Скол - кристалл
Cтраница 2
 |
Выявление при декорировании хлористым серебром памяти р - га-перехода на контактной стороне углеродной пленки, отделенной от поверхности монокристалла кремния. [16] |
Для прямого подтверждения существования термоэлектретного механизма дальнодействия в качестве аморфных граничных слоев были использованы пластические пленки, обладающие ( поливинилхлорид) и не обладающие ( нитроцеллюлоза) термоэлектретными свойствами. В качестве электрически активных поверхностей применялись поверхности сколов кристаллов NaCl и слюды, причем часть кристаллов с нанесенными на них пленками прогревалась выше температуры размягчения пленок. [17]
 |
Энергетический рельеф поверхности. твердого вещества. [18] |
Природа активных центров поверхностей твердых и газообразных частиц в промывочных жидкостях различна. В минеральных компонентах она обусловлена, например, сколами кристаллов, координационно не насыщенными атомами. [19]
Марр и Инмен [100, 101] также сообщили о существенном улучшении степени ориентации и укрупнении кристаллов в пленках золота, серебра, никеля и алюминия при росте в сверхвысоком, вакууме по сравнению с конденсацией в обычных условиях, но во всех этих работах подложки скалывали на воздухе. Хонма и Уэйман [102] обнаружили, что эпитаксиальные пленки с хорошей структурой образуются лишь при давлении остаточных газов менее 10 - 6 мм рт. ст. независимо от того, производили ли скол кристаллов NaCl и KG1 на воздухе или в вакууме. [20]
Второе свойство графита, которое используется при дальнейшей обработке его, это химическая анизотропия. Было установлено [2], что на ребрах кристалла кислород взаимодействует в 1013 раз быстрее, чем на гранях. Поверхности скола кристалла заметно не взаимодействуют с травителем вплоть до температуры 700 С, если на них отсутствуют вакансии или какие-либо другие дефекты. [21]
Значит, такие атомы наиболее подвижны и обогащены энергетически. Чрезвычайно сильное влияние на свойства поверхности оказывает, например, полировка. Поверхностная энергия чистого скола кристалла обычно ниже энергии его шлифованной поверхности. В результате же полировки на поверхности образуется аморфный слой конечной толщины. Бейльби [7] обнаружил, что такие слои напоминают пленки вязких жидкостей - они затекают в неровности, трещины и царапины. Затем Райзер [57] показал, что слой Бейльби являются микрокристаллическими, но размер этих микрокристалликов ничтожно мал. Данный факт в сильной степени напоминает явление дробления масштабов иерархичной самоподобной структуры при нагружении ( подаче энергии) извне выше определенного порога в каждом отдельном случае при переходе с масштаба на масштаб. [22]
Надо полагать, что мертвые зоны представляют собой нейтральные участки поверхности кристаллов. Эти зоны, естественно, и наименее реак-ционноспособны: атомы или молекулы осаждающихся веществ, не задерживаясь на этих зонах, мигрируют к наиболее активным заряженным участкам поверхности. В качестве примера на рис. 6 приведена картина кристаллизации AgCl на поверхности скола кристалла NaCl, когда кристаллы AgCl не образуются ни на ступени скола, ни в мертвой зоне около нее. Этот снимок еще раз иллюстрирует значение электрического рельефа поверхности твердых тел для гетерогенных процессов. В данном случае ступень скола не является активной, поскольку она, по-видимому, электрически нейтральна. [23]
Связь между слоями в структуре хлорита помимо молекулярных сил осуществляется достаточно сильным электростатическим взаимодействием отрицательно заряженных слюдоподобных слоев с расположенными между ними положительно заряженными бруситовыми слоями. Кроме того, между атомами кислорода тетраэдрической сетки слюдоподобного слоя и водородом гидроксильной группы ОН бруситового слоя могут возникнуть водородные связи. Все это придает структуре жесткость и обусловливает постоянство основного межплоскостного расстояния - 1 43 нм. Этим объясняется тот факт, что основными активными поверхностями хлорита являются разорванные связи боковых сколов кристаллов и их внешние базальные поверхности. Поэтому по энергетическому состоянию и активности в физико-химических процессах хлорит стоит близко к гидрослюде. [24]
