Взаимодействие - рентгеновское излучение
Cтраница 2
В фотоэлектронной спектроскопии, по существу, также исследуют вторичный эффект взаимодействия рентгеновского излучения или излучения в УФ области с веществом, анализируя распределение выбитых электронов по энергии. [16]
Для регистрации рентгеновских спектров могут использоваться вторичные эффекты, сопровождающие процесс взаимодействия рентгеновского излучения с веществом, например флуоресцентный рентгеноспектральный анализ, основанный на регистрации вторичного спектра флуоресценции под действием рентгеновских лучей; эмиссионный рентгеноспектральный анализ, при котором регистрируется рентгеновский спектр, возбужденный электронами; абсорбционный рентгеноспектральный анализ; радиоизотопы и др. Нашли применение дисперсионные методы анализа материалов. [17]
Метод двух ( трех) энергий непосредственно базируется на современной теории и аналитическом описании взаимодействия рентгеновского излучения с веществом в диапазоне энергий. При контроле в области до 1 022 МэВ ( метод двух энергий) отдельно учитывается вклад фотоэлектрического поглощения и комптоновского рассеяния. [18]
Метод двух ( трех) энергий непосредственно базируется на современной теории и аналитическом описании взаимодействия рентгеновского излучения с веществом в диапазоне энергий. При контроле в области до 1 022 МэВ ( метод двух энергий) отдельно учитывается вклад фотоэлектрического поглощения и комптоновского рассеяния. В области более высоких энергий ( метод трех энергий) дополнительно учитывается эффект образования пар электрон-позитрон. Для того чтобы дополнительной вычислительной обработкой выделить вклад каждого вида взаимодействия и в конечном счете сформировать независимые наборы проекций для отдельной реконструкции томограмм распределения электронной плотности и распределения эффективного атомного номера, необходимо каждую оценку проекции Рн ( / Ф Е) проводить при двух ( трех) неперекрывающихся спектрах энергий фотонов. [19]
Метод двух ( трех) энергий непосредственно базируется на современной теории и аналитическом описании взаимодействия рентгеновского излучения с веществом в диапазоне энергий. При контроле в области до 1 022 МэВ ( метод двух энергий) отдельно учитывается вклад фотоэлектрического поглощения и комптоновского рассеяния. [20]
В первой части этой статьи было описано действие а - и - частиц, во второй части будет рассмотрено взаимодействие рентгеновского излучения и - у-лучей с веществом. [21]
В первой главе изложены сведения о физических основах рентгеноспектрального анализа, рентгеновских спектрах, их происхождении и структуре, закономерностях взаимодействия рентгеновского излучения с веществом. Рассмотрены фотопоглощение, рентгеновская флуоресценция, когерентное и некогерентное рассеяния рентгеновского излучения. В главе даны основные аналитические зависимости рентгеноспектрального анализа, приведены факторы, определяющие точность и чувствительность определений. [22]
Мягкое у-излучение отличается от рентгеновского лишь природой возникновения, и его взаимодействие с веществом в рентгеновской области длин волн аналогично процессу взаимодействия рентгеновского излучения. Поэтому в дальнейшем, где это особо не оговаривается, речь будет идти только о рентгеновском излучении. [23]
Возможности управления рентгеновскими лучами с помощью той же техники, что применяется в более длинноволновом диапазоне, долгое время ограничивались как особенностями взаимодействия рентгеновского излучения с веществом, так и нашими возможностями создать стабильные многослойные структуры удовлетворительного качества. [24]
Конструктивные и схемные особенности другого подкласса атомно-физических анализаторов - аппаратов для рентгеноструктурного анализа - вытекают из назначения прибора - регистрации дифракционных картин взаимодействия рентгеновского излучения с веществом. [25]
В статье изложена история вопроса, рассмотрены методы получения многослойных искусственных структур ( МИС) на плоских и изогнутых поверхностях, освещены основные вопросы теории взаимодействия рентгеновского излучения с МИС. Поскольку сведения об экспериментальных результатах исследования изогнутых поверхностей ограничены, то мы сочли целесообразным включить подробное обсуждение вопросов допусков и точности их изготовления. Кроме того, в статье перечислены основные рентгено-оптические элементы с МИС. [26]
Специфичность взаимодействия рентгеновского излучения с веществом обусловливает отличие оптики рентгеновских лучей от оптики световых волн и электронов. [28]
Для всех рассмотренных до сих пор примеров немоноэнергетичность интенсивных источников рентгеновского излучения в ПРВТ была бесполезным помеховым фактором, влияние которого необходимо минимизировать. Однако с учетом известных особенностей взаимодействия рентгеновского излучения с веществом правомерна и, по-видимому, перспективна методика ПРВТ, базирующаяся на полезном использовании спектральной информации. Такой подход позволяет не только решить проблему коррекции ошибок немопоэнергетичности, но и развить од-нопараметровый метод ПРВТ с реконструкцией распределения ЛКО до мно-гопараметрового количественного контроля распределения плотности и состава материалов внутри промышленных изделий. [29]
Для всех рассмотренных до сих пор примеров немо-ноэнергетичность интенсивных источников рентгеновского излучения в ПРВТ была бесполезным помеховым фактором, влияние которого необходимо минимизировать. Однако с учетом известных особенностей взаимодействия рентгеновского излучения с веществом правомерна и, по-видимому, перспективна методика ПРВТ, базирующаяся на полезном использовании спектральной информации. Такой подход позволяет не только решить проблему коррекции ошибок немоноэнергетичности, но и развить однопараметровый метод ПРВТ с реконструкцией распределения ЛКО до многопараметрового количественного контроля распределения плотности и состава материалов внутри промышленных изделий. [30]
Страницы: 1 2 3