Поперечное сечение - луч - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Женщины обращают внимание не на красивых мужчин, а на мужчин с красивыми женщинами. Законы Мерфи (еще...)

Поперечное сечение - луч

Cтраница 1


Поперечное сечение луча в точке, где он соприкасается с поверхностью, должно быть малым, чтобы была малой площадь электронного изображения, которую он развертывает в каждый момент времени. При невыполнении этого условия ухудшаются четкость и разрешающая способность камеры. С другой стороны, чересчур малое сечение луча ведет к образованию ложной структуры изображения, обусловленного интерференцией между структурой изображения сцены и строчной структурой растра. Оптимальный диаметр луча близок к шаговому интервалу растра.  [1]

Из поперечного сечения луча вырезается часть, равная площади отверстия в экране - корректирующей пластине. Поэтому даже при смещениях электронного луча вследствие нестабильности отклоняющих напряжений в допустимых пределах часть его, прошедшая сквозь отверстие в корректирующей пластине, всегда занимает неизменное положение в пространстве, определяемое расположением отверстий.  [2]

На поперечном сечении луча обычного счета видно, что волны, из которых он состоит, колеблются во всех плоскостях: вверх-вниз, из стороны в сторону и под углом. Такой свет называют неполяризованным.  [3]

4 Распределение интенсивности по поперечному сечению луча.| Зависимость мощности. [4]

Распределение интенсивности по поперечному сечению луча зависит от тщательности юстировки. Равномерно освещенное пятно в случае параллельных зеркал уступает место более сложной структуре при наличии даже небольшого угла между зеркалами.  [5]

6 Характеристика фотоколориметров. [6]

В обычных фотоколориметрах уменьшения площади поперечного сечения луча света достигают с помощью специальных вкладышей или установкой в кюветной камере диафрагм, суживающих световой поток.  [7]

На рис. 256 показана плоскость поперечного сечения луча света в точке 02, когда он проходит через анализатор.  [8]

Оба анода цилиндрические с диафрагмой для ограничения поперечного сечения луча. Первый анод - фокусирующий, имеет положительный потенциал 200 - 500 В относительно катода, под действием сил электрического поля сжимает поток электронов, образуя тонкий электронный луч. Второй анод 5 - ускоряющий, отстоящий на некотором расстоянии от первого вдоль оси трубки, находится под положительным потенциалом 1000 - 2000 В относительно катода.  [9]

Двухлинзовая схема позволяет сравнительно просто получать в плоскости приемника электронов поперечное сечение луча радиусом около 0 1 мм, что удовлетворяет требованиям, предъявляемым к электроннолучевым приборам.  [10]

11 Зоны различных видов обработки материалов электронным лучом.| Принципиальная схема электроннооптиче-ской системы. ФЭ-фокусирующий электрод. S - оптическая система наблюдения ( 3-зеркало, Л - линза, БМ-бинокулярный микроскоп. [11]

Находящаяся на пути потока электронов диафрагма 3 отсекает рассеянные электроны, а расположенный ниже стигматор 4 позволяет корректировать форму поперечного сечения луча.  [12]

13 Зоны различных видов обработки материалов электронным лучом.| Принципиальная схема электроннооптиче-ской системы. ФЭ - фокусирующий электрод. S - оптическая система наблюдения ( 3-зеркало, Л - линза, БМ-бинокулярный микроскоп. [13]

Находящаяся па пути потока электронов диафрагма 3 отсекает рассеянные электроны, а расположенный ниже стигматор 4 позволяет корректировать форму поперечного сечения луча.  [14]

15 Теоретически рассчитанная с помощью уравнения максимальная плотность мощности охлаждения для легированного трехвалентным иттербием стекла ZBLANP, концентрация примеси составляет 1 вес. %. Кривая получена в пределе бесконечно большой интенсивности излучения накачки.| Теоретически рассчитанная с помощью уравнения максимальная плотность мощности охлаждения как функция от интенсивности накачки при заданных значениях температуры. Легированное трехвалентным иттербием стекло ZBLANP, концентрация примеси составляет 1 вес. %. [15]



Страницы:      1    2    3