Между дисками устанавливается изолирующая прокладка 3 из арсенида галлия. Прилегающие к кристаллу поверхности дисков тщательно отполированы для улучшения теплового и электрического контактов с кристаллом. Контактирующие поверхности самого кристалла покрываются для уменьшения контактного сопротивления специальным сплавом на основе индия. Торцы кристалла тщательно отполированы и представляют собой поверхности резонатора Фабри-Перо. Чаще всего их получают путем простого скола кристалла вдоль кристаллографической плоскости, что обеспечивает получение идеально ровных и одновременно параллельных поверхностей. Иногда для увеличения коэффициента отражения на поверхности скола дополнительно напыляют серебряное покрытие. [25]
В качестве материала для окошек кювет наиболее употребительны NaCl и КВг, однако их гигроскопичность приводит к ряду затруднений. Как одинарные окошки, так и неразборные кюветы, состоящие из двух окошек с прокладкой между ними, в конце концов в процессе использования мутнеют. Достаточно небольшого содержания воды в исследуемом веществе и органическом растворителе или высокой влажности воздуха ( в том случае, если осушитель не работает), чтобы рано или поздно даже при тщательном уходе окошки помутнели. Готовые окошки определенной толщины имеются в продаже. Однако многие спектроскописты предпочитают заказывать пластины из соли, представляющие собой просто сколы кристаллов, и самостоятельно приготовлять окошки требуемого размера и отполировывать их до нужной степени. Иногда требуются очень тонкие пластины; может оказаться также более экономичным расколоть сильно испорченное окошко и реставрировать его, скажем, в половинную толщину, чем переполировывать такое окошко. Поэтому полезно знать, как раскалывают пластины из соли. [26]
Повышенная скорость растворения материала может быть связана с упругими искажениями решетки кристалла вблизи дислокации, а также с повышенной концентрацией примесных атомов, изменяющей хим. состав материала вблизи ядра дислокаций. Иногда примеси замедляют преимущественное растворение, уменьшая искажения решетки. Полнота выявления дислокаций зависит от количества и природы примесей в кристалле, состава травителя, режима травления, кристаллографической ориентации исследуемой поверхности, типа дислокации, угла выхода дислокации на поверхность, термической обработки материала ( дислокации свежие или остаренные) и др. Иногда фигуры травления возникают в местах, где дислокаций нет, напр. Для каждого материала тра-витель подбирают отдельно, убеждаясь в том, что ямки травления соответствуют местам выхода дислокаций. Для этого достаточно одного из следующих условий: результаты травления и выявления дислокаций каким-либо методом в объеме образца должны совпадать ( см. Электронно-микроскопический анализ, Рентгено-топографический анализ, Декорирование); на двух поверхностях скола кристалла распределение ямок травления должно быть зеркальным отражением друг друга; если цепочка ямок травления образует субгрэницу и можно определить угол разориента-ции ( напр. Ямки травления изучают, как правило, с помощью оптического металлографического микроскопа. [27]
Зернистость ограничивает возможности методов оттенения и реплик, так как очевидно, что нельзя с уверенностью обнаружить детали структуры объекта, которые по своим размерам сопоставимы с размерами агрегатов в напыленных слоях. Размытость теней из-за зернистости слоя также устанавливает предел точности определения высоты объектов в методе оттенения. Поэтому возникла необходимость детального изучения зернистости напыленных слоев применительно к целям электронно-микроскопического исследования. В этом направлении сделаны пока только первые шаги. Сложность задачи обусловливается большим числом факторов, влияющих на структуру напыленных слоев. К сожалению, исследователи нередко недоучитывают это обстоятельство и проявляют склонность абсолютизировать результаты, полученные ими для частного случая. В качестве примера на фото 12 приведены микрофотографии тонких слоев различных материалов ( рассчитанная толщина слоя составляла 2 иг / см), полученных Фуками [63] напылением на поверхность скола кристалла каменной соли. Автор отмечает отсутствие зернистости в слоях углерода, агрегаты размером 30 - 50 А имеются в слоях палладия и урана и 20 - 30 А - в слоях платины и родия. Наилучшие результаты для тяжелых металлов дает сплав платины и палладия, взятых в отношении 4: 1, который автор и рекомендует для получения предварительно оттененных реплик. [28]
Страницы: 1 2