуры кристаллов. В настоящее время применяют два основных метода получения дифракционных рентгенограмм кристаллов: порошковый и метод вращения кристалла. И в том и в другом методе используют монохроматическое рентгеновское излучение. Анализ получаемых рентгенограмм не всегда прост, тем не менее удается определить не только размеры и форму элементарной ячейки, но и число частиц, входящих в ее состав. [56]
Если тело подвергается пластической деформации, то межплоскостные расстояния в кристалле не остаются постоянными. Связь между деформацией отдельных кристаллов очень сложна; поэтому можно считать, что в теле имеют место деформации беспорядочного характера. Характерным для рентгенограмм кристаллов с внутренними напряжениями второго рода является размытость интерференционных линий. [57]