Cтраница 2
С помощью рентгенограмм вращения изучают форму и размеры элементарной ячейки. [16]
Индицирование нулевой слоевой линии рентгенограммы, показанной на. [17] |
Однако индицирование рентгенограммы вращения не всегда дает однозначные результаты, так как при больших периодах решетки на сфере отражения или вблизи нее в пределах ошибки оказывается не один узел ОР, а несколько; выбрать из них действительный невозможно без знания пространственной группы вещества. [18]
Важное значение рентгенограммы вращения состоит в том, что ее можно использовать для измерения истинной периодичности решетки. Методы измерения межплоскостных расстояний, более удобные и точные, не всегда дают эту информацию. [19]
Для съемки рентгенограмм вращения требуется ориентировать кристалл и вырезать из него тонкий цилиндрический столбик. При исследовании металлографических шлифов с произвольной ориентацией зерен такой метод оказывается неприемлемым. [20]
Построение плоскости нулевого слоя обратной решетки. [21] |
Поэтому расчет рентгенограммы вращения повторяет сначала расчет рентгенограммы порошков. [22]
К тому же рентгенограммы вращения ( или качания) более богаты интерференционными пятнами. [23]
Расчет и индицирование рентгенограмм вращения монокристалла сильно упрощается при использовании математического понятия обратной решетки. Понятие обратной решетки лишено физического смысла и является лишь вспомогательным математическим приемом при описании и изучении структуры кристалла. [24]
Рентгенограммы волокна аналогичны рентгенограммам вращения с определенной вероятностью перекрывания рефлексов на данной слоевой линии. [25]
Расположение пятен на рентгенограммах вращения и качания позволяет определить период идентичности, не индицируя пятна рентгенограммы. [26]
Расстояние между слоевыми линиями рентгенограммы вращения зависит не только от периода идентичности в кристалле вдоль оси вращения и длины волны лучей, но и от того, под каким углом к оси вращения падает первичный пучок ( см. формулу ( 27, II) на стр. На рис. 226, а первичный пучок образует угол ц - 0 с плоскостью, перпендикулярной оси вращения. [27]
Рентгенограмма такого полимера аналогична рентгенограмме вращения, различие заключается в том, что при получении текстур - рентгенограммы нет необходимости вращать образец. [28]
Схема рентгеносъемки по методу вращения ( а и рентгенограмма вращения монокристалла кварца вокруг оси с ( б. [29] |
Каждая слоевая линия на рентгенограмме вращения представляет собой отображение плоскости обратной решетки кристалла, перпендикулярной к оси вращения, на цилиндрическую поверхность. [30]