Угольная реплика

Cтраница 4

Настоящая схема метода электронномикроскопической авторадиографии применима для всех материалов. Техника метода принципиально проста, результаты вполне воспроизводимы. Метод электронномикроскопической авторадиографии позволяет видеть в электронном микроскопе авторадиограмму - совмещенную с угольной репликой и, таким образом, определять локализацию радиоактивного элемента в тонкой структуре исследуемого объекта. [46]

Для исследования под оптическим микроскопом изготовляются одноступенчатые пластиковые или угольные реплики по методике, применяемой в электронной фрактографии. Пластиковые реплики, снятые с излома, оттеняются каким-либо металлом ( хром, серебро) и могут быть установлены, так же как и угольные, для исследования на оптическом микроскопе. Для удобства при помещении на предметный столик микроскопа реплика может укладываться на сетку или отверстие безопасной бритвы. В случае необходимости исследовать включения, имеющиеся на поверхности излома, их форму, размер, количество, эффективно изготовление одноступенчатых экстракционных угольных реплик. [47]

Для исследования под оптическим микроскопом изготовляются - одноступенчатые пластиковые или угольные реплики по методике, применяемой в электронной фрактографии. Пластиковые реплики, снятые с излома, оттеняются каким-либо металлом ( хром, серебро) и могут быть установлены, так же как и угольные, для исследования на оптическом микроскопе. Для удобства при помещении на предметный столик микроскода реплика может / укладываться на сетку или отверстие безопасной бритвы. В случае необходимости исследовать включения, имеющиеся: на поверхности излома, их форму, размер, количество, эффективно изготовление одноступенчатых экстракционных угольных реплик. [48]

Микроструктура поверхностных слоев вкладышей шатунных подшипников коленчатого вала двигателей ЯМЗ. [49]

В связи с этим нами было предпринято электронномикроскопи-ческое исследование границ между защитной пленкой и основным металлом. На хорошо промытую и обезжиренную спиртом поверхность микрошлифов в вакууме 10 - 4 - 10 - 5 мм рт. ст. с помощью электрической дуги напылялась тонкая углеродная пленка. Эта пленка точно воспроизводила рельеф поверхности и выдерживала последующее воздействие электронов в микроскопе. Пленку с образца снимали, нанося на нее каплю 10 % - ного раствора желатины, которая, высыхая, отделяла от поверхности угольную реплику. [50]

Бокштейном в монографии [115], состоит в следующем. На поверхность образца, содержащего радиоактивный изотоп, напыляется угольный слой, и затем на него наносится ядерная эмульсия. После экспозиции эмульсионный слой проявляют и закрепляют непосредственно на образце. Угольную реплику вместе с эмульсией отделяют от образца и получают авторадиограмму - реплику, при исследовании которой в электронном микроскопе видны сразу элементы структуры и распределение в них радиоактивных изотопов. [51]

Непосредственное изучение поверхности конденсатов с помощью растрового электронного микроскопа показывает, что аморфные конденсаты можно разделить на два типа - с упорядоченной и неупорядоченной структурой. Конденсаты с упорядоченной структурой состоят из частиц округлой формы размером от 100 до 800 нм. Конденсаты с неупорядоченной структурой состоят из частиц неправильной формы с изрезанными границами размером от 100 до 2000 нм. Из изучения снимков, полученных с помощью угольных реплик при большом увеличении, следует, что первичным элементом структуры является шарообразная глобула. [52]

Полученная реплика промывается в дистиллированной воде. Для помещения реплики отмеченным участком на отверстие поддерживающей сетки используется микроскоп, по оптической оси которого расположена трубка с приклеенной объектной сеткой. Над трубкой помещается столик с отверстием, в котором находится угольная реплика. Для крепления реплики в отверстии столик переносят в сосуд с водой, на поверхности которой находится тонкая коллодиевая пленка. На пленку помещают 2 - 3 капли воды, куда переносится угольная реплика, затем воду отсасывают, а пленку с репликой переносят на отверстие столика. Под микроскопом по отметкам краской находят нужный участок реплики, горизонтальными перемещениями столика выводят этот участок на ось микроскопа, а подъемом трубки вводят в соприкосновение поддерживающую сетку и коллодиевую пленку с репликой так, чтобы отмеченный участок оказался в отверстии сетки. После высушивания препарата и промывки в ацетоне осуществляется электронно-микроскопическое исследование. [53]

Коллодиевую реплику получают, нанося на поверхность 0 1 % - ный раствор коллодия в амилацетате и растворяя вещество образца в плавиковой кислоте. Большое распространение получает метод угольных реплик. Угольные пленки аморфны, слабо рассеивают электроны, стойки к термическим и химическим воздействиям. Для повышения контраста реплики подтеняют тяжелым металлом. Угольные реплики позволяют разрешать детали рельефа до 10 А. [54]

Дальнейшие операции заключаются в просмотре в отраженном свете на твердомере типа ПМТ-2 контактной зоны между изломом и ан-шлифом, выборе на поверхности аншлифа участка, переходящего в излом, и нанесении на выбранный участок аншлифа меток. В свя - зи с тем что механические метки алмазной пирамидкой твердомера трудноразличимы на реплике, необходимы дополнительные метки красящим веществом. В соответствии с этим выбранный участок ( кристалл) оконтуривается с помощью уколов алмазной пирамидкой, на которую предварительно наносится слой лессировочной масляной краски типа краплак. Окончательные тонкие отметки делают непосредственно на кристалле алмазной пирамидкой без краски. Размеченный образец фотографируют, после чего от него вновь откалывают участок, включающий аншлиф с отметками и смежную с аншлифом поверхность излома. На поверхности аншлифа и излома под вакуумом наносится угольная реплика, которая затем отделяется от образца. [55]

Этот метод дает представление о строении кристаллических областей в асфальтенах и дает наглядную картину об их надмолекулярной организации. Просвечивающие электронные микроскопы позволяют одновременно получать как электронно-микроскопический снимок, так и электронограмму в области больших и малых углов. Разрешающая способность их составляет 15 - 2 нм, а для сканирующих микроскопов 3 - 5 нм. Пучок электронов вызывает значительный разогрев и даже плавление образцов, поэтому просвечивающая электронная микроскопия применяется для объектов, имеющих незначительную толщину - несколько десятков нанометров. Для этого образцы специальным образом готовят: получают либо тонкие пленки, либо с помощью ультрамикротомов готовят срезы толщиной 10 - 20 нм. В первом случае асфальтены помещают на угольную ( аморфную) подложку на медной сетке. С целью определения чфоно-вых микррпримесей проводят контрольные съемки пустой подложки. Для контроля сходимости результатов с поверхности пленки асфальтенов получают реплику двумя способами. Одноступенчатая реплика образовывается напылением угольной пленки, а двухступенчатая - чистого алюминия толщиной не менее 0 2 мм. Затем асфальтеновую пленку растворяют в бензоле и отдельную угольную реплику оттеняют платиной. [56]

Страницы: 1 2 3 4