Кристаллографическая система - координата
Cтраница 2
В высшей и средней категориях и в ромбической сингонии ориентировка характеристической поверхности полностью задается кристаллографической системой координат. Значительно сложнее обстоит дело с моноклинной и три-клинной сингониями, где главные оси характеристической поверхности могут и не совпадать с кристаллографической системой координат. [16]
Расположим лабораторную систему координат xyz таким образом, что ось z перпендикулярна плоскости пластины одноосного сегнетоэлектрика, а ось у перпендикулярна оси спонтанной поляризации. Кристаллографическая система координат х у z имеет ось 2 /, параллельную оси спонтанной поляризации РСЬ направления осей у и у совпадают. [17]
 |
Формы кристаллов кварца. [18] |
Для описания строения кристалла в кристаллографии пользуются специальными системами координат. В качестве осей координат берут оси симметрии ( см. ниже), а если таковые отсутствуют, проводят оси координат параллельно ребрам кристалла. Начало координат делит пополам участки осей, находящиеся внутри кристалла. Кристаллографические системы координат часто бывают непрямоугольными. [19]
 |
Различные формы кристаллов кварца. [20] |
В кристаллографии пользуются специальными системами координат, которые располагают в рассматриваемом кристалле по определенным правилам. Они в основном сводятся к тому, что в качестве осей координат берут оси симметрии ( см. стр. Начало координат делит пополам участки осей, находящиеся внутри кристалла. Кристаллографические системы координат часто бывают непрямоугольными. [21]
Страницы: 1 2