Панкратическая система

Cтраница 4

Фазово-контрастное устройство с одной кольцевой диафрагмой применяют в тех микроскопах, где имеется конденсор с панкрати-ческой системой. Изменяя фокусное расстояние панкратической системы осветителя, находят такое положение, при котором размер изображения кольцевой диафрагмы становится равным размеру фазового кольца. Для наблюдения структур препарата с большим градиентом оптической толщины применяют фазово-контрастное устройство КФ-5, характерное тем, что используемые в-его объективах фазовые пластинки представляют собой два концентрических фазовых кольца. [46]

Изложены методы расчета влияния отклонений параметров панкратических систем на расфокусировку и дан расчет допусков. Рассмотрены вопросы проектирования панкратических систем различного назначения. Приведены многочисленные примеры расчета параметров систем и параметры рассчитанных на ЭЦВМ систем. [47]

Ориентироваться в таком множестве панкратических снстеи затруднительно без строгой классификации существующих конструкций. Однако выдвигаемые авторами предложения о классификации панкратических систем, как правило, не охватывают всего их многообразия ( они в основном относятся к объективам с переменным фокусным расстоянием) и не могут считаться полными. [48]

ГОИ) разработана про грамма для ЭЦВМ Урал-2, которая позволяет провести аберра ционный расчет панкратической системы в области аберращп третьего порядка. С помощью этой программы составляются урав нения аберраций третьего порядка для системы с известными гаус совым элементами ( полученными в результате габаритного рас чета) и определяются оптимальные параметры Р, W, С компонен тов. Программа предназначена для расчета панкратических объек тивов и оборачивающих систем. [49]

Еще раз хотелось бы подчеркнуть следующее. Как показыва: результаты расчетов, наиболее перспективными с точки зрения г лучения больших перепадов увеличений М и меньших смете:: плоскости изображения Дтах являются панкратические системы линейной связью между перемещениями компонентов при перел точных отношениях, меньших единицы. Рекурентные формулы ( 9 просты и удобны для использования при расчете на ЭЦВМ. [50]

В настоящее время в связи с бурным развитием лазерной тех-ки телескопические системы находят широкое применение для еньшения расходимости выходящего из ОКГ излучения. В неко-рных приборах ( светолокационные лазерные дальномеры и др.) зникает необходимость в регулировании угла расходимости излу-ния, направляемого на объект, для более эффективного исполь-зания мощности излучения ОКГ. В лазерных дальномерах с мощью телескопической панкратической системы узконаправлен-й пучок света можно сконцентрировать на различные расстояния, пользуя практически всегда полностью всю энергию. [51]

Гопкинс [26, 27] показал, что в системе, состоящей из трех перемещающихся компонентов, можно добиться не только постоянства положений плоскостей предметов и изображений, но и такого же постоянства второй пары сопряженных плоскостей, в частности плоскостей входного и выходного зрачков. Это имеет большое значение, когда панкратическая система работает не самостоятельно, а за какой-нибудь другой системой постоянного увеличения. Так обстоит дело с фазово-коитрастиым микроскопом переменного увеличения. На рис. 111.35 приведена схема конструкции панкратической системы с 20-кратным перепадом, рассчитанная Гопкннсом для фазового микроскопа. [52]

Настоящая глава посвящена расчету гауссовых параметров систем переменного увеличения ( СПУ) с линейной связью между перемещениями компонентов. Эти необходимые при расчете требования не всегда бывают достаточными. При расчете часто ставят еще дополнительные условия ( заданная длина системы, изменение увеличения в заданном диапазоне PrSJP ps, минимальное значение оптических сил компонентов и др.), которым должна удовлетворять рассчитываемая панкратическая система. [53]

Универсальный исследовательский микроскоп Ну ( К. Цейсе, г. Иена. [54]

Большой универсальный исследовательский микроскоп Ну ( рис. 41) позволяет изучать объекты в проходящем и отраженном свете, в светлом и темном поле, методом фазового контраста, а также в свете люминесценции. Универсальность конструкции и сменные узлы позволяют применить микроскоп для поляризационных и металлографических работ. Наличие трех источников света ( лампа накаливания, ксеноновая и ртутная лампы) дает возможность в больших пределах изменять освещенность объекта. Большое удобство представляет панкратическая система для плавного изменения окулярного увеличения. Микроскоп имеет встроенный экспонометр и установленную сверху фотонасадку. В отличие от широко распространенных фазово-контрастных устройств здесь в конденсоре для фазового контраста применены не одна, а две кольцевые концентричные диафрагмы, а в объективах - по два концентричных фазовых кольца. Кольцевые диафрагмы конденсора открываются либо обе сразу, либо только внутренняя. [55]

Основная проблема, связанная с исправлением аберраций лин -) вой системы с переменным фокусным расстоянием, возникает: ледствие того, что такая система должна работать в конечном нтервалс фокусных расстояний. Очевидно, что свести до нуля беррации во всем этом интервале невозможно. Лучшее, что может ыть сделано. Ясно, что число точек, в оторых аберрации будут иметь заданные значения, зависит от пела компонентов в передней части панкратической системы. [56]

Страницы: 1 2 3 4