Cтраница 2
Наибольшее количество публикаций посвящено разработке пленочных преобразователей на основе сульфида кадмия. Слои сульфида кадмия обычно наносятся методом вакуумного испарения на разогретые прозрачные подложки, покрытые слоем двуокиси олова. Толщина полупроводниковых слоев составляет 1 - 2 мкм. Эти слои и без дополнительной обработки обладают повышенной электропроводностью ( порядка 10 - 2 ом-1 см-1) за счет избытка кадмия. В ряде случаев используются пленки сульфида кадмия, легированные галогенами. [16]
При определении металлов рекомендованным методом [59- 61] после введения носителей их отделяют в растворе от матричных элементов, экстрагируя диэтилдитиокарбаминаты в хлороформ. Раствор помещают в верхнюю часть колонки, в которой находится раствор 2п ( ДДКЬ в хлороформе. Кадмий, медь, серебро и ртуть вытесняют цинк из его карбамината, находящегося в верхней части колонки, а цинк в результате изотопного обмена распределяется вдоль всего объема колонки. Марганец, кобальт и железо проходят через колонку и могут быть определены в элюате. Колонку промывают водой и удаляют из нее весь цинк; для этого через колонку пропускают 25 % - ный избыток кадмия. [17]
Проследим охлаждение одного из неэвтектических сплавов. Охлаждаясь до 300 С, сплав остается жидким. Начиная с этой температуры, в сплаве появляются первые кристаллы твердого кадмия. При дальнейшем охлаждении сплава продолжается кристаллизация кадмия. Одновременно с этим содержание кадмия в жидкой части уменьшается. При дальнейшем понижении температуры концентрация насыщения уменьшается, а избыток кадмия выпадает в виде кристаллов. [18]
Комарицкая [ 61 ( 17) ] осаждает ларусан ацетатом кадмия и определяет металл в осадке. Метод применяют для определения фармацевтических препаратов в порошке и таблетках. Кастильони [ 57 ( 48) ] осаждает пиридин хлоридом кальция в сильноспиртовом растворе и затем определяет содержание кадмия в осадке. Метод пригоден для быстрого определения пиридина в денатурированном спирте. Осаждение с помощью иодида кадмия ввел Будешински [ 57 ( 56) ] для определения различных четвертичных аммониевый оснований. Зайцев [ 57 ( 112) ] использует этот метод для определения солянокислого хинина, обратно титруя в фильтрате избыток кадмия. [19]