Взаимодействие - рентгеновское излучение - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Коэффициент интеллектуального развития коллектива равен низшему коэффициенту участника коллектива, поделенному на количество членов коллектива. Законы Мерфи (еще...)

Взаимодействие - рентгеновское излучение

Cтраница 1


Взаимодействие рентгеновского излучения с веществом характеризуется показателем преломления п, который зависит от длины волны излучения к, элементного состава вещества и его плотности. Следует сразу отметить, что рентгеновские лучи значительно сильнее поглощаются вс всех веществах, чем видимое излучение в оптических материалах.  [1]

Взаимодействие рентгеновского излучения с веществом сопровождается вторичным излучением, возникающим в процессе прямого вырывания электронов из атома ( фотоэффект) и последующего отрыва внешних электронов в ходе заполнения внутренних электронных оболочек.  [2]

3 Схема установки для определения относительных количеств водорода и углерода в органических соединениях. [3]

Взаимодействие рентгеновского излучения с веществом, как известно, обусловлено комптоновским рассеянием и, главным образом, фотоэффектом.  [4]

Особенности взаимодействия рентгеновского излучения с промышленными материалами таковы, что при правильном выборе энергии излучения для сравнительно широкого диапазона толщин изделий удается обеспечить ( 44) близкие обобщенные метрологические характеристики при одной и той же экспозиционной дозе.  [5]

Особенности взаимодействия рентгеновского излучения с промышленными материалами таковы, что при правильном выборе энергии излучения для сравнительно широкого диапазона толщин изделий удается обеспечить ( 44) близкие обобщенные метрологические характеристики при одной и той же экспозиционной дозе. Однако с увеличением средней плотности контролируемого изделия неизбежно ( 44) пропорциональное снижение обобщенного метрологического показателя 83 или квадратичное увеличение необходимой экспозиционной дозы.  [6]

Особенности взаимодействия рентгеновского излучения с промышленными материалами таковы, что при правильном выборе энергии излучения для сравнительно широкого диапазона толщин изделий удается обеспечить ( 44) близкие обобщенные метрологические характеристики при одной и той же экспозиционной дозе. Однако с увеличением средней плотности контролируемого изделия неизбежно ( 44) пропорциональное снижение обобщенного метрологического показателя 53 или квадратичное увеличение необходимой экспозиционной дозы.  [7]

При взаимодействии рентгеновского излучения с веществом наблюдается также рассеяние, которое используют при изучении кристаллической структуры вещества методом рентгеноструктурного анализа.  [8]

При взаимодействии рентгеновского излучения с про бой может возникать также характерная дифракционна.  [9]

При взаимодействии рентгеновского излучения, электронов и нейтронов с веществом часть их энергии превращается в различные виды внутренней энергии вещества и в энергию вторичного излучения. Это приводит к частичному поглощению падающего на образец излучения. Поэтому интенсивность рассеяния не может быть правильно определена без внесения поправки на поглощение. Эта поправка зависит от формы образца и угла рассеяния.  [10]

НЫИ - основан па взаимодействии рентгеновского излучения с веществом. При этом вследствие соизмеримости длины волны излучения с межатомными расстояниями вещества возникает дифракционная картина, отражающая внутреннее строение исследуемого объекта. Зафиксированная дифракционная картина дает рентгенограмму данного вещества, из которой получают различную информацию о его структуре и свойствах.  [11]

НЫЙ - основан на взаимодействии рентгеновского излучения с веществом. При этом вследствие соизмеримости длины волны излучения с межатомными расстояниями вещества возникает дифракционная картина, отражающая внутреннее строение исследуемого объекта. Зафиксированная дифракционная картина дает рентгенограмму данного вещества, из которой получают различную информацию о его структуре и свойствах.  [12]

При структурных исследованиях кристаллических веществ; используется взаимодействие рентгеновского излучения с кристаллом.  [13]

В этом параграфе будут получены общие выражения, описывающие взаимодействие рентгеновского излучения с шероховатой границей раздела двух сред. Мы используем иной вариант метода возмущений [11, 27], который позволяет упростить учет граничных условий, единым образом рассмотреть резкие и плавные границы и быстрее приводит к поставленной цели.  [14]

Закономерности, используемые в рентгеноспектральном анализе, определяются процессами взаимодействия рентгеновского излучения с веществом. Характер взаимодействия в свою очередь зависит от энергии фотонов и химического состава вещества.  [15]



Страницы:      1    2    3