Пространственная решетка - кристалл
Cтраница 3
Пластическая деформация увеличивает удельное сопротивление на 2 - 6 % из-за искажения пространственной решетки кристаллов при наклепе. Увеличение концентрации вакансий и дислоцированных атомов также приводит к увеличению удельного сопротивления. При комнатной температуре прирост удельного сопротивления Ар за счет вакансий и дислоцированных атомов согласно [22] составляет на 1 % ( ат. [31]
На этом примере иллюстрируется различие между двумя фундаментальными понятиями - кристаллической структурой и пространственной решеткой кристалла. [32]
Увеличение электрического сопротивления металлов можно объяснить прежде всего тем, что при наклепе искажается пространственная решетка кристаллов. На значение электрического сопротивления влияет также и изменение межатомных связей, вызванных наклепом. Это изменение приводит также к увеличению межатомных расстояний. [33]
Пьезоэлектрический эффект вызывается тем, что при деформации происходит смещение групп молекул, образующих пространственную решетку кристалла. В результате положительные ионы решетки оказываются сдвинутыми в одну сторону, а отрицательные - в другую, что приводит к нарушению симметрии и появлению электрического поля. [34]
Основная задача, стоящая при исследовании структуры кристалла - определение взаимного расположения атомов в пространственной решетке кристалла. Наибольшую информацию о структуре кристалла можно получить с помощью дифракционных методов рентгено -, электроно - и нейтронографии и электронной микроскопии. В последнее время к ним добавились протоиография и месс-бауэрография и были созданы так называемые прямые методы, позволяющие получить с помощью ЭВМ изображение структуры исследуемого кристалла. [35]
Пластическая деформация повышает удельное электросопротивление на 2 - 6 %, что связано с искажениями пространственной решетки кристалла. Увеличение концентрации вакансий и дислоцированных атомов главным образом и приводит к увеличению удельного электросопротивления. При комнатной температуре прирост сопротивления Ар за счет вакансии и дислоцированных атомов составляет. [36]
 |
Распределение нейтронов в равновесии с замедлителем ( Т 293 К. плотность и поток нейтронов даны в функции от и. [37] |
Благодаря этому последнему свойству нейтроны свободно проникают внутрь твердых тел и с ними можно осуществить дифракцию на пространственной решетке кристалла. [38]
В 1927 г. американские физики Дэвиссон и Джермер действительно обнаружили дифракцию электронов, использовав в качестве дифракционной решетки пространственную решетку кристалла. [39]
Как видно из выражения [1, 2], форма интерференционных максимумов определяется линейными размерами рассеивающего кристалла и величиной параметров элементарной ячейки пространственной решетки кристалла. [40]
Изложенные здесь представления будут использованы для двух целей: 1) для вывода ряда чисто кристаллографических соотношений между элементами пространственной решетки кристалла, 2) для вывода так называемого интерференционного уравнения, являющегося основой очень удобного метода решения различных задач, связанных с отражением рентгеновских лучей от кристалла, и, в частности, задачи индицирования рентгенограмм. [41]
 |
Построение энергетических зон при повторном присоединении атомов. [42] |
Это остается справедливым и в том случае, когда мы накладываем цепочки из атомов лития одну на другую так, что в конце концов возникает пространственная решетка кристалла лития. Внутри этих границ все другие значения энергий образуют энергетическую зону ( напомним, что в 1 г лития содержится 1023 атомов. Далее, для теории существенно, что энергетические зоны могут возникать не только из S -, но и из р-электронных состояний. [43]
Весьма тонкие современные методы исследования кристаллического состояния вещества подтвердили, что частицы в кристаллах ( атомы, молекулы или ионы) располагаются закономерно, образуя так называемую пространственную решетку кристалла. Внешняя геометрическая форма кристалла теснейшим образом связана с его внутренней структурой. В кристаллической решетке любого тела можно выделить определенную часть, которая носит название элементарной ячейки. Эта ячейка представляет собой наименьший объем кристаллической решетки вещества, который точно отражает его химический состав и все особенности внутренней структуры данного кристалла. [44]
Весьма тонкие современные методы исследования кристаллического состояния вещества подтвердили, что частицы в кристаллах ( атомы, молекулы, ионы) располагаются закономерно, образуя так называемую пространственную решетку кристалла. Внешняя геометрическая форма кристалла теснейшим образом связана с его внутренней структурой. В кристаллической решетке любого тела можно выделить определенную часть, которая носит название элементарной ячейки. [45]
Страницы: 1 2 3 4