Cтраница 4
![]() |
Расположение молекул нафталина. [46] |
Для определения стр ктлры в большинстве случаев используют образцы монокристаллов Первый этап исследования заключается в нахождении размеров и формы элементарной ячейки кристалла Одновременно определяются элементы симметрии, которьщи обладает пространственная решетка кристалла Сначала обычно снимается ряд ла эграмм, при помощи которых определяются направления осей пространственной решетки, а затем серия рентгенограмм вращения около различных осей кристалла. [47]
Теория сильных электролитов была предложена Дебаем и Гюкке-лем в 1923 г.; ее успешно развивали российские химики В.К. Семенченко, А.И. Бродский и др. Согласно этой теории, сильные электролиты, в противоположность слабым, полностью ионизированы в водных растворах. Поскольку пространственные решетки кристаллов большинства солей состоят не из молекул, а из ионов, очевидно, что молекулы должны отсутствовать в их растворах. Движение отдельного Шона в растворе не свободно, так как он окружен как бы роем противоположно заряженных частиц, так называемой ионной атмосферой. Вследствие электростатических сил уменьшается скорость движения ионов в растворе и тем больше, чем меньше расстояния между ними, т.е. чем выше концентрация раствора. [48]
Макромолекулы кристаллизующихся полимеров имеют регулярную структуру и отличаются достаточной гибкостью. Формирование пространственных решеток кристаллов начинается с перестроения внутри пачек. Наложение нескольких таких пластин приводит к образованию кристалла. Кристаллы полимеров могут формироваться непосредственно из их расплавов при охлаждении. Чаще расплав полимера с понижением температуры, переходя в твердое состояние, сохраняет аморфную структуру жидкости. Это стеклообразное состояние полимера устойчиво в связи с заторможенностью теплового движения, громоздкостью макромолекул и значительной вязкостью расплава. [49]
![]() |
Схема образования пластины ( а из лент ( в, полученных из выпрямленной пачки ( б. [50] |
Макромолекулы кристаллизующихся полимеров имеют регулярную структуру и отличаются достаточной гибкостью. Формирование пространственных решеток кристаллов начинается с перестроения внутри пачек. [51]
По этой теории сильные электролиты, в противоположность слабым, полностью ионизированы в водных растворах. Поскольку установлено, что пространственные решетки кристаллов большинства солей состоят не из молекул, а из ионов, очевидно, что молекулы должны отсутствовать и в их растворах. Неизбежным следствием действия электростатических сил является уменьшение скорости движения ионов в растворе. [52]
Теория сильных электролитов была предложена Дебаем и Гюккелем в 1923 г.; ее успешно развивали советские химики В. К. Семенченко, А. И. Бродский и др. Согласно этой теории сильные электролиты, в противоположность слабым, полностью ионизированы в водных растворах. Поскольку установлено, что пространственные решетки кристаллов большинства солей состоят не из молекул, а из ионов, очевидно, что молекулы должны отсутствовать в их растворах. [53]
При рентгеновском методе порошок вещества облучается рентгеновскими лучами в специальной камере. Отраженные от плоских сеток пространственной решетки кристаллов лучи фиксируются на фотопленке. Так получается дебаеграмма, имеющая для каждого минерала свои характерные черты, определяемые строением про - - странственной решетки минерала. [54]
Второй отличительной чертой современных полупроводниковых материалов является применение их в монокристаллическом состоянии. На границах между зернами поликристаллического слитка пространственная решетка кристалла нарушена, и незавершенные межатомные связи этих участков захватывают или тормозят носители тока, что вызывает неконтролируемые изменения электрических характеристик изготовленного из полупроводника прибора. Такие явления не наблюдаются в монокристаллических слитках, которые обычно выращивают из расплава, строго соблюдая условия роста, предупреждающие образование различных внутренних пороков. [55]
В последнее время широко пользуются методом электронна-микроскопического исследования, а также электронно-графическим методом структурного анализа. Последний использует явление дифракции электронов от плоских сеток пространственной решетки кристаллов и отличается от рентгеновского метода тем, что вместо рентгеновских лучей применяется поток электронов. [56]