Рентгенограмма - вращение
Cтраница 1
 |
Рентгеновская камера вращения для исследования монокристаллов.| Камера для рентге. [1] |
Рентгенограмма вращения требует нескольких слоевых линий, поэтому для ее снятия необходима широкая фотографическая пленка. Рентгенограмма же поликристаллического образца может быть ограничена по высоте без ущерба для точности измерений. [2]
Рентгенограмма вращения для кристалла средней сложности может содержать несколько сот и даже тысяч точек, и идентификация их представляет некоторую трудность. Эту трудность можно преодолеть путем снятия рентгенограммы качения ( колебания), когда кристалл поворачивают относительно некоторой оси на несколько градусов, вместо того чтобы совершать полное вращение. В этом случае отражения, полученные от небольшого числа плоскостей, представляют собой несколько удаленных друг от друга точек, которые легко можно идентифицировать. [3]
Рентгенограмма вращения требует нескольких слоевых линий, поэтому для ее снятия необходима широкая фотографическая пленка. Рентгенограмма же поликристаллического образца может быть ограничена по высоте без ущерба для точности измерений. [4]
Рентгенограмма вращения не всегда позволяет получить полную информацию об интерференционной картине. Дело в том, что в некоторых случаях при исследовании методом вращения вследствие симметрии кристалла в одно и то же место фотопленки попадает несколько интерференционных лучей. [5]
Но рентгенограмма вращения дает однозначный ответ. [6]
Снята рентгенограмма вращения с тетрагонального монокристалла. Длина волны рентгеновского излучения равна 1 542 А; рентгеновский пучок перпендикулярен к оси вращения, которая является осью с этого кристалла. [7]
Вторая рентгенограмма вращения вокруг оси X дает еще большее число случаев неоднозначного индицирования. Просматривая этот список, нетрудно убедиться в том, что среди отражений общего типа hkl систематических погасаний не наблюдается. [8]
Цель рентгенограммы вращения - собрать на одну пленку данные о существующих межплоскостных расстояниях и интенсивно-стях соответствующих лучей. Однако нужно еще знать, как расположена система плоскостей по отношению к осям кристалла. Для этого не только надо знать, где на пленке находится пятно, но и в какое мгновенное положение кристалла оно возникло. Чтобы рентгенограмма давала и эти сведения, пленку перемещают во время съемки. Такие методы съемки называются рентгенгониомет-рическими. [9]
Индицирование рентгенограмм вращения упрощается благодаря тому, что пятна распределяются по слоевым линиям. Если вращение происходит вокруг одной из осей кристалла, один из трех индексов определяется сразу: он равен номеру слоевой линии. [10]
Цель рентгенограммы вращения - собрать на одну пленку данные о существующих межплоскостных расстояниях и интенсивно-стях соответствующих лучей. Однако нужно еще знать, как расположена система плоскостей по отношению к осям кристалла. Для этого не только надо знать, где на пленке находится пятно, но и в какое мгновенное положение кристалла оно возникло. Чтобы рентгенограмма давала и эти сведения, пленку перемещают во время съемки. Такие методы съемки называются рентгенгониомет-рическими. [11]
Рассчитать рентгенограмму вращения Al ( NaCl, Ge, Sn, TiOj, ZrSiOi), определив периоды идентичности, решетку Бравэ и дифракционную группу. [12]
По рентгенограммам вращения и рентгенограммам качания можно определить величину периода решетки монокристалла по оси вращения, а следовательно, имеется возможность изучать размеры и форму элементарной ячейки кристаллов. [13]
Для получения рентгенограммы вращения используют характеристическое излучение. В случае, когда образец совершает неполное вращение или колебание в пределах некоторого угла ( 5 - 15), получают так называемые рентгенограммы колебания или качания. Непрерывное изменение угла между первичным лучом и разными кристаллографическими плоскостями приводит к возникновению большого числа интерференционных пятен. [14]
 |
Схема съемки рентгенограмм по методу вращения ( качания.| Камера типа РКВ-86 для съемки рентгенограмм вращения и качения. [15] |
Страницы: 1 2 3 4 5