Cтраница 1
![]() |
Зависимости скорости роста восстанавливающейся прочности K - z от отключаемого тока при разных частотах источника.| Зависимость t / B. n от тока для разных контактных материалов. [1] |
Смещение минимума в кривой / Cs / ( / о) в сторону начала координат с ростом частоты может быть обосновано тем, что при возросшей частоте снижается ток, при котором электродинамические силы начинают оказывать существенное влияние на процесс гашения дуги. При высокой частоте первый переход тока через нуль имеет место при малом расстоянии между контактами, так как за короткое время, равное продолжительности полупериода тока, контакты не успевают разойтись на значительное расстояние. [2]
Определяем смещение минимума при закорачивании линии в длине волн IIK, причем замечаем, куда свдинулся минимум - к генератору или к нагрузке. [3]
Величина смещения минимумов термов превышает амплитуду осцилляторов. [4]
![]() |
Зависимость угла потерь конденсаторов от частоты. справа. [5] |
Легко заметить смещение минимума tg б в сторону высоких частот при снижении номинальной емкости конденсаторов. Повышение угла потерь в области низких частот, где преобладают диэлектрические потери при снижении номинальной емкости, объясняется в данном случае влиянием потерь в паразитных емкостях. [6]
Таким образом, смещение минимума на кривой число пор - плотность тока в сторону низких плотностей тока обусловлено тем, что только при низких значениях плотностей тока получаются более плотные и равномерные осадки. [7]
![]() |
Схема измерения.| Измерение добротности ре. [8] |
Последнее определяется по направлению смещения минимума частотной кривой 1тГ относительно резонансной частоты при малых перемещениях поршня Яь Извл. [9]
![]() |
Схема измерительного лучеводиого интерферометра Майкельсона.| Орграф интерферометра Майкельсона. [10] |
Фаза коэффициента отражения определяется по смещению минимума интерференции, получаемого с измеряемым объектом в сравнении с мерой отражения - металлическим зеркалом. Измерения с помощью ИМ можно осуществлять либо с изотропным, либо с линейно анизотропным измеряемым объектом, одна из осей анизотропии которого совпадает с плоскостью поляризации волны. Возможны различные варианты осуществления ИМ. [11]
Пунктиром на указанном рисунке показано направление смещения минимума в зависимости от содержания щелочи в поглотительном растворе. С повышением его концентрации критическая точка сдвигается, как видим, в сторону меньших диаметров. [12]
![]() |
Смещение интерференционной картины при изменении антенного промежутка. [13] |
При регистрации фазы на диаграмме самописца величина фазового сдвига определяется по смещению минимума или максимума кривой распределения интенсивности сигнала в зависимости от типа фазовращателя или от величины антенного промежутка опорного плеча. На рис. 4.9 показано это распределение. [14]
С уменьшением скорости деформации наблюдается резкое понижение деформационной пластичности стали со смещением минимума V-кривых в сторону более низких температур. [15]